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產(chǎn)品資訊

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噪聲分析儀紡織檢測儀器 Toc分析儀 PT-303紅外測溫儀轉(zhuǎn)矩測試儀繼電保護試驗儀定氮儀

北京錦正茂科技有限公司
新增產(chǎn)品 | 公司簡介
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產(chǎn)品圖片	產(chǎn)品名稱/型號	產(chǎn)品簡單介紹
	高溫磁場加熱系統(tǒng) GC350-200	主要技術(shù)指標： ※ 溫度范圍：室溫—350℃（硅片上邊溫度） ※ 控溫精度：±1℃ ※ 溫度分辨率：0.1℃ ※ 樣品尺寸：8英寸（需要有固定夾具，還有10mmx10mm,20mmx20mm樣品也需要考慮單獨固定）
	錦正茂科技低溫三維磁場探針臺	可以進行真空環(huán)境中的高低溫測試（10K~325K）。磁場強度在x軸上為0.75T，在Y軸上為0.75 T，在z軸上為0.4T。
	高低溫探針臺半導體光電測試 T8-LY100	1、真空腔體約直徑260mm， 2、帶有4英寸高透射觀察窗，材質(zhì)熔融石英 3、樣品載臺直徑：50mm 樣品載臺平整度<5微米
	高?？蒲袑嶒炇腋叩蜏靥结樑_ T8-LY100	可完成集成電路的電壓、電流、電阻以及IV曲線等參數(shù)檢測，用于低溫環(huán)境下的芯片、晶圓和器件的非破壞性電學測試。
	錦正茂科技定制高低溫探針臺 T8-LY100	高低溫探針臺T8-LY100能夠為半導體芯片的電學參數(shù)測試提供一個80K-420K高低溫測試環(huán)境，
	芯片測試設(shè)備真空磁場探針臺	實驗測量設(shè)備磁場探針臺芯片測試半導體儀器用于高低溫真空環(huán)境下的芯片測試，材料測試，霍爾測試，電磁輸運特性等。
	半導體材料測量探針臺真空磁場	半導體材料測量探針臺高低溫真空磁場環(huán)境高低溫真空環(huán)境下的芯片測試，材料測試，霍爾測試，電磁輸運特性等。
	氣氛型高溫探針臺鉑電阻溫度計 JZM-63H JZM-100H	快速實現(xiàn)室溫-200℃環(huán)境的控溫，可在真空環(huán)境下對樣品進行光學，電學測試。
	實驗室半導體材料測量探針臺 JZM-D30	實驗室半導體材料測量儀器定制精度實驗臺該探針臺和我司自主研發(fā)的精度雙極性恒流電源搭配使用，可以提高磁場的穩(wěn)性。
	氣氛型高溫探針臺測試系統(tǒng) JZM-63H JZM-100H	氣氛型高溫探針臺測試系統(tǒng)光學電學儀器此款探針臺可在真空環(huán)境下對樣品進行光學，電學測試。
	多維磁場探針臺測試系統(tǒng)	多維磁場探針臺測試系統(tǒng)無磁材質(zhì)半導體測試樣品臺直徑：50mm可定制；磁場分辨率：0.05 mT
	高低溫真空探針臺無氧銅樣品臺	高低溫真空探針臺測試系統(tǒng)鍍金無氧銅樣品臺可升級加載磁場，低溫防輻射屏設(shè)計。
	磁場探針臺多維磁場半導體測試	磁場探針臺產(chǎn)生多維磁場半導體測試設(shè)備三維探針臺和錦正茂自主研發(fā)的*精度雙極性電源相匹配，通過真正的雙極性電源輸出，實現(xiàn)了空間任意方向上的矢量場合成。
	光學電學測試高溫探針臺	氣氛型高溫探針臺真空環(huán)境材料光學電學測試控溫精度：±0.1k；真空度：10E-3Pa；
	實驗室半導體測試儀器光學平臺	該類型的探針臺主要依據(jù)客戶的使用情況進行設(shè)計優(yōu)化。
	三維磁場探針臺半導體測試實驗	廣泛應用于半導體工業(yè)、MEMS 、超導、電子學、鐵電子學、物理學、材料學和生物醫(yī)學等領(lǐng)域。
	真空探針臺高低溫測試實驗臺	應用于高低溫真空環(huán)境下的芯片測試，材料測試，霍爾測試，電磁輸運特性等。
	氣氛型高溫材料光學測試探針臺	快速實現(xiàn)室溫-200℃環(huán)境的控溫，可在真空環(huán)境下對樣品進行光學，電學測試。
	定制高低溫真空探針臺測試系統(tǒng)	錦正茂高低溫真空探針臺應用于高低溫真空環(huán)境下的芯片測試，材料測試，霍爾測試，電磁輸運特性等。
	多維磁場半導體材料測試探針臺	三維探針臺和錦正茂自主研發(fā)的*精度雙極性電源相匹配，通過真正的雙極性電源輸出，實現(xiàn)了空間任意方向上的矢量場合成。