美國Trek Model 511 手持式靜電場測試儀是一款高品質(zhì)的, 手持式的, 截波穩(wěn)定, 非接觸式的靜電場強計。Model 511手持式靜電場強計設(shè)計用途是在靜電敏感區(qū)測試和稽核靜電電壓，以至于使用者可以在靜電產(chǎn)生問題之前發(fā)現(xiàn)它。Trek-511手持式靜電場強計的特點有：通過LED指示燈的開關(guān)，Model 511手持式靜電場強計可選測量范圍有±2 kV 或者 ±20 kV, 增加儀器的靈活性以及使操作人員更方便的使用。在有離子風(fēng)機以及沒有離子風(fēng)機的環(huán)境下使用者也可以通過這款儀器得到可靠和**的測量值。當你選購了離子風(fēng)機測試工具包后（包含Model 511 主機、Model 511-CP 金屬板以及Model 511-CH 充電器），Trek-511還可以用于測試離子風(fēng)機的平衡電壓。

Trek Model 511 手持式靜電場測試儀特點與優(yōu)點
可應(yīng)用于測量離子風(fēng)機平衡電壓(外加離子發(fā)生器測試工具箱)
按鈕“自動調(diào)零”功能可消除偏置電壓
緊湊、小型尺寸
易讀的LED顯示
測距系統(tǒng)利用LED來指示儀器與被測物一英寸的間距
Hold功能讓使用者在不方便讀值的地方保持一個測試讀值
截波穩(wěn)定的探測技術(shù)
各單位提供可追溯到NIST的校準證書
符合CE標準

Trek Model 511 手持式靜電場強計典型的應(yīng)用包括
檢查/監(jiān)視靜電放電
測試表面電壓 (光電導(dǎo)體, 介質(zhì)表面)
測量半導(dǎo)體制程中中的ESD問題
用于測量薄膜, 高分子材料, 和紙張的靜電電位
評估材料、設(shè)備和人體的產(chǎn)生的電壓
測量離子風(fēng)機的平衡電壓和元器件的帶電電壓

重要參數(shù)規(guī)格測量范圍: 
      低量程:0 to ±2 kV
      高量程:0 to ±20 kV
測量精度: 電壓測量輸出:優(yōu)于讀值的±5% ±10 mV
      電壓顯示:優(yōu)于讀值的±5% ±2counts

Trek Model 511 手持式靜電場強計性能
測試范圍(切換開關(guān)可選擇)
低量程0 to ±2 kV
高量程0 to ±20 kV
量測精度：根據(jù)TREK的測試和校正中心，使用PE15024的夾具得出
電壓檢測輸出：優(yōu)于讀值的±5% ±10 mV
電壓顯示：優(yōu)于讀值的±5% ±2counts 0 to ±2 kV
量測穩(wěn)定性：±10 counts電壓監(jiān)控
輸出：滿量程時輸出2V
比例
低倍率：測量電壓的1/1000
高倍率：測量電壓的1/10000前面板表
電壓顯示：三位半LED顯示器
范圍
低:測量顯示：0 to ±1.999 kV
高:測量顯示：0 to ±19.99 kV
顯示解析度
低量程:電壓分辨率1V
高量程:電壓分辨率10 V
采樣頻率:每秒采樣三次產(chǎn)品特點
接地插頭:提供接地線連接件
自動停止:若連續(xù)20分鐘沒有操作，設(shè)備會自動切斷開關(guān)
測距系統(tǒng):LED 距離指示器;在一英寸的距離聚焦于待測物體上
范圍/零 開關(guān):LED 距離指示器.使儀器復(fù)位到零并選擇測量范圍
電量不足指示燈:用LCD顯示器來指示低電量
Hold開關(guān):按下后，保持顯示讀值常規(guī)
尺寸:23.9 mm H x 69.9 mm W x 125.5 mm L
重量:140 g
電壓監(jiān)控器連接件:2.5 mm jack (3/32") monophone
使用條件
溫度:10°C ~30°C
相對濕度:~80%, 無凝露
高度:To 2000 m (6561.68 ft.)

電源必備品
電源:一塊9V堿性電池 (需自備)
操作時間:新電池能連續(xù)使用至少50小時
電源開關(guān):設(shè)計了一個保護開關(guān)防止意外打開電源

包含配件:操作指南 PN: 23480
可選配件:離子風(fēng)機測試工具包 Model: 511 離子風(fēng)機測試包(包括： Trek-511場強計, 充電板、充電器)產(chǎn)品認證
校準:TREK, INC.驗證每一臺511都用到可溯源到美國國家標準的儀器去測量和校準，從而確定他的技術(shù)規(guī)格。每臺儀器在出貨的時候都會附帶校準證書CE標準兼容:IEC 61010-1 對于電氣設(shè)備的測量控制和實驗室使用的**規(guī)格– part 1：一般要求IEC61326-1 電氣設(shè)備的測量控制和實驗室使用 – part 1：一般要求