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產(chǎn)品資料

日本Otsuka大塚光波動場三次元顯微鏡

日本Otsuka大塚光波動場三次元顯微鏡
  • 如果您對該產(chǎn)品感興趣的話,可以
  • 產(chǎn)品名稱:日本Otsuka大塚光波動場三次元顯微鏡
  • 產(chǎn)品型號:高速掃描,輕松決定測量位置三次元顯微鏡
  • 產(chǎn)品展商:日本Otsuka大塚
  • 產(chǎn)品文檔:無相關(guān)文檔
簡單介紹
MINUK可評價nm級的透明的異物?缺陷,一次拍照即可瞬時獲得深度方向的信息,可非破壞?非接觸?非侵入的進(jìn)行測量。且無需對焦,可在任意的面進(jìn)行高速掃描,輕松決定測量位置
產(chǎn)品描述

產(chǎn)品信息

特點(diǎn)

可評價nm級的透明的異物?缺陷 一次拍照即可瞬時獲得深度方向的信息 無需對焦,可高速測量 可非破壞?非接觸?非侵入的測量 可在任意的面進(jìn)行高速掃描,輕松決定測量位置


規(guī)格

分辨率 x , y 6 9 1n m( 一次拍照)、4 8 8 n m( 合成)
視野 x , y 7 0 0×7 0 0μm
分辨率 z 10nm(相位差)
視野 z ±700μm
樣品尺寸 10 0×8 0×t 2 0 mm(安裝通用樣品架時)
樣品臺 微動X Y樣品臺(自動)
 X:±10 mm Y:±10 mm
粗動樣品臺
X:12 9 mm Y:8 5 mm
激光 波長 6 3 8 nm
輸出 0 .3 9 mW 以下 C la s s1 ( 對測量樣品的照射強(qiáng)度)
               
尺寸(長×寬×高)mm 本體:5 0 5(W)×6 3 0(D)×4 3 9(H) ± 2 0 m m
※不含P C、附屬品
               
重量 41k g
功耗 本體:2 9 0 VA
※不含P C、附屬品




測量案例

將肉眼無法看見的透明薄膜表面可視化?定量化

可以非接觸、非破壞性、非侵入性地獲得nm級的形狀信息。通過一次拍照即可獲取深度方向的信息,可以將透明薄膜表面上肉眼不可見的劃痕和缺陷的橫截面形狀數(shù)值化實(shí)現(xiàn)可視化。

MINUK海報_20240614_03.jpg


觀察透明薄膜內(nèi)部的填充劑

肉眼無法看到的透明薄膜內(nèi)部的填充劑,通過一次拍照即可觀察到。此外,通過在測量后改變深度方向的焦點(diǎn),可以識別到各個深度的填充劑。

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