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產(chǎn)品資料

VLSI 測試系統(tǒng)

VLSI 測試系統(tǒng)
  • 如果您對該產(chǎn)品感興趣的話，可以
  • 產(chǎn)品名稱：VLSI 測試系統(tǒng)
  • 產(chǎn)品型號：Model 3360
  • 產(chǎn)品展商：Chroma
  • 產(chǎn)品文檔：無相關(guān)文檔
簡單介紹
Model 3360 VLSI 測試系統(tǒng)
產(chǎn)品描述
主要特色：
  • 50 MHz 測試頻率
  • 608 個 I/O 通道
  • 8M (標(biāo)準(zhǔn)) /16M (選購) Pattern 記憶體
  • 彈性化硬體結(jié)構(gòu) (互換式 I/O, UVI, ADDA and LCD)
  • 平行測試可達 32 devices
  • Real Parallel Trim/Match 功能
  • 直接裝設(shè) SC312, TS670 針測卡
  • 測試程式/pattern 轉(zhuǎn)換器 (V7, TRI6020, V50, SC312, J750, ITS9K, TS670, ND1)
  • Analog PE card 選配 (16 ~24 bits)
  • SCAN test 選配 (512M)
  • ALPG test 選配供記憶體用
  • STDF 工具支援
  • 人性化 Windows XP 操作環(huán)境
  • CRAFT C/C++ 程式語言
  • 即時pattern編輯器，含F(xiàn)ail pin/address顯示
  • 多樣化的測試解析工具 : Shmoo plot, Waveform display, Wafer Map, Pin Margin, Scope tool,Histogram tool and etc.Most Flexible Configuration for Various Devices (Logic, LCD, LED, ADDA, ALPG, SCAN, Power and etc.)
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