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藤田（重慶）精密儀器設(shè)備有限公司
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	日本Otsuka大塚 Zeta 電位、粒度和分子量測(cè)量系統(tǒng) ELSZneo ELSZ 系列	[使用 ELSZneo 將光散射的物理性能評(píng)估到一個(gè)新的階段] 這是 ELSZ 系列的**型號(hào)，除了在稀 ~ 濃溶液中測(cè)量 zeta 電位和粒度外，還可以進(jìn)行分子量測(cè)量。作為一項(xiàng)新功能，采用了多角度測(cè)量來提高粒度分布的分辨率。它還支持顆粒濃度測(cè)量、微流變測(cè)量和凝膠網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)分析。新型 zeta 電位平板單元具有新開發(fā)的高鹽濃度涂層，可在鹽水等高鹽環(huán)境中進(jìn)行測(cè)量。我們還擁有一系列超
	日本Otsuka大塚Zeta 電位、粒度和分子量測(cè)量系統(tǒng) ELSZneo庫存 ELSZ 系列	[使用 ELSZneo 將光散射的物理性能評(píng)估到一個(gè)新的階段] 這是 ELSZ 系列的**型號(hào)，除了在稀 ~ 濃溶液中測(cè)量 zeta 電位和粒度外，還可以進(jìn)行分子量測(cè)量。作為一項(xiàng)新功能，采用了多角度測(cè)量來提高粒度分布的分辨率。它還支持顆粒濃度測(cè)量、微流變測(cè)量和凝膠網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)分析。新型 zeta 電位平板單元具有新開發(fā)的高鹽濃度涂層，可在鹽水等高鹽環(huán)境中進(jìn)行測(cè)量。我們還擁有一系列超
	日本Otsuka大塚Zeta 電位、粒度和分子量測(cè)量系統(tǒng) ELSZneo西南辦事處 ELSZ 系列	[使用 ELSZneo 將光散射的物理性能評(píng)估到一個(gè)新的階段] 這是 ELSZ 系列的**型號(hào)，除了在稀 ~ 濃溶液中測(cè)量 zeta 電位和粒度外，還可以進(jìn)行分子量測(cè)量。作為一項(xiàng)新功能，采用了多角度測(cè)量來提高粒度分布的分辨率。它還支持顆粒濃度測(cè)量、微流變測(cè)量和凝膠網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)分析。新型 zeta 電位平板單元具有新開發(fā)的高鹽濃度涂層，可在鹽水等高鹽環(huán)境中進(jìn)行測(cè)量。我們還擁有一系列超
	日本Otsuka大塚Zeta 電位、粒度和分子量測(cè)量系統(tǒng) ELSZneo技術(shù)中心 ELSZ 系列	[使用 ELSZneo 將光散射的物理性能評(píng)估到一個(gè)新的階段] 這是 ELSZ 系列的**型號(hào)，除了在稀 ~ 濃溶液中測(cè)量 zeta 電位和粒度外，還可以進(jìn)行分子量測(cè)量。作為一項(xiàng)新功能，采用了多角度測(cè)量來提高粒度分布的分辨率。它還支持顆粒濃度測(cè)量、微流變測(cè)量和凝膠網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)分析。新型 zeta 電位平板單元具有新開發(fā)的高鹽濃度涂層，可在鹽水等高鹽環(huán)境中進(jìn)行測(cè)量。我們還擁有一系列超
	日本Otsuka大塚Zeta 電位、粒度和分子量測(cè)量系統(tǒng) ELSZneo（辦事處） ELSZ 系列	[使用 ELSZneo 將光散射的物理性能評(píng)估到一個(gè)新的階段] 這是 ELSZ 系列的**型號(hào)，除了在稀 ~ 濃溶液中測(cè)量 zeta 電位和粒度外，還可以進(jìn)行分子量測(cè)量。作為一項(xiàng)新功能，采用了多角度測(cè)量來提高粒度分布的分辨率。它還支持顆粒濃???測(cè)量、微流變測(cè)量和凝膠網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)分析。新型 zeta 電位平板單元具有新開發(fā)的高鹽濃度涂層，可在鹽水等高鹽環(huán)境中進(jìn)行測(cè)量。我們還擁有一系列超
	日本Otsuka大塚Zeta 電位、粒度和分子量測(cè)量系統(tǒng)裝置 ELSZ 系列	[使用 ELSZneo 將光散射的物理性能評(píng)估到一個(gè)新的階段] 這是 ELSZ 系列的**型號(hào)，除了在稀 ~ 濃溶液中測(cè)量 zeta 電位和粒度外，還可以進(jìn)行分子量測(cè)量。作為一項(xiàng)新功能，采用了多角度測(cè)量來提高粒度分布的分辨率。它還支持顆粒濃度測(cè)量、微流變測(cè)量和凝膠網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)分析。新型 zeta 電位平板單元具有新開發(fā)的高鹽濃度涂層，可在鹽水等高鹽環(huán)境中進(jìn)行測(cè)量。我們還擁有一系列超
	日本Otsuka大塚Zeta 電位、粒度和分子量測(cè)量系統(tǒng) ELSZneo（技術(shù)咨詢） ELSZ 系列	[使用 ELSZneo 將光散射的物理性能評(píng)估到一個(gè)新的階段] 這是 ELSZ 系列的**型號(hào)，除了在稀 ~ 濃溶液中測(cè)量 zeta 電位和粒度外，還可以進(jìn)行分子量測(cè)量。作為一項(xiàng)新功能，采用了多角度測(cè)量來提高粒度分布的分辨率。它還支持顆粒濃度測(cè)量、微流變測(cè)量和凝膠網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)分析。新型 zeta 電位平板單元具有新開發(fā)的高鹽濃度涂層，可在鹽水等高鹽環(huán)境中進(jìn)行測(cè)量。我們還擁有一系列超
	日本Otsuka大塚分光干涉式晶圓膜厚儀 SF-3	分光干涉式晶圓膜厚儀 SF-3 即時(shí)檢測(cè) WAFER基板于研磨制程中的膜厚玻璃基板于減薄制程中的厚度變化 (強(qiáng)酸環(huán)境中) 產(chǎn)品特色非接觸式、非破壞性光學(xué)式膜厚檢測(cè) 采用分光干涉法實(shí)現(xiàn)高度檢測(cè)再現(xiàn)性可進(jìn)行高速...
	日本Otsuka大塚多通道光譜儀 MCPD-9800 / 6800 多通道光譜儀	多通道光譜儀 MCPD-9800 / 6800 產(chǎn)品信息特長(zhǎng) 應(yīng)用廣泛的測(cè)量?jī)x。以高機(jī)型MCPD-9800為首，一共有3種對(duì)應(yīng)12波長(zhǎng)領(lǐng)域的測(cè)量?jī)x。我們可以根據(jù)客戶的需求和用途提出適合的方案。不同評(píng)價(jià)方法對(duì)應(yīng)不同設(shè)備 ◎... 前往洽談
	顯微分光膜厚儀 OPTM series日本Otsuka大塚顯微分光膜厚儀	顯微分光膜厚儀 OPTM series ● 非接觸 · 非破壞 · 顯微、對(duì)焦、測(cè)量1秒完成 ● OPTM系列顯微分光膜厚儀是一款可替代橢偏儀，測(cè)試膜厚、折射率n、消光系數(shù)k、反射率的新型高精度、高性價(jià)比的分光膜厚儀。適用于各種可透光膜層的測(cè)試，并有**可針對(duì)透明基板去除背面反射，從而達(dá)到“真實(shí)反射率、膜厚”測(cè)試的目的。此外，軟件操作簡(jiǎn)單、使用方便且簡(jiǎn)化了復(fù)雜的建模流程。...
	日本Otsuka大塚分子量測(cè)定的裝置ZETA電位·粒徑·分子量測(cè)試系統(tǒng)·ELSZneo 粒徑·分子量測(cè)試系統(tǒng)	ZETA電位·粒徑·分子量測(cè)試系統(tǒng)·ELSZneo 【ELSZneo使光散射的物性評(píng)價(jià)邁向新舞臺(tái)】ELSZneo是ELSZ series的***機(jī)型，除了在稀薄溶液~濃厚溶液中進(jìn)行zeta電位（Zeta Potential，ζ-電位）和粒徑測(cè)定之外，還能進(jìn)行分子量測(cè)定的裝置。作為新的功能，為了提高粒度分布的分離能力，采用了多角度測(cè)定。另外，也可實(shí)現(xiàn)測(cè)量粒子濃度測(cè)定、微流變學(xué)測(cè)定、凝膠的網(wǎng)狀結(jié)構(gòu)分析。全新的zeta電位平板固體樣品池，通過新開發(fā)的對(duì)應(yīng)高鹽濃度的涂層，可以在生理鹽水等高鹽濃度環(huán)境下進(jìn)行測(cè)量。3μL就能測(cè)定粒徑的超微量樣品池也位列其中，從而擴(kuò)大了生命科學(xué)領(lǐng)域的可能性。在0~90℃的寬溫度范圍內(nèi)，可以進(jìn)行自動(dòng)溫度梯度測(cè)量的變性相變溫度分析。
	日本Otsuka大塚多樣品納米粒子徑測(cè)試系統(tǒng)（動(dòng)態(tài)光散亂法（DLS法）測(cè)量粒徑） ·nanoSAQLA	多樣品納米粒子徑測(cè)試系統(tǒng)·nanoSAQLA ● nanoSAQLA是一臺(tái)通過動(dòng)態(tài)光散亂法（DLS法）測(cè)量粒徑（粒徑0.6nm~10um）的裝置。支持從稀薄到濃厚系廣泛濃度范圍內(nèi)的多檢體測(cè)定的新光學(xué)系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)了實(shí)驗(yàn)室必需的輕量、小型化、標(biāo)準(zhǔn)1分鐘的高速測(cè)定。另外，這是一款非浸泡型、不受接觸器影響、無需自動(dòng)取樣器、標(biāo)準(zhǔn)配備“5檢體連續(xù)測(cè)量”的新產(chǎn)品。...
	日本Otsuka大塚光波動(dòng)場(chǎng)三次元顯微鏡高速掃描,輕松決定測(cè)量位置三次元顯微鏡	MINUK可評(píng)價(jià)nｍ級(jí)的透明的異物?缺陷，一次拍照即可瞬時(shí)獲得深度方向的信息，可非破壞?非接觸?非侵入的進(jìn)行測(cè)量。且無需對(duì)焦，可在任意的面進(jìn)行高速掃描,輕松決定測(cè)量位置
	日本Otsuka大塚Smart膜厚儀（可攜帶至現(xiàn)場(chǎng)的手持式）膜厚儀	Smart膜厚儀 ● 可攜帶至現(xiàn)場(chǎng)的手持式 ● 可測(cè)量0.1μm單位 ● 具有形狀的樣品也可非破壞的測(cè)量 ● 不論基材材質(zhì)、可測(cè)量其鍍膜
	日本Otsuka大塚多分析物納米粒徑測(cè)量系統(tǒng) nanoSAQLA 動(dòng)態(tài)光散射（DLS 方法）的粒度測(cè)量裝置	多分析物納米粒徑測(cè)量系統(tǒng) nanoSAQLA
	日本Otsuka大塚測(cè)量粒度和 zeta 電位的專用設(shè)備（技術(shù)中心） Zeta 電位、粒度和分子量測(cè)量系統(tǒng) ELSZneo	Zeta 電位、粒度和分子量測(cè)量系統(tǒng) ELSZneo
	日本Otsuka大塚Zeta 電位、粒度和分子量測(cè)量系統(tǒng) ELSZneo 測(cè)量粒度和 zeta 電位的專用設(shè)備	[使用 ELSZneo 將光散射的物理性能評(píng)估到一個(gè)新的階段] 這是 ELSZ 系列的**型號(hào)，除了在稀 ~ 濃溶液中測(cè)量 zeta 電位和粒度外，還可以進(jìn)行分子量測(cè)量。作為一項(xiàng)新功能，采用了多角度測(cè)量來提高粒度分布的分辨率。它還支持顆粒濃度測(cè)量、微流變測(cè)量和凝膠網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)分析。新型 zeta 電位平板單元具有新開發(fā)的高鹽濃度涂層，可在鹽水等高鹽環(huán)境中進(jìn)行測(cè)量。我們還擁有一系列超小細(xì)胞單元，可以測(cè)量 3 μL 的粒徑，擴(kuò)大了生命科學(xué)領(lǐng)域的可能性。
	日本Otsuka大塚Zeta 電位和粒度測(cè)量系統(tǒng) ELSZneoSE NEW 測(cè)量粒度和 zeta 電位的專用設(shè)備	Zeta 電位和粒度測(cè)量系統(tǒng) ELSZneoSE NEW
	日本Otsuka大塚Zeta 電位、粒度和分子量測(cè)量系統(tǒng) ELSZneo ELSZ 系列	[使用 ELSZneo 將光散射的物理性能評(píng)估到一個(gè)新的階段] 這是 ELSZ 系列的**型號(hào)，除了在稀 ~ 濃溶液中測(cè)量 zeta 電位和粒度外，還可以進(jìn)行分子量測(cè)量。作為一項(xiàng)新功能，采用了多角度測(cè)量來提高粒度分布的分辨率。它還支持顆粒濃度測(cè)量、微流變測(cè)量和凝膠網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)分析。新型 zeta 電位平板單元具有新開發(fā)的高鹽濃度涂層，可在鹽水等高鹽環(huán)境中進(jìn)行測(cè)量。我們還擁有一系列超小細(xì)胞單元，可以測(cè)量 3 μL 的粒徑，擴(kuò)大了生命科學(xué)領(lǐng)域的可能性。

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