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藤田（重慶）精密儀器設(shè)備有限公司
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	日本HONDA本多臺式超聲清洗機(jī) WV-231-S1	日本HONDA本多臺式超聲清洗機(jī)WV-231-S1
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	日本HONDA本多臺式超聲清洗機(jī) WTC-408	日本HONDA本多臺式超聲清洗機(jī)WTC-404
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	日本HONDA本多壓電陶瓷/壓電材料 HC-50GS	日本HONDA本多壓電陶瓷/壓電材料 HC-50GS
	日本HONDA本多壓電陶瓷/壓電材料 HC-70BN	日本HONDA本多壓電陶瓷/壓電材料 HC-9OKN
	日本HONDA本多壓電陶瓷/壓電材料 HC-9OKN	日本HONDA本多壓電陶瓷/壓電材料 HC-9OKN
	日本HONDA本多氣泡檢測傳感器 HKS0630	日本HONDA本多氣泡檢測傳感器 HKS0630
	日本HONDA本多氣泡檢測傳感器 HKS0620	日本HONDA本多氣泡檢測傳感器 HKS0620
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	日本Otsuka大塚Zeta 電位、粒度和分子量測量系統(tǒng)裝置 ELSZ 系列	[使用 ELSZneo 將光散射的物理性能評估到一個(gè)新的階段] 這是 ELSZ 系列的**型號，除了在稀 ~ 濃溶液中測量 zeta 電位和粒度外，還可以進(jìn)行分子量測量。作為一項(xiàng)新功能，采用了多角度測量來提高粒度分布的分辨率。它還支持顆粒濃度測量、微流變測量和凝膠網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)分析。新型 zeta 電位平板單元具有新開發(fā)的高鹽濃度涂層，可在鹽水等高鹽環(huán)境中進(jìn)行測量。我們還擁有一系列超
	日本Otsuka大塚Zeta 電位、粒度和分子量測量系統(tǒng) ELSZneo（技術(shù)咨詢） ELSZ 系列	[使用 ELSZneo 將光散射的物理性能評估到一個(gè)新的階段] 這是 ELSZ 系列的**型號，除了在稀 ~ 濃溶液中測量 zeta 電位和粒度外，還可以進(jìn)行分子量測量。作為一項(xiàng)新功能，采用了多角度測量來提高粒度分布的分辨率。它還支持顆粒濃度測量、微流變測量和凝膠網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)分析。新型 zeta 電位平板單元具有新開發(fā)的高鹽濃度涂層，可在鹽水等高鹽環(huán)境中進(jìn)行測量。我們還擁有一系列超
	日本Otsuka大塚分光干涉式晶圓膜厚儀 SF-3	分光干涉式晶圓膜厚儀 SF-3 即時(shí)檢測 WAFER基板于研磨制程中的膜厚玻璃基板于減薄制程中的厚度變化 (強(qiáng)酸環(huán)境中) 產(chǎn)品特色非接觸式、非破壞性光學(xué)式膜厚檢測采用分光干涉法實(shí)現(xiàn)高度檢測再現(xiàn)性可進(jìn)行高速...
	日本Otsuka大塚多通道光譜儀 MCPD-9800 / 6800 多通道光譜儀	多通道光譜儀 MCPD-9800 / 6800 產(chǎn)品信息特長應(yīng)用廣泛的測量儀。以高機(jī)型MCPD-9800為首，一共有3種對應(yīng)12波長領(lǐng)域的測量儀。我們可以根據(jù)客戶的需求和用途提出適合的方案。不同評價(jià)方法對應(yīng)不同設(shè)備 ◎... 前往洽談
	顯微分光膜厚儀 OPTM series日本Otsuka大塚顯微分光膜厚儀	顯微分光膜厚儀 OPTM series ● 非接觸 · 非破壞 · 顯微、對焦、測量1秒完成 ● OPTM系列顯微分光膜厚儀是一款可替代橢偏儀，測試膜厚、折射率n、消光系數(shù)k、反射率的新型高精度、高性價(jià)比的分光膜厚儀。適用于各種可透光膜層的測試，并有**可針對透明基板去除背面反射，從而達(dá)到“真實(shí)反射率、膜厚”測試的目的。此外，軟件操作簡單、使用方便且簡化了復(fù)雜的建模流程。...

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