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一.描述：
采用范德堡測(cè)量原理能解決樣品因幾何尺寸、邊界效應(yīng)、探針不等距和機(jī)械游移等外部因素對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響及誤差，提供通訊接口，PC軟件數(shù)據(jù)處理及數(shù)據(jù)分析.中文或英文語言版本.
雙電四探針電阻率測(cè)試儀
二.參照標(biāo)準(zhǔn)：
硅片電阻率測(cè)量的標(biāo)準(zhǔn)（ASTM F84）及國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)制造；GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流四探針法》.
雙電四探針電阻率測(cè)試儀
三.適用范圍：
適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，是檢驗(yàn)和分析半導(dǎo)體材料質(zhì)量的工具；液晶顯示，自動(dòng)測(cè)量和系數(shù)補(bǔ)償，并帶有溫度補(bǔ)償功能，自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程；采用AD芯片控制，恒流輸出，選配：PC軟件，保存和打印數(shù)據(jù)，生成報(bào)表
用于：覆蓋膜;導(dǎo)電高分子膜，高、低溫電熱膜;隔熱、導(dǎo)電窗膜 導(dǎo)電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標(biāo)簽、合金類箔膜;熔煉、燒結(jié)、濺射、涂覆、涂布層，電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料，其他半導(dǎo)體材料、薄膜材料方阻測(cè)試等相關(guān)產(chǎn)品
雙電四探針電阻率測(cè)試儀
四.型號(hào)及參數(shù)
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規(guī)格型 |
FT-331 |
FT-332 |
FT-333 |
FT-334 |
FT-335 |
FT-336 |
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1.方塊電阻范圍 |
10-5～2×105Ω/□ |
10-4～2×105Ω/□ |
10-3～2×105Ω/□ |
10-3～2×104Ω/□ |
10-2～2×105Ω/□ |
10-2～2×104Ω/□ |
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2.電阻率范圍 |
10-6～2×106Ω-cm |
10-5～2×106Ω-cm |
10-4～2×106Ω-cm |
10-4～2×105Ω-cm |
10-3～2×106Ω-cm |
10-3～2×105Ω-cm |
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測(cè)試電流范圍
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0.1μA ，1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100mA |
10μA，100μA，1mA，10mA，100mA |
0.1μA ，1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100mA |
10μA，100μA，1mA，10mA， 100mA |
0.1μA，1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100mA |
1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100mA |
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4.電流精度 |
±0.1% |
±0.2% |
±0.2% |
±0.3% |
±0.3% |
±0.3% |
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5.電阻精度 |
≤0.3% |
≤0.3% |
≤0.3% |
≤0.5% |
≤0.5% |
≤0.5% |
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6.顯示讀數(shù) |
液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率 |
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7.測(cè)試方式 |
普通單電測(cè)量 |
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8.工作電源 |
輸入: AC 220V±10%.50Hz 功 耗：<30W |
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9.誤差 |
≤4%（標(biāo)準(zhǔn)樣片結(jié)果） |
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10.選購功能 |
選購1.pc軟件； 選購2.方形探頭； 選購3.直線形探頭； 選購4.測(cè)試平臺(tái)；5.標(biāo)準(zhǔn)電阻
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11.測(cè)試探頭 |
探針間距選購：1mm；2mm；3mm三種規(guī)格; 探針材質(zhì)選購：碳化鎢針;白鋼針；鍍金磷銅半球形針 |
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