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產(chǎn)品資料

涂層測(cè)厚儀

涂層測(cè)厚儀
  • 如果您對(duì)該產(chǎn)品感興趣的話,可以
  • 產(chǎn)品名稱:涂層測(cè)厚儀
  • 產(chǎn)品型號(hào):DS
  • 產(chǎn)品展商:鼎順科儀
  • 產(chǎn)品文檔:無相關(guān)文檔
簡單介紹
涂層測(cè)厚儀 德國EPK公司涂層測(cè)厚儀MiniTest1100/2100/3100/4100非破壞性測(cè)量: 非磁性涂層,如油漆和鋅鐵基板上,絕緣涂層,如油漆和涂料的陽極氧化對(duì)非鐵金屬,非鐵金屬涂層的絕緣基板
產(chǎn)品描述

德國EPK公司涂層測(cè)厚儀MiniTest1100/2100/3100/4100
 
應(yīng)用范圍:
非破壞性測(cè)量:
o    非磁性涂層,如油漆和鋅鐵基板上
o    絕緣涂層,如油漆和涂料的陽極氧化對(duì)非鐵金屬
o    非鐵金屬涂層的絕緣基板
性能特點(diǎn)
o    廣泛的耐磨探頭,可以適應(yīng)不同的應(yīng)用
o    通用探針測(cè)量在鋼鐵和非鐵金屬
o    高測(cè)量精度和重復(fù)性
o    存儲(chǔ)和評(píng)估測(cè)量值
產(chǎn)品型號(hào):
  o  MiniTest 4100
內(nèi)存結(jié)構(gòu)自由定義為用戶提供多種不同的應(yīng)用
統(tǒng)計(jì)評(píng)價(jià)各組
o  MiniTest 3100
內(nèi)存結(jié)構(gòu)不同地定義為用戶提供幾個(gè)應(yīng)用程序
統(tǒng)計(jì)評(píng)價(jià)各組  
o    MiniTest 2100
存儲(chǔ)測(cè)量值的用戶提供一個(gè)應(yīng)用程序
統(tǒng)計(jì)評(píng)估

o    MiniTest 1100
對(duì)于簡單的抽查測(cè)試


測(cè)量原理:磁感應(yīng)和渦流原則

  
技術(shù)參數(shù):
 
型號(hào)
1100
2100
3100
4100
MINITEST 存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)量
應(yīng)用行數(shù)(根據(jù)不同探頭或測(cè)試條件而記憶的校準(zhǔn)基礎(chǔ)數(shù)據(jù)數(shù))
1
1
10
99
每個(gè)應(yīng)用行下的組(BATCH)數(shù)(對(duì)組內(nèi)數(shù)據(jù)自動(dòng)統(tǒng)計(jì),并可設(shè)寬容度極限值)
-
1
10
99
可用各自的日期和時(shí)間標(biāo)識(shí)特性的組數(shù)
-
1
500
500
數(shù)據(jù)總量
1
10000
10000
10000
MINITEST統(tǒng)計(jì)計(jì)算功能
讀數(shù)的六種統(tǒng)計(jì)值x,s,n,max,min,kvar
-
讀數(shù)的八種統(tǒng)計(jì)值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk
-
-
組統(tǒng)計(jì)值六種x,s,n,max,min,kvar
-
-
組統(tǒng)計(jì)值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk
-
-
存儲(chǔ)顯示每一個(gè)應(yīng)用行下的所有組內(nèi)數(shù)據(jù)
-
-
-
分組打印以上顯示和存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)和統(tǒng)計(jì)值
-
-
顯示并打印測(cè)量值、打印的日期和時(shí)間
-
其他功能
透過涂層進(jìn)行校準(zhǔn)(CTC)
-
在粗糙表面上作平均零校準(zhǔn)
利用計(jì)算機(jī)進(jìn)行基礎(chǔ)校準(zhǔn)
補(bǔ)償一個(gè)常數(shù)(Offset)
-
-
外設(shè)的讀值傳輸存儲(chǔ)功能
-
保護(hù)并鎖定校準(zhǔn)設(shè)置
更換電池是存儲(chǔ)數(shù)值
設(shè)置極限值
-
-
公英制轉(zhuǎn)換
連續(xù)測(cè)量模式快速測(cè)量,通過模擬柱識(shí)別*大*小值
-
-
連續(xù)測(cè)量模式中測(cè)量穩(wěn)定后顯示讀數(shù)
-
-
浮點(diǎn)和定點(diǎn)方式數(shù)據(jù)傳送
組內(nèi)單值延遲顯示
-
連續(xù)測(cè)量模式中顯示*小值


可選探頭參數(shù):(探頭圖示)
所有探???都可配合任一主機(jī)使用。在選擇*適用的探頭時(shí)需要考慮覆層厚度,基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
F型探頭:測(cè)量鋼鐵基體上的非磁性覆層
N型探頭:測(cè)量有色金屬基體上的絕緣覆層
FN兩用探頭:同時(shí)具備F型和N性探頭的功能

探頭
量程
低端
分辨率
誤差
*小曲率
半徑(/)
*小測(cè)量
區(qū)域直徑
*小基
體厚度
探頭尺寸


應(yīng)
F05
0-500μm
0.1μm
±(1%±0.7μm)
1/5mm
3mm
0.2mm
φ15x62mm
F1.6
0-1600μm
0.1μm
±(1%±1μm)
1.5/10mm
5mm
0.5mm
φ15x62mm
F1.6/90
0-1600μm
0.1μm
±(1%±1μm)
平面/6mm
5mm
0.5mm
φ8x8x170mm
F3
0-3000μm
0.2μm
±(1%±1μm)
1.5/10mm
5mm
0.5mm
φ15x62mm
F10
0-10mm
5μm
±(1%±10μm)
5/16mm
20mm
1mm
φ25x46mm
F20
0-20mm
10μm
±(1%±10μm)
10/30mm
40mm
2mm
φ40x66mm
F50
0-50mm
10μm
±(3%±50μm)
50/200mm
300mm
2mm
φ45x70mm

FN1.6
0-1600μm
0.1μm
±(1%±1μm)
1.5/10mm
5mm
F0.5mm
N50μm
φ15x62mm
FN1.6P
0-1600μm
0.1μm
±(1%±1μm)
平面
30mm
F0.5mm
N50μm
φ21x89mm
FN2
0-2000μm
0.2μm
±(1%±1μm)
1.5/10mm
5mm
F0.5mm
N50μm
φ15x62mm



N02
0-200μm
0.1μm
±(1%±0.5μm)
1/10mm
2mm
50μm
φ16x70mm
N.08Cr
0-80μm
0.1μm
±(1%±1μm)
2.5mm
2mm
100μm
φ15x62mm
N1.6
0-1600μm
0.1μm
±(1%±1μm)
1.5/10mm
2mm
50μm
φ15x62mm
N1.6/90
0-1600μm
0.1μm
±(1%±1μm)
平面/10mm
5mm
50μm
φ13x13x170mm
N10
0-10mm
10μm
±(1%±25μm)
25/100mm
50mm
50μm
φ60x50mm
N20
0-20mm
10μm
±(1%±50μm)
25/100mm
70mm
50μm
φ65x75mm
N100
0-100mm
100μm
±(1%±0.3mm)
100mm/平面
200mm
50μm
φ126x155mm
CN02
10-200μm
0.2μm
±(1%±1μm)
平面
7mm
無限制
φ17x80mm
 
F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭,用于管內(nèi)測(cè)量。
N.08Cr適合銅上鉻,FN2也適合銅上鉻。
CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層。

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