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產(chǎn)品資料

可程控邏輯腳位模塊

可程控邏輯腳位模塊
  • 如果您對該產(chǎn)品感興趣的話,可以
  • 產(chǎn)品名稱:可程控邏輯腳位模塊
  • 產(chǎn)品型號:Model 36010
  • 產(chǎn)品展商:Chroma
  • 產(chǎn)品文檔:無相關(guān)文檔
簡單介紹
應(yīng)用范圍 Logic and mixed signal validation and test Digital pattern generator and vector capture Consumer IC and electronics test Logic test subsystem for DC and RF ATE
產(chǎn)品描述
主要特色:
  • 標(biāo)準(zhǔn)PXI 3U 尺寸
  • Date rate*高為100MHz
  • 8個per-pin, per-cycle的 I/O雙向控制通道
  • 可擴(kuò)充至64 pin
  • 32M sequence command 內(nèi)存
  • 17種以上的pattern sequence 指令
  • Per-pin 控制架構(gòu)
  • 每一腳位有 32M vector 內(nèi)存
  • 每一腳位有 32 組 clock 及 waveform
  • 可快速切換 Waveforms 種類
  • 可編寫的tri-level driver, 分辨率達(dá) 610uV
  • 每個模塊皆具備高電壓驅(qū)動器
  • Per-channel PMU
  • Per-channel 時間量測組件
  • 支持 scan pattern 功能
  • Windows 2000/XP 操作系統(tǒng)
  • 支援 LabView 與 LabWindows
  • 可選購專用軟件 CRISP

    36010 可程控 100MHz 邏輯腳位模塊,可用于特性分析、驗證以及數(shù)字 / 混合訊號 IC或電子組件測試。每個模塊包含一組Sequence Pattern Generator以及8個I/O雙向控制通道。36010*多可擴(kuò)充達(dá)64組通道以符合不同用途,此外,基于per-pin的架構(gòu), 每個通道皆配有32M的vector memory、32組clock、32組waveform與1個 PMU channel,與其他類似性能的 ATE 設(shè)備相比, 36010 可提供快速且**的測試功能。

    Sequence Pattern Generator 
    36010 可程控邏輯腳位模塊提供17種以上的 sequence 指令,包括 jump、match、 loop、 repeat等,可以控制pattern的執(zhí)行流程。 36010 配有 32M的 sequence command 內(nèi)存,允許每行 vector 擁有獨立的sequence command 來控制 pattern的執(zhí)行流程。此外, 每個Sequence Pattern Generator 可以支持*多8個Logic Pin Electronics Cards, 即表示*多可支持64 個I/O channels 與8個 DUT同時測試。

    邏輯腳位模塊 
    每張邏輯腳位卡皆采用 Chroma® PINF ICs 來達(dá)到高精準(zhǔn)的timing及彈性化 waveform output 功能。Per-pin timing generator 提供32組clock,包含6個可編輯的edges。至于 per-pin waveform generator則可提供每組I/O雙向控制通道 32 組可編輯的 waveform,具有快速切換的特性。在 analog的功能中,邏輯腳位模塊具有tri-level的 driver 與 comparator,可編寫分辨率達(dá)610uV, 36010 同時配有 active load、per-pin PMU 以及高電壓驅(qū)動功能。另外,36010 也支持scan pattern 功能,可進(jìn)行掃描測試。

    專用軟件 CRISP(Chroma Integrated Software Platform) 
    除了支持 LabView 與 LabWindows 環(huán)境之外, Chroma® 也提供了專用軟件CRISP作為選擇。為了涵蓋各種IC debugging的需求,CRISP包含許多軟件模塊,CRISP的作業(yè)平臺為Microsoft Windows XP®,使用 C++ 作為測試程序語言,提供用戶簡易、彈性化以及快速的圖形化接口軟件來符合各種需求。Project IDE tool 可以讓測試程序的產(chǎn)生更為簡單與快速;在 test program debugging 的場合,CR I S P 提供完整的 d e b u g gi n g 軟件工具,包含 Pl an Debugge r、Da t a log、 Waveform、Scope、SHMOO、Pin Margin、 Wafer Map、Summary、Histogram、STDF、Test Condition Monitor、Pattern Editor等完整的工具給使用者。

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