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噪聲分析儀紡織檢測(cè)儀器 Toc分析儀 PT-303紅外測(cè)溫儀轉(zhuǎn)矩測(cè)試儀繼電保護(hù)試驗(yàn)儀定氮儀

蘇州天儀科創(chuàng)機(jī)電科技有限公司
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首頁?>?產(chǎn)品目錄?>?Chroma?>?半導(dǎo)體/IC測(cè)試解決方案

產(chǎn)品圖片	產(chǎn)品名稱/型號(hào)	產(chǎn)品簡(jiǎn)單介紹
	半導(dǎo)體測(cè)試機(jī) 58173-V	致茂58173-V半導(dǎo)體測(cè)試機(jī)適合用于可見光或紅外光通訊用面射型激光半導(dǎo)體測(cè)試，依照選擇不同的光偵測(cè)器即可符合不同波長(zhǎng)的半導(dǎo)體激光測(cè)試。
	面射型激光半導(dǎo)體測(cè)試機(jī) Model 58173-V	致茂根據(jù)在LED晶圓特性檢測(cè)設(shè)備上豐富的經(jīng)驗(yàn)，提供*新一代58173-V面射形激光晶圓的檢測(cè)設(shè)備，保有LED上高速測(cè)試，高可靠度與可編程的優(yōu)勢(shì)，并考慮半導(dǎo)體激光使用特性，加入溫控平臺(tái)提供高低溫的環(huán)境更符合使用者真實(shí)使用情況。
	激光半導(dǎo)體特性測(cè)試機(jī) Model 58620	激光半導(dǎo)體為高科技產(chǎn)品，價(jià)格不斐，多數(shù)使用于光通訊/醫(yī)療/國防等領(lǐng)域，并與人類社會(huì)息息相關(guān)。傳統(tǒng)的激光半導(dǎo)體因價(jià)格高昂，可靠性要求程度極高，需要大量的人工與時(shí)間來進(jìn)行光路調(diào)整(Alignment)測(cè)試與封裝后的檢測(cè)。
	燒機(jī)測(cè)試系統(tǒng) Model 58601	燒機(jī)-可靠度&老化測(cè)試致茂58601是ㄧ提供高密度高精度多通道SMU，溫度控制與可符合不同光電半導(dǎo)體?？晒┌l(fā)光二極體，雷射半導(dǎo)體，光電偵測(cè)器與其他半導(dǎo)體使用。每個(gè)模組*高可測(cè)試80組獨(dú)立SMU，可提供待測(cè)物電流與偏壓并量測(cè)之。
	影像傳感器檢測(cè)系統(tǒng) Model 7970	Chroma 7970 影像傳感器檢測(cè)系統(tǒng)為一自動(dòng)化載盤式外觀檢測(cè)系統(tǒng)。系統(tǒng)主要可分為5個(gè)部份：載盤載入?yún)^(qū)、錫球面檢測(cè)區(qū)、玻璃面檢測(cè)區(qū)、分類區(qū)與載盤載出區(qū)。每一個(gè)站點(diǎn)都可同步進(jìn)行作業(yè)，以增加整體檢測(cè)速度。
	觸碰面板多點(diǎn)半自動(dòng)測(cè)試機(jī) Model 3813	Model 3813 觸碰面板多點(diǎn)半自動(dòng)測(cè)試機(jī)
	SD Card 測(cè)試分類機(jī) Model 3280	Chroma 3280整合了測(cè)試機(jī)臺(tái)與自動(dòng)分類機(jī)的功能，并采用**的設(shè)計(jì)，滿足采用KGD生產(chǎn)的SD 卡類產(chǎn)品的測(cè)試需求，不論是在機(jī)臺(tái)的成本或是體積上，都比傳統(tǒng)的測(cè)試機(jī)臺(tái)來的大幅降低，因此也就能夠相對(duì)地大幅降低測(cè)試的成本。
	自動(dòng)化系統(tǒng)功能測(cè)試機(jī) Model 3260	Chroma 3260以并排平行方式，進(jìn)行測(cè)試。在高溫下具有自動(dòng)溫度冷卻(ATC)功能，其范圍從攝氏50度到125度可測(cè)試1至6個(gè)測(cè)試座。
	自動(dòng)化系統(tǒng)功能測(cè)試機(jī) Model 3240	Chroma 3240以并排平行方式，進(jìn)行測(cè)試。在高溫下具有自動(dòng)溫度冷卻(ATC)功能，其范圍從攝氏50度到125 度可測(cè)試1至4個(gè)測(cè)試座。
	終端測(cè)試分類機(jī) Model 3160	3160/3160-A有著高可靠性的處理機(jī)制可依據(jù)測(cè)試需求支援各種不同類型封裝的晶片，且能與通用生產(chǎn)治具相容，順暢的自動(dòng)化技術(shù)滿足高產(chǎn)能和低Jam Rate的量產(chǎn)要求。此外，可調(diào)式的壓測(cè)力和位置校正以及各種感應(yīng)裝置可降低待測(cè)物發(fā)生突如其來的損壞，和幫助延長(zhǎng)socket的使用期，同時(shí)保持或提升產(chǎn)能的良率。
	四象限直流電源供應(yīng)模塊 Model 36020	應(yīng)用范圍 Logic and mixed signal validation and test Consumer IC and electronics test DUT Power Supply
	可程控邏輯腳位模塊 Model 36010	應(yīng)用范圍 Logic and mixed signal validation and test Digital pattern generator and vector capture Consumer IC and electronics test Logic test subsystem for DC and RF ATE
	SoC 測(cè)試系統(tǒng) Model 3650	平行測(cè)試功能 Chroma 3650可在一個(gè)測(cè)試頭中，提供多512 個(gè)數(shù)位通道，并具備高產(chǎn)能的平行測(cè)試功能，高可同時(shí)測(cè)試32 個(gè)待測(cè)晶片，以提升量產(chǎn)效能。在Chroma 3650中，每片單一的LPC板擁有 64個(gè)數(shù)位通道，并結(jié)合具備高效能基礎(chǔ)的Pin Function (PINF) IC，每一顆 PINF IC 具備4 個(gè)數(shù) 位通道的時(shí)序產(chǎn)生器，以提供50ps 以內(nèi)的精準(zhǔn) 度。
	VLSI 測(cè)試系統(tǒng) Model 3380-P	Model 3380-P VLSI 測(cè)試系統(tǒng)
	VLSI 測(cè)試系統(tǒng) Model 3360	Model 3360 VLSI 測(cè)試系統(tǒng)
	VLSI 測(cè)試系統(tǒng) Model 3360-P	Model 3360-P VLSI 測(cè)試系統(tǒng)
	VLSI 測(cè)試系統(tǒng) Model 3360-D	Model 3360-D VLSI 測(cè)試系統(tǒng)