特征

紅外板厚度監(jiān)測(cè)器測(cè)量半透明板的厚度，如電池隔板、低反射涂層，如黑色光刻膠和硅。它可用于從實(shí)驗(yàn)室水平到生產(chǎn)中在線 100% 檢查的所有應(yīng)用。紅外吸收系統(tǒng)由一個(gè)帶有透射式光學(xué)系統(tǒng)的緊湊型鏡面探頭組成，可以同時(shí)測(cè)量多個(gè)參數(shù)，例如薄膜厚度、密度和成分，超過(guò) 100 個(gè)波長(zhǎng)。

1. 1

   測(cè)量半透明片材、低反射膜、硅等的厚度，這在光學(xué)干涉測(cè)量法中是難以實(shí)現(xiàn)的

2. 2

   緊湊型探頭

   通過(guò)采用小型 30 mm 反射探頭，它可以安裝在設(shè)備或生產(chǎn)線的狹小空間內(nèi)。此外，由于探頭僅通過(guò)光纖電纜連接到主體，因此具有優(yōu)異的耐環(huán)境性。

3. 3

   高速測(cè)量
   在 100 個(gè)點(diǎn)或更多點(diǎn)同時(shí)對(duì) 950 nm 至 1650 nm 的近紅外波長(zhǎng)進(jìn)行采樣

4. 4

   厚度測(cè)量再現(xiàn)性 0.1% 以下 （3σ）

5. 5

   測(cè)量算法

   算法	校準(zhǔn)樣品	參數(shù)數(shù)量
   蘭伯特-比爾定律	1	厚度
   *小二乘回歸法	2 個(gè)或更多	多個(gè)參數(shù) （厚度、密度、復(fù)合比例等）