国产精品久久久久久亚洲,国产成人无码午夜视频在线观看 ,国产福利一区二区三区在线观看,国产av第一次处破,厨房玩弄丝袜人妻系列国产电影

首頁 >>> 公司新聞 >

公司新聞

日本OTSUKA大塚電子顯微涂層測厚儀OPTM-A2

OPTM 是一種通過使用顯微光譜測量微小區(qū)域的**反射率來實現(xiàn)高精度薄膜厚度和光學常數(shù)分析的設備。
它可以以非破壞性和非接觸的方式測量各種薄膜、晶圓和光學材料等鍍膜以及多層薄膜的厚度。 測量時間為 1 秒/點,屬于高速測量。 此外,它還配備了軟件,即使是初次使用的用戶也可以輕松分析光學常數(shù)。

類型 OPTM-A1 型 OPTM-A2 系列 OPTM-A3 系列
波長范圍 230~800 納米 360~1100 納米 900~1600 納米
厚度范圍*1 1 納米~35 微米 7 納米~49 微米 16 納米~92 微米
樣本量*2 *大 200×200×17 毫米
光斑直徑 φ5、φ10、φ20、φ40 微米

* 上述規(guī)格具有自動 XY 載物臺。

*1 薄膜厚度范圍為 SiO2它將被轉換。

*2 300 mm 載物臺請單獨聯(lián)系我們。


 

類型 自動 XY 載物臺型 固定框架類型 內(nèi)置頭型
尺寸(
寬×深×高)
556×566×618 毫米 368×468×491 毫米 210×441×474 毫米
90×250×190 毫米
*
重量 66 千克 38 千克 23 公斤
4 公斤
*
*大功耗 AC100V±10V 500VA AC100V±10V 400VA

*AC/DC 電源單元

 

配置圖

OPTMの構成図(自動XYステージタイプ)