WIN-WIN50是東京精密在“共贏關(guān)系”的理念下,以其**的光學(xué)系統(tǒng),超高速的畫像處理系統(tǒng),超精密的測試臺等,融合了*先進的技術(shù)開發(fā)出來的與目前同類設(shè)備完全不同水平的世界*高性能的硅片外觀檢查設(shè)備。
WIN-WIN50是針對65納米以下水平的設(shè)計開發(fā)及量產(chǎn)所研制出來的具有下世紀(jì)水平的硅片外觀檢查設(shè)備。
WIN-WIN50通過多種波長及照明系統(tǒng)可以對應(yīng)多種工藝條件。通過抑制前程缺陷,捕捉微弱的缺陷信號等方法,發(fā)現(xiàn)影響到產(chǎn)品良率的重大缺陷。
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