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蘇州天儀科創(chuàng)機(jī)電科技有限公司
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2005-04-28
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光伏/逆變器測試及自動(dòng)化解決方案
產(chǎn)品圖片
產(chǎn)品名稱/型號
產(chǎn)品簡單介紹
光伏自動(dòng)化生產(chǎn)設(shè)備
Model MAS 光伏自動(dòng)化生產(chǎn)設(shè)備
CIM的數(shù)據(jù)整合:提供PLC數(shù)據(jù)的LOG文件傳輸,將生產(chǎn)的數(shù)據(jù)作整合,讓客戶的CIM能作有效的分析及作有效率的改善,讓產(chǎn)線的良率及產(chǎn)能作更好的提升
光伏電池片背面印刷暨表面臟污檢測機(jī)
Model 7213-AD
光伏電池片的背面印刷瑕疵可能會(huì)造成外觀瑕疵或者可靠度表現(xiàn)上的**影響。在所有的背面印刷瑕疵之中,非正常絲網(wǎng)印刷過程所產(chǎn)生的鋁凸,將會(huì)在模組封裝過程之中造成極高的破損率。Chroma 7213-AD背面印刷暨表面檢測機(jī)應(yīng)用了特殊光源設(shè)計(jì)來偵測常見的背面印刷瑕疵,甚至是鋁凸瑕疵。
光伏電池片正面印刷暨表面臟污檢測機(jī)
Model 7212-HD
光伏電池片的正面印刷瑕疵可能會(huì)造成外觀瑕疵或者可靠度表現(xiàn)上的**影響。因此,像是"主柵線的銀漿缺失"、"柵線斷柵"、"印刷偏移"、"水痕"等,皆需要透過可信賴且高準(zhǔn)確性的光學(xué)檢測儀器(AOI)來進(jìn)行篩選,以保持出貨電池片的*高品質(zhì)
光伏電池片顏色分選機(jī)
Model 7211-D
Chroma 7211-D是為了提供高度重復(fù)性的電池片分色結(jié)果而設(shè)計(jì)的。由于使用了CIE 1931 Lab的色彩空間以及將電池片分割成至多60X60的顏色檢測區(qū)域,7211-D可以 提供將近3600個(gè)區(qū)域的顏色資訊,供顏色分選時(shí)候的參數(shù)設(shè)定使用。透過各種顏色 資訊以及使用者自訂的分色方法,即使是像多晶時(shí)候的非均勻顏色分布,或者是非 均勻的抗反色層厚度,都可以被精準(zhǔn)的定義出來
光伏硅片線鋸痕檢測機(jī)
Model 7231
切割線鋸痕是由于切割時(shí)候的雜質(zhì)影響或者是切割線振動(dòng)所造成的。有時(shí)候發(fā)生 在邊緣而也有可能發(fā)生在硅片中間的位置。由于Chroma使用EN 50513 2009的檢 測手法來進(jìn)行光學(xué)設(shè)計(jì),所以即使是發(fā)生在硅片中央位置的切割線鋸痕,也可以 正確檢測無誤。
光伏硅片品質(zhì)檢測機(jī)
Model 7202
為了提供*高重復(fù)性的晶格尺寸檢測結(jié)果,Chroma在7202上頭使用了獨(dú)特 的光學(xué)設(shè)計(jì)來強(qiáng)化晶格特征。而當(dāng)晶格尺寸可以被量化之后,分類好的硅片 就可以套用于不同的生產(chǎn)工藝,拿來在不同的電池片生產(chǎn)線進(jìn)行生產(chǎn),藉以 提高電池片生產(chǎn)時(shí)候的平均轉(zhuǎn)換效率。
光伏硅片外觀暨表面臟污檢測機(jī)
Model 7201
Chroma 7201可用來檢測硅片長度、寬度、對角線、邊緣 夾角、導(dǎo)角尺寸以及導(dǎo)角角度等,同時(shí)也可以檢測表面瑕 疵。設(shè)計(jì)完善的軟體以及操作介面可供使用者設(shè)定不同的 檢測參數(shù)來達(dá)到檢測結(jié)果,同時(shí)也提供瑕疵顯示以及儲(chǔ)存 功能來留待日后進(jìn)行MES/CIM的分析以及整合。
series 光伏電池與模塊 I-V 測試系統(tǒng)
Model 53310
I-V 測試是各式 P V 技術(shù)中, 包括晶矽電池/ 模組、Si-base、 CIGS、CdTe、TF 模組、GaAs-base 多接點(diǎn)電池等中*常用的測試。在各種不同的光伏電池技術(shù)中,僅有的兩個(gè)差異為 : 日光模擬光源的照射區(qū)和強(qiáng)度,以及 I-V 測試儀電壓/電流和功率范圍。
c-Si光伏電池片測試系統(tǒng)
Model 58301
對光伏電池片/組件的測試制造商而言,*重要的即是 I-V 的測試,因?yàn)楣夥姵?片/組件的功率或光電轉(zhuǎn)換效率的量測結(jié)果會(huì)直接影響產(chǎn)品價(jià)格。因此,高準(zhǔn)確 度且可重復(fù)的 I-V測試結(jié)果不僅是質(zhì)量議題,同時(shí)也是獲利的關(guān)鍵。然而,光伏 電池片的 I-V 測試,意味著對各種不同技術(shù)的挑戰(zhàn),因此要達(dá)到穩(wěn)定且準(zhǔn)確的測 試結(jié)果,通常是非常困難的,即使是使用 AAA 級類型的日光模擬光源。
光伏芯片擴(kuò)散制程上下貨及檢測系統(tǒng)
Model 3775
通常用于芯片磷擴(kuò)散的爐管制程。在擴(kuò)散制程中致茂可提供客戶使用短版的晶舟, 或長版晶舟來上下載具的傳輸設(shè)備。芯片的傳送使用高速富撓性的取放機(jī)器人。致茂在擴(kuò)散過程中提供的載具傳輸設(shè)備,低破片率,高產(chǎn)量和低成本可滿足客戶的擴(kuò)散制程功能要求。
光伏芯片檢測系統(tǒng)
Model 3710-HS
Chroma 3710HS整合了2D 幾何計(jì)算、表面瑕疵、微裂隙檢查、鋸痕檢查等光學(xué)檢測功能,并依客戶需求制定Thickness檢查及Lifetime測試,是一套可針對使用者全方位客制化的光伏芯片檢測系統(tǒng)
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