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Semilab摻雜濃度測試儀 MCV-530L 汞探針

Semilab MCV-530 汞探針(汞CV)測試儀 MCV-530L    的    摻雜濃度測試儀 

SEMILAB的MCV-530L(以及MCV-530)是一款汞探針CV自動圖形掃描測量系統(tǒng)。它使用高頻CV測量分析系統(tǒng),可以對75mm、100mm、125mm、150mm、200mm(以及300mm)直徑的測試片進行測量和自動成圖。該系統(tǒng)采用獨特的汞探針設計,從而允許測試片正面朝上,相比于傳統(tǒng)的汞探針測試系統(tǒng)將測試片正面朝下吸附在樣品臺上而言,該設計能夠避免在成圖測量時的表面沾污和破壞。在MCV-530L系統(tǒng)中,通過精密的調壓系統(tǒng)的控制,能夠保證汞和碳化硅的接觸面積維持穩(wěn)定不變。這種能力使得該設備在碳化硅外延的電學特性測試以及l(fā)ow-K材料的介電常數(shù)測試中成為了一個非常實用的測試儀器 

Semilab摻雜濃度測試儀 MCV-530L 汞探針的CV系統(tǒng)是一種雙極測試設備,兩個接口被分別連接在樣品的兩個電極上。實際的CV測試包括兩個方面:在樣品電極上施加反向(或正向)偏置電壓;測試兩個接口之間的電容。

金屬電極和耗盡區(qū)構成一個極板電容,這和兩塊金屬板構成的空氣電容類似。當反偏電壓越來越大時,耗盡層越來越深,對應的電容會越來越小。從測到的電容電壓數(shù)據(jù)對,我們可以分析計算出摻雜濃度隨深度的變化曲線。從得到的曲線可以進一步判斷摻雜濃度在深度分布上是否均勻等。

序號

項目

參數(shù)

備注

1

基本功能要求

1. 設備用于SiC外延層載流子濃度CV Mapping,設備是全自動汞探針系統(tǒng),帶掃描測試功能的高頻電容-電壓測試分析系統(tǒng)。

2. 樣品臺具備面掃描功能(即Mapping功能),兼容4寸和6寸樣品。

3. 與傳統(tǒng)的汞探針系統(tǒng)采用碳化硅片正面朝下、真空吸附測試方式不同,設備采用汞探針設計,測試時碳化硅片樣品正面朝上,探針為上面接觸,避免傳統(tǒng)設備玷污和破壞樣品、無法進行多點掃描測試的缺點。

4. 設備采用高精度調壓設備來**控制汞柱和碳化硅材料接觸面積。整體系統(tǒng)用汞量小于1毫升,設備具備自動換汞功能。測試腔體為負壓設計,以確保測試過程汞蒸發(fā)不會擴散,防止汞蒸汽泄露。

 

2

技術參數(shù)要求

1. 外延層載流子濃度測試范圍:1E14 carriers/cm3 to 1E19 carriers/cm3。載流子濃度測試重復性:1sigma <0.5%,測試精度:3sigma<3%; 測試標準:取單點靜態(tài)測試10次,10次測試值的STDEV/AVERAGE作為重復性測試值;精度是指(測試值-參考值)/參考值。

2. 單點測試面積:0.018-0.027 cm2;單點測試時間:<20s/點;單片測試時間:<3分鐘/片(4英寸SiC外延樣品測試9點)

3. 汞接觸面積重復性:1 sigma <0.167%。

4. 施加偏壓范圍不低于+/-100伏;

5. 測試電壓頻率可達到0.922MHz;測量電容為:0.922MHz時0~2000 pF,100kHz時0~20000 pF。

 

3

其他要求

1. 設備包含CV Meter單元、Test station單元、Chunk單元、Probe單元、PC控制單元。廠商隨機提供mos標準樣品。


序號

項目

功能要求

數(shù)量

單位

1

結構單元

MCV-530L測試臺

1

2

控制單元

馬達及氣動控制子系統(tǒng)

1

3

測量單元 

Model 52 CV測試單元

1

4

電腦

電腦系統(tǒng)

1

5

汞探針

直徑1.7mm的錐形毛細管汞探針

10


General System Capabilities系統(tǒng)總體指標

Parameter參數(shù)

Response響應指標

Voltage電壓

+/-250Vlots standard    

 

Ramp Rate升降壓速率

0 to 50 V/sec     

Typical Accuracy(see below) 精度(詳見下表)

+/-0.5% of reading

+/-0.2% of full scale

Capacitance電容

0 to 2000 pF at 1 MHz

0 to 20000 pF at 100kHz

Conductance電導

0 to 2000 uS

Chuck樣品臺

200 mm diameter (MCV-530: 300mm diameter)

 

Capacitance Measurements (rdg=reading; FS=Full Scale)  電容測試系統(tǒng)指標

Range范圍

Resolution分辨率

Accuracy精度

2 pF

0.5 fF

+/-(0.5% rdg +/- 0.5%FS)

20 pF

5 fF

+/-(0.5% rdg +/- 0.2%FS)

200 pF

50 fF

+/-(0.5% rdg +/- 0.2%FS)

2000 pF

0.5 pF

+/-(0.5% rdg +/- 0.2%FS)

20000 pF (100kHz only)

5 pF

+/-(0.5% rdg +/- 0.5%FS)

 

Conductance Measurements (rdg=reading; FS=Full Scale)  電導測試系統(tǒng)指標

Range范圍

Resolution分辨率

Accuracy精度

2 uS

0.5 nS

+/-(0.5% rdg +/- 0.5%FS)

20 uS

5 nS

+/-(0.5% rdg +/- 0.2%FS)

200 uS

50 nS

+/-(0.5% rdg +/- 0.2%FS)

2000 uS

0.5 uS

+/-(0.5% rdg +/- 0.2%FS)

 

Drive Signal  驅動信號指標

Nominal Frequency名義頻率

100 kHz

1 MHz

Actual Frequency實際頻率

100 kHz

0.9216 MHz

Frequency Accuracy頻率精度

+/- 0.01%

+/- 0.01%

Drive Voltage 驅動電壓

15mV, rms

15mV, rms


粵公網(wǎng)安備 44030402001250號