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	美國(guó)貝爾5280便攜式高斯計(jì)	美國(guó)貝爾5280便攜式高斯計(jì)F.W.BELL 5270特斯拉計(jì)場(chǎng)強(qiáng)儀漏磁檢測(cè)磁場(chǎng)5180代表了磁性測(cè)量設(shè)備的新設(shè)計(jì)。該設(shè)計(jì)采用了數(shù)字信號(hào)處理技術(shù)。F.W.Bell的動(dòng)態(tài)探頭校正允許測(cè)量0至30 kg，基本精度為1%。
	DLY-2型導(dǎo)電類型測(cè)試儀	DLY-2型導(dǎo)電類型測(cè)試儀采用溫差電法(也稱冷熱探筆法)和整流法來(lái)判斷單晶硅的導(dǎo)電類型的新一代專用測(cè)試儀器.特別采用了平面輕觸式開(kāi)關(guān)設(shè)計(jì);可隨機(jī)調(diào)零;各種工作狀態(tài)LED指示;自動(dòng)加熱,恒溫;以及大型LED數(shù)碼管直接顯示單晶(或多晶)的導(dǎo)電類型(N型或P型).具有體積小、重量輕、性能穩(wěn)定、測(cè)試簡(jiǎn)便、準(zhǔn)確可靠等優(yōu)點(diǎn)。
	WDY-4四探針測(cè)試儀	WDY-4四探針測(cè)試儀測(cè)量范圍：電阻率：0.00001～100000 Ω.cm(可擴(kuò)展)；方塊電阻：0.0001～1000000 Ω/□(可擴(kuò)展)；電導(dǎo)率：0.00001～100000 s/cm；電阻：0.00001～100000 Ω；
	泰克Tektronix TIVP系列IsoVu光隔離探頭	泰克Tektronix TIVP系列IsoVu光隔離探頭，IsoVu 技術(shù)采用光纖供電和光模擬信號(hào)路徑，以在測(cè)量系統(tǒng)和 DUT 之間實(shí)現(xiàn)完全的電隔離。由于支持探頭在共模電壓下獨(dú)立浮動(dòng)，隔離可大大降低共模干擾。
	MDV530單晶少子壽命測(cè)試儀	MDV530單晶少子壽命測(cè)試儀壽命測(cè)試范圍：5~7000μSμs；電阻率測(cè)量范圍：ρ>2Ω·cm 2. 測(cè)量重復(fù)性誤差≤±20
	WQ4851A半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試儀	WQ4851A半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試儀適用范圍：適用于各種半導(dǎo)體二極管、三極管、結(jié)型場(chǎng)效應(yīng)管JFET、MOS場(chǎng)效應(yīng)管MOSFET、絕緣柵雙極晶體管IGBT、可控硅、光耦、三端穩(wěn)壓器及壓敏電阻等器件的測(cè)試。
	WQ4850A半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試儀	WQ4850A半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試儀適用范圍：適用于各種半導(dǎo)體二極管、三極管、結(jié)型場(chǎng)效應(yīng)管JFET、MOS場(chǎng)效應(yīng)管MOSFET、絕緣柵雙極晶體管IGBT、可控硅、光耦、三端穩(wěn)壓器及壓敏電阻等器件的測(cè)試。
	WQ4835大功率數(shù)字存儲(chǔ)圖示儀	WQ4835大功率數(shù)字存儲(chǔ)圖示儀大功率：大集電極電流200A，數(shù)字存儲(chǔ)：本機(jī)可以存儲(chǔ)10幅圖形，也可以通過(guò)USB接口無(wú)限量存儲(chǔ)至電腦?？梢员４鏋樘囟ㄎ募袷剑部梢员４鏋镴PG、BMP等圖片格式。保存在電腦上的數(shù)據(jù)可以通過(guò)打印機(jī)打印圖片也可以通過(guò)USB接口下載至儀器。
	WQ4828A數(shù)字存儲(chǔ)晶體管特性圖示儀WQ4829A	WQ4828A數(shù)字存儲(chǔ)晶體管特性圖示儀WQ4829A顯示界面640×480 TFT彩色液晶顯示器，友好的人機(jī)界面。同步顯示：高速USB通信可以在測(cè)試器件的同時(shí)將圖形同步顯示在電腦屏幕上，使顯示界面大小得到了無(wú)限的擴(kuò)展。
	WQ4830A數(shù)字存儲(chǔ)晶體管特性圖示儀	WQ4830A數(shù)字存儲(chǔ)晶體管特性圖示儀數(shù)字存儲(chǔ)：本機(jī)可以存儲(chǔ)10幅圖形，也可以通過(guò)USB接口無(wú)限量存儲(chǔ)至電腦?？梢员４鏋樘囟ㄎ募袷?，也可以保存為JPG、BMP等圖片格式。保存在電腦上的數(shù)據(jù)可以通過(guò)打印機(jī)打印圖片也可以通過(guò)USB接口下載至儀器
	吉時(shí)利Keithley 2460觸摸屏數(shù)字源表	吉時(shí)利Keithley 2460觸摸屏數(shù)字源表，利用吉時(shí)利2450或2460型觸摸屏數(shù)字源表，實(shí)現(xiàn)可充電電池的充電/放電（賈法尼）電池循環(huán)，為了改進(jìn)或取代現(xiàn)有電池技術(shù)，研究人員正在研究延長(zhǎng)電池壽命同時(shí)降低充電電池成本的方法。常見(jiàn)的可充電電池種類包括鋰離子電池、鎳氫電池和鎳鎘電池
	Keithley 2450數(shù)字源表IV曲線追蹤儀軟件	Keithley 2450數(shù)字源表IV曲線追蹤儀軟件盡管工程師可以使用IV曲線追蹤儀執(zhí)行二極管的失效分析和參數(shù)檢定，但需要更先進(jìn)的IV曲線追蹤儀配置，即參數(shù)曲線追蹤儀，來(lái)測(cè)試MOSFET、IGBT 和其他高功率器件
	Keithley 2400數(shù)字源表圖形化系列SMU儀器	Keithley 2400數(shù)字源表圖形化系列SMU儀器在 2400 系列圖形化 SMU 上安裝 I-V 記錄器軟件，在功能上替換 Tektronix 576 或 370 等傳統(tǒng)波形記錄器。無(wú)需配置掃描或連接到其他軟件，即可快速探尋兩端器件的特征。
	DMM7510集高精度高分辨率數(shù)字萬(wàn)用表	泰克Tektronix DMM7510集高精度高分辨率數(shù)字萬(wàn)用表圖形觸摸屏顯示器和高速、高分辨率數(shù)字化器于一身，是一款圖形采樣萬(wàn)用表。其具有 pA 靈敏度和 1M 個(gè)樣點(diǎn)/秒的采樣率，能準(zhǔn)確測(cè)量超低睡眠模式電流和傳輸無(wú)線設(shè)備的漏電流。
	CXT2683A系列絕緣電阻測(cè)試儀CXT2683B	CXT2683A系列絕緣電阻測(cè)試儀CXT2683B集絕緣電阻測(cè)試儀、皮安計(jì)、數(shù)字電位計(jì)、數(shù)字高壓源表四合一的專業(yè)儀器。本儀器可輸出0.5V-1000V之間任意電壓，滿足各種測(cè)試電壓要求，具有電壓回讀功能，七量程測(cè)試，使絕緣電阻測(cè)量范圍可達(dá)：10KΩ-10TΩ，*大顯示位數(shù)9999數(shù)。儀器擁有分選功能，分選訊響設(shè)置，還可配備Handler接口，
	CXT2685超高阻測(cè)試儀CXT2687	CXT2685超高阻測(cè)試儀CXT2687是集絕緣電阻測(cè)試儀、皮安計(jì)、數(shù)字電位計(jì)、數(shù)字高壓源表四合一的專業(yè)儀器。本儀器可輸出0.5V-1000V之間任意電壓，滿足各種測(cè)試電壓要求，具有電壓回讀功能，七量程測(cè)試，使絕緣電阻測(cè)量范圍可達(dá)：10KΩ-100PΩ，
	CXT2661型四探針?lè)綁K電阻測(cè)試儀	CXT2661型四探針?lè)綁K電阻測(cè)試儀同時(shí)也是電阻率測(cè)試儀、電導(dǎo)率測(cè)試儀.本儀器是一款低功耗手持式儀器，適用于片狀或塊狀半導(dǎo)體材料的徑向和軸向電阻率及擴(kuò)散層的薄層電阻率測(cè)試、太陽(yáng)能等材料的測(cè)試，配置不同的測(cè)試探頭，可以測(cè)量柔性材料導(dǎo)電薄膜
	CXT2668系列四探針測(cè)試儀CXT2667	CXT2668系列四探針測(cè)試儀CXT2667是運(yùn)用四探針測(cè)量原理的多用途寬量程綜合測(cè)量設(shè)備, 同時(shí)也是電阻率測(cè)試儀、電導(dǎo)率測(cè)試儀.該儀器是按照單晶硅物理測(cè)試方法國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國(guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計(jì)的，可用于測(cè)試半導(dǎo)體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻及其它各種材料)的專用儀器
	CXT2665系列四探針?lè)綁K電阻測(cè)試儀	CXT2665系列四探針?lè)綁K電阻測(cè)試儀是運(yùn)用四探針測(cè)量原理的多用途寬量程綜合測(cè)量設(shè)備, 同時(shí)也是電阻率測(cè)試儀、電導(dǎo)率測(cè)試儀.該儀器是按照單晶硅物理測(cè)試方法國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國(guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計(jì)的，可用于測(cè)試半導(dǎo)體及其他各種材料電阻率及方塊電阻的專用儀器。儀器運(yùn)用雙電測(cè)原理，進(jìn)行多次測(cè)量，自動(dòng)消減樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機(jī)械游移等因素對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響，它與單電測(cè)相比，大大提高測(cè)量精度和一致性
	CXT2663系列四探針?lè)綁K電阻測(cè)試儀	CXT2663系列四探針?lè)綁K電阻測(cè)試儀是運(yùn)用四探針測(cè)量原理的多用途寬量程綜合測(cè)量設(shè)備, 同時(shí)也是電阻率測(cè)試儀、電導(dǎo)率測(cè)試儀.該儀器是按照單晶硅物理測(cè)試方法國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國(guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計(jì)的，可用于測(cè)試半導(dǎo)體及其他各種材料電阻率及方塊電阻的專用儀器。
	CXT5510電線電纜導(dǎo)體電阻率測(cè)試儀	CXT5510電線電纜導(dǎo)體電阻率測(cè)試儀是一款針對(duì)超低直流電阻測(cè)試專門設(shè)計(jì)開(kāi)發(fā)的一款高精度測(cè)試儀，界面清爽、操作便捷；量程范圍為：0.01uΩ~10MΩ；顯示位數(shù)為五位半；自動(dòng)雙向電流測(cè)試
	CXT3513電機(jī)電阻不平衡度測(cè)試儀	CXT3513電機(jī)電阻不平衡度測(cè)試儀是一款用于測(cè)量三相電機(jī)電阻不平衡度、極差的高精度測(cè)試儀. 其0.05%的基本精度、10uΩ的*小分辨率可以滿足大部分三相電機(jī)的電阻測(cè)試需求.本儀器還可同時(shí)顯示三相電機(jī)的端電阻與相電阻,方便用戶對(duì)電機(jī)的不平衡度/極差等參數(shù)進(jìn)行評(píng)估測(cè)試與分選.
	CXT5511電線電纜導(dǎo)體電阻率測(cè)試儀	CXT5511電線電纜導(dǎo)體電阻率測(cè)試儀是一款針對(duì)超低直流電阻測(cè)試專門設(shè)計(jì)開(kāi)發(fā)的一款高精度測(cè)試儀，界面清爽、操作便捷；量程范圍為：0.1uΩ~2MΩ；顯示位數(shù)為五位半；自動(dòng)雙向電流測(cè)試
	CXT5013系列體積表面電阻率測(cè)試儀	CXT5013系列體積表面電阻率測(cè)試儀，同時(shí)也可作為超高阻計(jì)或微電流測(cè)試儀使用。是運(yùn)用環(huán)形三電極法原理測(cè)量固體、液體絕緣材料體積電阻率和表面電阻率的多用途綜合測(cè)量裝置，電阻測(cè)試范圍10KΩ～10TΩ;
	英國(guó)比克 Pico 3000E系列示波器	英國(guó)比克 Pico 3000E系列示波器系列提供業(yè)界的2GS捕獲存儲(chǔ)器，可用于以5GS/s的速度進(jìn)行采樣降至20ms/div（總捕獲時(shí)間200ms）?；蛘?，存儲(chǔ)器可以被分割成多個(gè)段，以將數(shù)千個(gè)波形快速連續(xù)地捕獲到波形緩沖器中
	固緯電子GSP-930頻譜分析儀	固緯電子GSP-930頻譜分析儀，GSP-930頻譜分析儀頻率范圍: 9kHz ~ 3GHz - GSP-930頻譜分析儀高頻率穩(wěn)定度: 25ppb (0.025ppm)，RBW: 10Hz ~ 10kHz 1-3步進(jìn), 10kHz ~ 1MHz 10% 可調(diào)步進(jìn)，相位噪聲: -88dBc/Hz @1GHz, 10kHz Offset
	固緯電子GSP-827頻譜分析儀	固緯電子GSP-827頻譜分析儀，固緯電子GSP-827頻譜分析儀是一款在射頻測(cè)量應(yīng)用中使用非常方便的儀器，它擁有極易操作的設(shè)計(jì)和極高的性價(jià)比，還有非常便捷的可攜包。GSP-827覆蓋了 9kHz~2.7GHz的頻帶，專門為射頻產(chǎn)品的生產(chǎn)/開(kāi)發(fā)測(cè)試需求和無(wú)線通訊系統(tǒng)的現(xiàn)場(chǎng)維護(hù)/升級(jí)而設(shè)計(jì)的
	固緯電子GSP-830頻譜分析儀	固緯電子GSP-830頻譜分析儀，固緯電子所推出的3GHz頻譜分析儀GSP-830是掃瞄式頻譜分析儀中具有高性能、低準(zhǔn)位、易于操作和便于攜帶等多項(xiàng)優(yōu)點(diǎn)的分析儀器，能夠在高頻與通訊應(yīng)用上，提供學(xué)術(shù)研究、教育訓(xùn)練、電子組件設(shè)計(jì)與生產(chǎn)系統(tǒng)，以及自動(dòng)化測(cè)試中*專業(yè)的有效解決方案