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藤田（重慶）精密儀器設(shè)備有限公司
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	日本Otsuka大塚分子量測(cè)定的裝置ZETA電位·粒徑·分子量測(cè)試系統(tǒng)·ELSZneo 粒徑·分子量測(cè)試系統(tǒng)	ZETA電位·粒徑·分子量測(cè)試系統(tǒng)·ELSZneo 【ELSZneo使光散射的物性評(píng)價(jià)邁向新舞臺(tái)】ELSZneo是ELSZ series的***機(jī)型，除了在稀薄溶液~濃厚溶液中進(jìn)行zeta電位（Zeta Potential，ζ-電位）和粒徑測(cè)定之外，還能進(jìn)行分子量測(cè)定的裝置。作為新的功能，為了提高粒度分布的分離能力，采用了多角度測(cè)定。另外，也可實(shí)現(xiàn)測(cè)量粒子濃度測(cè)定、微流變學(xué)測(cè)定、凝膠的網(wǎng)狀結(jié)構(gòu)分析。全新的zeta電位平板固體樣品池，通過新開發(fā)的對(duì)應(yīng)高鹽濃度的涂層，可以在生理鹽水等高鹽濃度環(huán)境下進(jìn)行測(cè)量。3μL就能測(cè)定粒徑的超微量樣品池也位列其中，從而擴(kuò)大了生命科學(xué)領(lǐng)域的可能性。在0~90℃的寬溫度范圍內(nèi)，可以進(jìn)行自動(dòng)溫度梯度測(cè)量的變性相變溫度分析。
	日本Otsuka大塚多樣品納米粒子徑測(cè)試系統(tǒng)（動(dòng)態(tài)光散亂法（DLS法）測(cè)量粒徑） ·nanoSAQLA	多樣品納米粒子徑測(cè)試系統(tǒng)·nanoSAQLA ● nanoSAQLA是一臺(tái)通過動(dòng)態(tài)光散亂法（DLS法）測(cè)量粒徑（粒徑0.6nm~10um）的裝置。支持從稀薄到濃厚系廣泛濃度范圍內(nèi)的多檢體測(cè)定的新光學(xué)系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)了實(shí)驗(yàn)室必需的輕量、小型化、標(biāo)準(zhǔn)1分鐘的高速測(cè)定。另外，這是一款非浸泡型、不受接觸器影響、無需自動(dòng)取樣器、標(biāo)準(zhǔn)配備“5檢體連續(xù)測(cè)量”的新產(chǎn)品。...
	日本Otsuka大塚光波動(dòng)場(chǎng)三次元顯微鏡高速掃描,輕松決定測(cè)量位置三次元顯微鏡	MINUK可評(píng)價(jià)nｍ級(jí)的透明的異物?缺陷，一次拍照即可瞬時(shí)獲得深度方向的信息，可非破壞?非接觸?非侵入的進(jìn)行測(cè)量。且無需對(duì)焦，可在任意的面進(jìn)行高速掃描,輕松決定測(cè)量位置
	日本Otsuka大塚Smart膜厚儀（可攜帶至現(xiàn)場(chǎng)的手持式）膜厚儀	Smart膜厚儀 ● 可攜帶至現(xiàn)場(chǎng)的手持式 ● 可測(cè)量0.1μm單位 ● 具有形狀的樣品也可非破壞的測(cè)量 ● 不論基材材質(zhì)、可測(cè)量其鍍膜
	日本Otsuka大塚多分析物納米粒徑測(cè)量系統(tǒng) nanoSAQLA 動(dòng)態(tài)光散射（DLS 方法）的粒度測(cè)量裝置	多分析物納米粒徑測(cè)量系統(tǒng) nanoSAQLA
	日本Otsuka大塚測(cè)量粒度和 zeta 電位的專用設(shè)備（技術(shù)中心） Zeta 電位、粒度和分子量測(cè)量系統(tǒng) ELSZneo	Zeta 電位、粒度和分子量測(cè)量系統(tǒng) ELSZneo
	日本Otsuka大塚Zeta 電位、粒度和分子量測(cè)量系統(tǒng) ELSZneo 測(cè)量粒度和 zeta 電位的專用設(shè)備	[使用 ELSZneo 將光散射的物理性能評(píng)估到一個(gè)新的階段] 這是 ELSZ 系列的**型號(hào)，除了在稀 ~ 濃溶液中測(cè)量 zeta 電位和粒度外，還可以進(jìn)行分子量測(cè)量。作為一項(xiàng)新功能，采用了多角度測(cè)量來提高粒度分布的分辨率。它還支持顆粒濃度測(cè)量、微流變測(cè)量和凝膠網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)分析。新型 zeta 電位平板單元具有新開發(fā)的高鹽濃度涂層，可在鹽水等高鹽環(huán)境中進(jìn)行測(cè)量。我們還擁有一系列超小細(xì)胞單元，可以測(cè)量 3 μL 的粒徑，擴(kuò)大了生命科學(xué)領(lǐng)域的可能性。
	日本Otsuka大塚Zeta 電位和粒度測(cè)量系統(tǒng) ELSZneoSE NEW 測(cè)量粒度和 zeta 電位的專用設(shè)備	Zeta 電位和粒度測(cè)量系統(tǒng) ELSZneoSE NEW
	日本Otsuka大塚Zeta 電位、粒度和分子量測(cè)量系統(tǒng) ELSZneo ELSZ 系列	[使用 ELSZneo 將光散射的物理性能評(píng)估到一個(gè)新的階段] 這是 ELSZ 系列的**型號(hào)，除了在稀 ~ 濃溶液中測(cè)量 zeta 電位和粒度外，還可以進(jìn)行分子量測(cè)量。作為一項(xiàng)新功能，采用了多角度測(cè)量來提高粒度分布的分辨率。它還支持顆粒濃度測(cè)量、微流變測(cè)量和凝膠網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)分析。新型 zeta 電位平板單元具有新開發(fā)的高鹽濃度涂層，可在鹽水等高鹽環(huán)境中進(jìn)行測(cè)量。我們還擁有一系列超小細(xì)胞單元，可以測(cè)量 3 μL 的粒徑，擴(kuò)大了生命科學(xué)領(lǐng)域的可能性。
	彩譜色差儀紅外波段光譜霧度計(jì)（顏色檢測(cè)及光譜檢測(cè)） CS-730可見-紅外波段光譜霧度計(jì)	CS-730可見-紅外波段光譜霧度計(jì) 可見-紅外波段光譜霧度計(jì)CS-730專業(yè)應(yīng)用于蓋板玻璃、光學(xué)薄膜、鏡片、擴(kuò)散板、透明包裝等領(lǐng)域的霧度、透過率、光譜透過率、清晰度、色度檢測(cè)
	霧度計(jì)（顏色檢測(cè)及光譜檢測(cè)）庫存 CS-730可見-紅外波段光譜霧度計(jì)	CS-730可見-紅外波段光譜霧度計(jì) 可見-紅外波段光譜霧度計(jì)CS-730專業(yè)應(yīng)用于蓋板玻璃、光學(xué)薄膜、鏡片、擴(kuò)散板、透明包裝等領(lǐng)域的霧度、透過率、光譜透過率、清晰度、色度檢測(cè)
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	彩譜顏色/霧度/光譜透過率一站式測(cè)量 CS-700色彩霧度儀	CS-700色彩霧度儀顏色/霧度/光譜透過率一站式測(cè)量

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