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公司新聞

日本OTSUKA大塚電子 智能涂層測厚儀 SM-100

智能涂層測厚儀 SM-100 series

高精度便攜式薄膜測厚儀

“我無法在我想測量的地方立即測量” “
測量結(jié)果因人而異” “
測量精度差” 您在測量薄膜厚度時有過
這樣的經(jīng)歷嗎? 智能涂層測厚儀具有以下功能,可以解決您的問題。

 

  • ? 可帶到生產(chǎn)現(xiàn)場的手持式
  • ?任何人都可以使用它,因為它很容易
  • ? 即使使用手持式也可以進(jìn)行高精度測量。
  • ? 具有形狀的樣品也可以進(jìn)行無損測量。
項目 專業(yè)版 標(biāo)準(zhǔn)
SM-100P 系列 SM-100S 系列
測量方法 反射光譜法(光學(xué)干涉法)
測量薄膜厚度范圍*1 0.1~100μm(單層)
1~100μm(多層)
1~50μm (單層)
 
多層支持 *多 3 層 1 層
測量可重復(fù)性 2.1σ 0.01μm (氧化硅膜 1μm)
測量光斑直徑 Φ1mm 以下
測量時間 小于 1 秒
數(shù)據(jù)輸出格式 以文本格式導(dǎo)出到 U 盤
體型 約 138 (W) × 198 (D) × 61 (H) 毫米
重量 約 1.1 千克
行駛時間 4 小時或更長時間(測量)
電源電壓/電源 AC100-240V/35VA (交流適配器輸入)
防護(hù)等級 IP30/IK06 防護(hù)等級

*1 樣品折射率為 1.6 時