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成都藤田科技有限公司
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日本大塚otsukael
產(chǎn)品圖片
產(chǎn)品名稱/型號
產(chǎn)品簡單介紹
大塚otsukael 高靈敏度NIR量子效率測量系統(tǒng)QE-5000
QE-5000
可以檢測到單線氧(活性氧)
日本大塚otsukael 量子效率測量系統(tǒng)QE-2100
QE-2100
可以立即測量**量子效率(**量子收率)。與粉末,溶液,固體(膜)和薄膜樣品兼容。停滯的光多通道光譜檢測器可顯著降低紫外線范圍內(nèi)的流浪光。此外,采用集成半球單元可以實現(xiàn)明亮的光學系統(tǒng),并且可以通過重新激發(fā)熒光校正來進行高度準確的測量,從而利用這一優(yōu)勢。此外,它可以測量量子效率的溫度依賴性,并適應(yīng)從紫外線到近紅外的各種波長。
大塚otsukael 非接觸分光干涉晶圓膜厚儀SF-3
即時檢測 WAFER基板于研磨制程中的膜厚 玻璃基板于減薄制程中的厚度變化 (強酸環(huán)境中) 產(chǎn)品特色 非接觸式、非破壞性光學式膜厚檢測 采用分光干涉法實現(xiàn)高度檢測再現(xiàn)性 可進行高速...
日本大塚otsukael 多波長多通道光譜儀 MCPD-6800
產(chǎn)品信息 特長 應(yīng)用廣泛的測量儀。 以*高機型MCPD-9800為首,一共有3種對應(yīng)12波長領(lǐng)域的測量儀。 我們可以根據(jù)客戶的需求和用途提出*適合的方案。 不同評價方法對應(yīng)不同設(shè)備
日本大塚otsukael 12波長多通道光譜儀 MCPD-9800
MCPD-9800
產(chǎn)品信息 特長 應(yīng)用廣泛的測量儀。 以*高機型MCPD-9800為首,一共有3種對應(yīng)12波長領(lǐng)域的測量儀。 我們可以根據(jù)客戶的需求和用途提出*適合的方案。 不同評價方法對應(yīng)不同設(shè)備
大塚otsukael 多樣品納米粒子徑測試系統(tǒng)·nanoSAQLA
nanoSAQLA
● nanoSAQLA是一臺通過動態(tài)光散亂法(DLS法)測量粒徑(粒徑0.6nm~10um)的裝置。支持從稀薄到濃厚系廣泛濃度范圍內(nèi)的多檢體測定的新光學系統(tǒng),實現(xiàn)了實驗室必需的輕量、小型化、標準1分鐘的高速測定。 另外,這是一款非浸泡型、不受接觸器影響、無需自動取樣器、標準配備“5檢體連續(xù)測量”的新產(chǎn)品。
日本大塚otsukael 顯微分光膜厚儀 OPTM series
OPTM-A1
● 非接觸 · 非破壞 · 顯微、對焦、測量1秒完成 ● OPTM系列顯微分光膜厚儀是一款可替代橢偏儀,測試膜厚、折射率n、消光系數(shù)k、**反射率的新型高精度、高性價比的分光膜厚儀。適用于各種可透光膜層的測試,并有****可針對透明基板去除背面反射,從而達到“真實反射率、膜厚”測試的目的。此外,軟件操作簡單、使用方便且簡化了復(fù)雜的建模流程
日本大塚otsukael Zeta電位,粒徑和分子量測量Elszneo
Elszneo
【ELSZneo使光散射的物性評價邁向新舞臺】ELSZneo是ELSZ series的***機型,除了在稀薄溶液~濃厚溶液中進行zeta電位(Zeta Potential,ζ-電位)和粒徑測定之外,還能進行分子量測定的裝置。作為新的功能,為了提高粒度分布的分離能力,采用了多角度測定。
日本大塚otsukael 0.1μm單位的便攜式Smart膜厚儀
Smart
● 可攜帶至現(xiàn)場的手持式 ● 可測量0.1μm單位 ● 具有形狀的樣品也可非破壞的測量 ● 不論基材材質(zhì)、可測量其鍍膜
日本大塚otsukael 光波動???三次元顯微鏡 MINUK
MINUK
MINUK可評價nm級的透明的異物?缺陷,一次拍照即可瞬時獲得深度方向的信息,可非破壞?非接觸?非侵入的進行測量。且無需對焦,可在任意的面進行高速掃描,輕松決定測量位置。
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