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蘇州天儀科創(chuàng)機(jī)電科技有限公司
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產(chǎn)品簡(jiǎn)單介紹
C測(cè)試儀
3501
C測(cè)試儀 16當(dāng)量程涵蓋了從300 pF到10,000 μF的范圍 單按鍵操作 與一般測(cè)量功能不同,它還能用DC測(cè)量電容—無(wú)偏差測(cè)量極性電容 兩種類(lèi)型連接治具可以處理所有尺寸的電容
LCR測(cè)試儀
3511-50
LCR測(cè)試儀 精巧,非常專(zhuān)業(yè),5ms快速測(cè)量LCR 高速測(cè)量:5ms(1kHz)或13ms(120Hz) 高精度: ± 0.08% 內(nèi)置比較器
LCR測(cè)試儀
3522-50
LCR測(cè)試儀 低價(jià)及更好的功用和性能 DC, 1 mHz~100 kHz更寬范圍的測(cè)量頻率 5ms高速測(cè)量的LCR計(jì) 寬頻量程(DC或1mHz~100kHz) 測(cè)量14種參數(shù)(高分辨率和高精度) DC電阻測(cè)量
LCR測(cè)試儀
3532-50
LCR測(cè)試儀 搭配寬幅測(cè)試頻率的阻抗測(cè)試儀 測(cè)試頻率可在42Hz~5MHz寬廣頻率量程內(nèi)以4位**度自由調(diào)整可很容易地測(cè)試被測(cè)物在高頻量程內(nèi)的特性。操作非常簡(jiǎn)便,改變?cè)O(shè)置時(shí)通過(guò)觸模屏幕,所需的設(shè)定選項(xiàng)會(huì)順序排列顯示出來(lái)
電阻計(jì)
3541
電阻計(jì) 寬量程、高分辨率、適用于系統(tǒng)測(cè)試的電阻計(jì) 廣范圍測(cè)量 *低0.1μΩ(20.00mΩ),*高110MΩ 快速采樣,*快可達(dá)0.6ms (*根據(jù)設(shè)定條件的不同,會(huì)有差異) 補(bǔ)正偏置電壓,用9451(Pt)/溫度探頭進(jìn)行溫度補(bǔ)正功能 運(yùn)用4端子測(cè)量技術(shù),測(cè)試線接觸電阻可忽略不計(jì) 具備統(tǒng)計(jì)、演算功能。若再另配選件的9670,可達(dá)到印字功能
微電阻計(jì)
3540
微電阻計(jì) 提供可選手動(dòng)測(cè)試或系統(tǒng)應(yīng)用測(cè)試 4端子方法測(cè)量mΩ電阻(快速100ms響應(yīng)) 比較器功能*多存儲(chǔ)7組表格 溫度補(bǔ)償功能,測(cè)量溫度并根據(jù)銅來(lái)計(jì)算20℃以下的對(duì)應(yīng)值。 微電阻計(jì)
磁場(chǎng)測(cè)試儀
FT3470-50
FT3470-50磁場(chǎng)測(cè)試儀的特點(diǎn)是符合2010年國(guó)際非電離輻射防護(hù)委員會(huì)的準(zhǔn)則,測(cè)量出具體的暴露等級(jí)。用戶(hù)可以根據(jù)自己的需要選擇兩個(gè)規(guī)格的傳感器。簡(jiǎn)單的操作確保了即使是**次使用的人也可以自主操作,此儀器可用于測(cè)試不同規(guī)格,并且能夠顯示多級(jí)機(jī)組(T,A / M和G)。
電容測(cè)試儀
3506
電容測(cè)試儀 3506與3505繼承了3504獲得好評(píng)的高速檢查與測(cè)量值分類(lèi)BIN功能,是可對(duì)低容量電容器實(shí)現(xiàn)穩(wěn)定測(cè)量精度并符合市場(chǎng)要求的產(chǎn)品。
超絕緣計(jì)
SM-8216
超絕緣計(jì)SM-8216 測(cè)試電壓:DC 10-1000V(7檔量程) 測(cè)試量程:0.05-2×107MΩ(6檔量程) LCD數(shù)字/模擬顯示,DC 10-1000V 和用于批準(zhǔn)出口產(chǎn)品的絕緣電阻表兼容 具備充放電功能(standard spec) 具備HV-EN功能(standard spec) 適合測(cè)量電極和其他設(shè)備的多個(gè)樣品類(lèi)型 選件中有警報(bào)系統(tǒng)可選
超絕緣計(jì)
SM-8213
超絕緣計(jì)SM-8213 測(cè)試電壓:DC 5-100V(6檔量程) 測(cè)試量程:0.025-2×106MΩ(6檔量程)Ω LCD數(shù)字/模擬顯示 低電阻絕緣表:DC 5-100V 具備充放電功能(standard spec) 具備時(shí)鐘、遠(yuǎn)程啟動(dòng)器、比較器&HV-EN功能(standard spec) 作為測(cè)試供電電源的電流輸出:約50mA 適合測(cè)量電極和其他設(shè)備的多個(gè)樣品類(lèi)型
超絕緣計(jì)
SM-8220
超絕緣計(jì)SM-8220 測(cè)試電壓:DC 10-1000V(7檔量程) 測(cè)試量程:0.05-2×1010MΩ(9檔量程) LCD數(shù)字/模擬顯示 適用于測(cè)量高至低電壓&電阻負(fù)載 具備時(shí)鐘、遠(yuǎn)程啟動(dòng)器、比較器&HV-EN功能(standard spec) 適合測(cè)量電極和其他設(shè)備的多個(gè)樣品類(lèi)型
數(shù)字超絕緣計(jì)/微小電流計(jì)
DSM-8104
數(shù)字超絕緣計(jì)/微小電流計(jì)DSM-8104 測(cè)試電壓 : DC 0.1 - 1,000 V 測(cè)試量程 : 1 x 107 - 3 x 1016 Ω 也能高速、高精度測(cè)量容性、高絕緣物的絕緣電阻 電流的*高分辨率為0.1fA 顯示測(cè)量結(jié)果的柱狀圖 標(biāo)配GP-IB, RS-232, Handler 接口 測(cè)量電極類(lèi)的各種測(cè)量物
超絕緣計(jì)
SM7810
超絕緣計(jì)SM7810適用于測(cè)量MLCC(疊加陶瓷電容器)的泄漏電流的理想測(cè)試系統(tǒng) *快測(cè)量MLCC泄漏電流速度6.8ms,8ch同步測(cè)量 通過(guò)大電流量程(1mA)高速測(cè)量高電容量MLCC的泄漏電流 通過(guò)接觸檢查功能提高了檢查的信賴(lài)性 各通道個(gè)別設(shè)置,可構(gòu)筑靈活多變系統(tǒng)
數(shù)字多用表
3237-01
數(shù)字多用表3237-01高速數(shù)字多用表(3.3ms/采樣點(diǎn)),將時(shí)序控制響應(yīng)時(shí)間減至*小,經(jīng)濟(jì)型 采樣速率高達(dá)300次/s(3.3ms/樣點(diǎn)) 比較器功能提供高速合格/不合格評(píng)估 配備外部輸入輸出用于時(shí)序控制 有用的存儲(chǔ)/調(diào)用功能,加快測(cè)量過(guò)程 外部接口支持遠(yuǎn)程操作
電池測(cè)試儀
3561-01
電池測(cè)試儀3561-01測(cè)量鋰電池電壓和內(nèi)阻 高精度:電阻±0.5% rdg. ±5dgt., 電壓±0.01% rdg. ±3dgt. 高分辨率:電阻0.01mΩ(300mΩ量程); 電壓0.1mV(20V量程) 高速10ms以?xún)?nèi)同時(shí)測(cè)量?jī)?nèi)阻和電壓 *大可以統(tǒng)計(jì)30000個(gè)數(shù)據(jù),有利于工程管理,品質(zhì)管理
電阻計(jì)
RM3543-01
電阻計(jì)RM3543-01用于測(cè)試超低或低并聯(lián)電阻的電阻計(jì) 自動(dòng)化系統(tǒng)中±0.16%的精度和0.01μΩ分辨率 優(yōu)越的反復(fù)測(cè)量精度 提供高性能的接觸檢查功能,比較器功能和數(shù)據(jù)輸出功能 直觀的用戶(hù)接口,高度抗干擾性,*適用于自動(dòng)一體化
微電阻計(jì)
RM3544
微電阻計(jì)RM3544適合手動(dòng)產(chǎn)線和自動(dòng)產(chǎn)線的簡(jiǎn)易微電阻計(jì) 基本精度0.02%,*小分辨率1μΩ,*大測(cè)試電流300mA 可測(cè)范圍0.000mμΩ(測(cè)試電流300mA)~3.5MΩ 通過(guò)保護(hù)端口使用的探頭并提高測(cè)試電流,實(shí)現(xiàn)抗干擾測(cè)量
C測(cè)試儀
3504-60
C測(cè)試儀 3504-60封裝機(jī)、分選機(jī)、電容器的合格與否的判斷和等級(jí)分類(lèi)等 高速測(cè)量2ms 能根據(jù)C 和D (損耗系數(shù)*2)的測(cè)量值,進(jìn)行被測(cè)物合格與否的判斷 對(duì)應(yīng)測(cè)試線,比較器功能/觸發(fā)輸出功能 3504-60/-50用BIN的分選接口進(jìn)行被測(cè)物體的測(cè)試 3504-40記錄工具,實(shí)現(xiàn)高速/低成本的測(cè)試 查出全機(jī)測(cè)量中的接觸錯(cuò)誤,提高成品率
C測(cè)試儀
3506-10
C測(cè)試儀 3506-10對(duì)應(yīng)1MHz測(cè)試, 低容量,高精度,高速測(cè)試 模擬測(cè)量時(shí)間0.6ms(1MHz)的高速測(cè)量 提高了抗干擾性,在產(chǎn)線的上也能實(shí)現(xiàn)高反復(fù)精度 1kHz、1MHz測(cè)量下,低電容的貼片時(shí)可穩(wěn)定測(cè)量 根據(jù)BIN的測(cè)定區(qū)分容量
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