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產(chǎn)品資訊

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噪聲分析儀紡織檢測儀器 Toc分析儀 PT-303紅外測溫儀轉(zhuǎn)矩測試儀繼電保護(hù)試驗(yàn)儀定氮儀

蘇州天儀科創(chuàng)機(jī)電科技有限公司
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產(chǎn)品圖片	產(chǎn)品名稱/型號	產(chǎn)品簡單介紹
	觸碰面板多點(diǎn)半自動測試機(jī) Model 3813	Model 3813 觸碰面板多點(diǎn)半自動測試機(jī)
	SD Card 測試分類機(jī) Model 3280	Chroma 3280整合了測試機(jī)臺與自動分類機(jī)的功能，并采用**的設(shè)計(jì)，滿足采用KGD生產(chǎn)的SD 卡類產(chǎn)品的測試需求，不論是在機(jī)臺的成本或是體積上，都比傳統(tǒng)的測試機(jī)臺來的大幅降低，因此也就能夠相對地大幅降低測試的成本。
	自動化系統(tǒng)功能測試機(jī) Model 3260	Chroma 3260以并排平行方式，進(jìn)行測試。在高溫下具有自動溫度冷卻(ATC)功能，其范圍從攝氏50度到125度可測試1至6個測試座。
	自動化系統(tǒng)功能測試機(jī) Model 3240	Chroma 3240以并排平行方式，進(jìn)行測試。在高溫下具有自動溫度冷卻(ATC)功能，其范圍從攝氏50度到125 度可測試1至4個測試座。
	終端測試分類機(jī) Model 3160	3160/3160-A有著高可靠性的處理機(jī)制可依據(jù)測試需求支援各種不同類型封裝的晶片，且能與通用生產(chǎn)治具相容，順暢的自動化技術(shù)滿足高產(chǎn)能和低Jam Rate的量產(chǎn)要求。此外，可調(diào)式的壓測力和位置校正以及各種感應(yīng)裝置可降低待測物發(fā)生突如其來的損壞，和幫助延長socket的使用期，同時(shí)保持或提升產(chǎn)能的良率。
	四象限直流電源供應(yīng)模塊 Model 36020	應(yīng)用范圍 Logic and mixed signal validation and test Consumer IC and electronics test DUT Power Supply
	可程控邏輯腳位模塊 Model 36010	應(yīng)用范圍 Logic and mixed signal validation and test Digital pattern generator and vector capture Consumer IC and electronics test Logic test subsystem for DC and RF ATE
	SoC 測試系統(tǒng) Model 3650	平行測試功能 Chroma 3650可在一個測試頭中，提供多512 個數(shù)位通道，并具備高產(chǎn)能的平行測試功能，高可同時(shí)測試32 個待測晶片，以提升量產(chǎn)效能。在Chroma 3650中，每片單一的LPC板擁有 64個數(shù)位通道，并結(jié)合具備高效能基礎(chǔ)的Pin Function (PINF) IC，每一顆 PINF IC 具備4 個數(shù) 位通道的時(shí)序產(chǎn)生器，以提供50ps 以內(nèi)的精準(zhǔn) 度。
	VLSI 測試系統(tǒng) Model 3380-P	Model 3380-P VLSI 測試系統(tǒng)
	VLSI 測試系統(tǒng) Model 3360	Model 3360 VLSI 測試系統(tǒng)
	VLSI 測試系統(tǒng) Model 3360-P	Model 3360-P VLSI 測試系統(tǒng)
	VLSI 測試系統(tǒng) Model 3360-D	Model 3360-D VLSI 測試系統(tǒng)
	光伏自動化生產(chǎn)設(shè)備 Model MAS 光伏自動化生產(chǎn)設(shè)備	CIM的數(shù)據(jù)整合：提供PLC數(shù)據(jù)的LOG文件傳輸，將生產(chǎn)的數(shù)據(jù)作整合，讓客戶的CIM能作有效的分析及作有效率的改善，讓產(chǎn)線的良率及產(chǎn)能作更好的提升
	光伏電池片背面印刷暨表面臟污檢測機(jī) Model 7213-AD	光伏電池片的背面印刷瑕疵可能會造成外觀瑕疵或者可靠度表現(xiàn)上的**影響。在所有的背面印刷瑕疵之中，非正常絲網(wǎng)印刷過程所產(chǎn)生的鋁凸，將會在模組封裝過程之中造成極高的破損率。Chroma 7213-AD背面印刷暨表面檢測機(jī)應(yīng)用了特殊光源設(shè)計(jì)來偵測常見的背面印刷瑕疵，甚至是鋁凸瑕疵。
	光伏電池片正面印刷暨表面臟污檢測機(jī) Model 7212-HD	光伏電池片的正面印刷瑕疵可能會造成外觀瑕疵或者可靠度表現(xiàn)上的*影響。因此，像是"主柵線的銀漿缺失"、"柵線斷柵"、"印刷偏移"、"水痕"等，皆需要透過可信賴且高準(zhǔn)確性的光學(xué)檢測儀器(AOI)來進(jìn)行篩選，以保持出貨電池片的高品質(zhì)
	光伏電池片顏色分選機(jī) Model 7211-D	Chroma 7211-D是為了提供高度重復(fù)性的電池片分色結(jié)果而設(shè)計(jì)的。由于使用了CIE 1931 Lab的色彩空間以及將電池片分割成至多60X60的顏色檢測區(qū)域，7211-D可以提供將近3600個區(qū)域的顏色資訊，供顏色分選時(shí)候的參數(shù)設(shè)定使用。透過各種顏色資訊以及使用者自訂的分色方法，即使是像多晶時(shí)候的非均勻顏色分布，或者是非均勻的抗反色層厚度，都可以被精準(zhǔn)的定義出來
	光伏硅片線鋸痕檢測機(jī) Model 7231	切割線鋸痕是由于切割時(shí)候的雜質(zhì)影響或者是切割線振動所造成的。有時(shí)候發(fā)生在邊緣而也有可能發(fā)生在硅片中間的位置。由于Chroma使用EN 50513 2009的檢測手法來進(jìn)行光學(xué)設(shè)計(jì)，所以即使是發(fā)生在硅片中央位置的切割線鋸痕，也可以正確檢測無誤。
	光伏硅片品質(zhì)檢測機(jī) Model 7202	為了提供*高重復(fù)性的晶格尺寸檢測結(jié)果，Chroma在7202上頭使用了獨(dú)特的光學(xué)設(shè)計(jì)來強(qiáng)化晶格特征。而當(dāng)晶格尺寸可以被量化之后，分類好的硅片就可以套用于不同的生產(chǎn)工藝，拿來在不同的電池片生產(chǎn)線進(jìn)行生產(chǎn)，藉以提高電池片生產(chǎn)時(shí)候???平均轉(zhuǎn)換效率。
	光伏硅片外觀暨表面臟污檢測機(jī) Model 7201	Chroma 7201可用來檢測硅片長度、寬度、對角線、邊緣夾角、導(dǎo)角尺寸以及導(dǎo)角角度等，同時(shí)也可以檢測表面瑕疵。設(shè)計(jì)完善的軟體以及操作介面可供使用者設(shè)定不同的檢測參數(shù)來達(dá)到檢測結(jié)果，同時(shí)也提供瑕疵顯示以及儲存功能來留待日后進(jìn)行MES/CIM的分析以及整合。
	series 光伏電池與模塊 I-V 測試系統(tǒng) Model 53310	I-V 測試是各式 P V 技術(shù)中，包括晶矽電池/ 模組、Si-base、 CIGS、CdTe、TF 模組、GaAs-base 多接點(diǎn)電池等中*常用的測試。在各種不同的光伏電池技術(shù)中，僅有的兩個差異為 : 日光模擬光源的照射區(qū)和強(qiáng)度，以及 I-V 測試儀電壓/電流和功率范圍。