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北京錦正茂科技有限公司
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物性測試系統(tǒng)
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產(chǎn)品圖片
產(chǎn)品名稱/型號
產(chǎn)品簡單介紹
材料電輸運(yùn)性質(zhì)測量儀器
TESTIK-9
電阻測量范圍寬:100nΩ(低電阻選件)~ 100GΩ(高阻系統(tǒng))
電輸運(yùn)、霍爾效應(yīng)、磁阻測試系統(tǒng)
可以進(jìn)行霍爾效應(yīng)、R-H特性、R-T特性和I-V特性的測量;使用插入式樣品卡,樣品安裝方便,同時提供四探針卡,免去制作電極的麻煩
物性測量系統(tǒng)材料電輸運(yùn)測量
TESTIK-9
可以進(jìn)行霍爾效應(yīng)、R-H特性、R-T特性和I-V特性的測量
實驗室材料電輸運(yùn)性質(zhì)測量儀器
系統(tǒng)考慮了集成一體性、屏蔽防干擾能力和操作人性化等用戶經(jīng)常忽略的問題,選取了美國Keithley的電測量儀表
電輸運(yùn)霍爾效應(yīng)和電阻的測量
提供長時間高穩(wěn)定性的磁場,24小時穩(wěn)定性<±0.5G,并且磁場能夠平滑過零
材料磁阻電阻電輸運(yùn)性質(zhì)測量
可以進(jìn)行霍爾效應(yīng)、R-H特性、R-T特性和I-V特性的測量。
實驗室材料電輸運(yùn)性質(zhì)測量設(shè)備
可以進(jìn)行霍爾效應(yīng)、R-H特性、R-T特性和I-V特性的測量,可??出參數(shù)。
實驗室材料電輸運(yùn)性質(zhì)測量系統(tǒng)
TESTIK-9
可以進(jìn)行霍爾效應(yīng)、R-H特性、R-T特性和I-V特性的測量,可得出參數(shù):方塊電阻、電阻率、霍爾系數(shù)、霍爾遷移率、載流子濃度和導(dǎo)電類型,可繪制以上參數(shù)隨溫度或磁場的變化曲線,以及I-V特性——不同磁場和不同溫度下的I-V特性曲線,R-H特性——固定溫度,電阻隨著磁場變化的特性曲線,R-T特性——固定磁場,電阻隨著溫度變化的特性曲線。
全自動化電輸運(yùn)性質(zhì)測量系統(tǒng)TESTIK-9
電阻率、霍爾系數(shù)及霍爾遷移率測試遵從美國材料與試驗協(xié)會ASTM-F76標(biāo)準(zhǔn)
材料電輸運(yùn)性質(zhì)研究測量系統(tǒng)
TESTIK-9
可得出參數(shù):方塊電阻、電阻率、霍爾系數(shù)、霍爾遷移率、載流子濃度和導(dǎo)電類型,可繪制以上參數(shù)隨溫度或磁場的變化曲線,以及I-V特性——不同磁場和不同溫度下的I-V特性曲線,R-H特性——固定溫度,
錦正茂電輸運(yùn)性質(zhì)測量系統(tǒng)TESTIK-9
錦正茂電輸運(yùn)性質(zhì)測量系統(tǒng)TESTIK-9 提供長時間高穩(wěn)定性的磁場,24小時穩(wěn)定性<±0.5G,并且磁場能夠平滑過零, 電磁鐵電源內(nèi)置高斯計,磁場從0到1kG只需20S即可控制在0.1G以內(nèi);
實驗室器材電輸運(yùn)性質(zhì)測量系統(tǒng)
TESTIK-9
可以進(jìn)行霍爾效應(yīng)、R-H特性、R-T特性和I-V特性的測量,可得出參數(shù):方塊電阻、電阻率、霍爾系數(shù)、霍爾遷移率、載流子濃度和導(dǎo)電類型,可繪制以上參數(shù)隨溫度或磁場的變化曲線,以及I-V特性——不同磁場和不同溫度下的I-V特性曲線,R-H特性——固定溫度,電阻隨著磁場變化的特性曲線,R-T特性——固定磁場,電阻隨著溫度變化的特性曲線。
實驗室電輸運(yùn)性質(zhì)測量系統(tǒng)
TESTIK-9
TESTIK-9系列電輸運(yùn)性質(zhì)測試系統(tǒng)是集霍爾效應(yīng)、磁阻、變溫電阻、I-V特性等測試于一體的全自動化測試系統(tǒng)。
錦正茂電輸運(yùn)性質(zhì)測量系統(tǒng)
TESTIK-9
TESTIK-9系列電輸運(yùn)性質(zhì)測試系統(tǒng)是集霍爾效應(yīng)、磁阻、變溫電阻、I-V特性等測試于一體的全自動化測試系統(tǒng)。系統(tǒng)**地考慮了集成一體性、屏蔽防干擾能力和操作人性化等用戶經(jīng)常忽略的問題,選取了美國Keithley的電測量儀表,磁場根據(jù)用戶需要采用電磁鐵或無液氦超導(dǎo)磁體,配備靈巧的測量樣品桿和快速插拔樣品卡,加上全自動化的專用測試軟件,能讓用戶快速方便地進(jìn)行電輸運(yùn)測試,并獲得準(zhǔn)確可靠的數(shù)據(jù)。
電輸運(yùn)性質(zhì)測量儀
TESTIK-9
電輸運(yùn)性質(zhì)測量儀是集霍爾效應(yīng)、磁阻、變溫電阻、I-V特性等測試于一體的全自動化測試系統(tǒng)。系統(tǒng)**地考慮了集成一體性、屏蔽防干擾能力和操作人性化等用戶經(jīng)常忽略的問題,選取了美國的電測量儀表,磁場根據(jù)用戶需要采用電磁鐵或無液氦超導(dǎo)磁體,配備靈巧的測量樣品桿和快速插拔樣品卡,加上全自動化的專用測試軟件,能讓用戶快速方便地進(jìn)行電輸運(yùn)測試,并獲得準(zhǔn)確可靠的數(shù)據(jù)。電輸運(yùn)性質(zhì)測量儀
電輸運(yùn)性質(zhì)測量系統(tǒng)
TESTIK-9
系統(tǒng)**地考慮了集成一體性、屏蔽防干擾能力和操作人性化等用戶經(jīng)常忽略的問題,選取了美國Keithley的電測量儀表,磁場根據(jù)用戶需要采用電磁鐵或無液氦超導(dǎo)磁體,配備靈巧的測量樣品桿和快速插拔樣品卡,加上全自動化的專用測試軟件,能讓用戶快速方便地進(jìn)行電輸運(yùn)測試,并獲得準(zhǔn)確可靠的數(shù)據(jù)。此外,TESTIK-9系列還有多種高低溫溫度環(huán)境選件。TESTIK-9系列電輸運(yùn)性質(zhì)測試系統(tǒng)是廣大科研工作者對材料進(jìn)行電輸運(yùn)性質(zhì)研究的理想選擇。電輸運(yùn)性質(zhì)測量系統(tǒng)
磁光克爾測量磁強(qiáng)計磁性測量
JMTS-816
磁光克爾測量磁強(qiáng)計磁性測量 廣泛應(yīng)用于諸如磁性納米技術(shù)、自旋電子學(xué)、磁性薄膜、磁性隨機(jī)存儲器、GMR/TMR等磁學(xué)領(lǐng)域。
磁性薄膜材料磁輸運(yùn)性能測量
JMTS-816
由于電磁鐵磁場大小的限制,只適合于測量磁各向異性的易軸在膜面內(nèi)而且矯頑場不太大的磁性薄膜材料。
磁光克爾磁輸運(yùn)性能測量設(shè)備
利用磁光克爾效應(yīng)測量磁性薄膜的磁信號和磁滯回線,確定磁性薄膜的磁各向異性隨薄膜厚度的影響。
磁光克爾效應(yīng)測量磁輸運(yùn)測量
JMTS-816
磁光克爾效應(yīng)測量系統(tǒng)廣泛應(yīng)用于諸如磁性納米技術(shù)、自旋電子學(xué)、磁性薄膜、磁性隨機(jī)存儲器、GMR/TMR等磁學(xué)領(lǐng)域。
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