企業(yè)信息
第9年
- 入駐時間： 2013-07-04
- 聯(lián)系人：熊頂芳
- 電話：0574-27868496
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產(chǎn)品詳情
簡單介紹：
高溫電阻率測試儀采用PC軟件一套，USB通訊接口，軟件界面同步顯示、分析、保存和打印數(shù)據(jù)！ 多功能，測試量程范圍寬，可更換探針結(jié)構(gòu)，高溫電阻率測試儀
詳情介紹：
高溫電阻率測試儀
1、電阻測量范圍： 1×104Ω ～1×1013Ω。
電 阻 率：1.0×104 ～ 2.0×1013 Ω-m；
2、液晶顯示: 電阻率、溫度、電流電壓、可輸入測試樣品數(shù)據(jù)；單位可以切換（mm、cm、m）
3、內(nèi)置測試電壓：0-1000V任意可設(shè)定
4、基本準(zhǔn)確度：2%
高溫電阻率測試儀
5、機(jī)內(nèi)測試電壓: 10/50/100/250/500/1000V 任意設(shè)定
6、供電形式: AC 220V，50HZ，功耗約5W
7、測量模式：手動/自動量程。帶PC測試軟件，USB通訊接口，軟件界面同步顯示、分析、保存和打印數(shù)據(jù)！
8、常用電極(夾具)裝置：固體狀三環(huán)電極裝置
9.*高溫度： 1200℃可調(diào)節(jié)；沖溫值：≤1-3℃；控溫精度：±1°C
10、升溫速度：9999分鐘以內(nèi)自由設(shè)定,一般10分鐘內(nèi)即可升到900℃；功率：3kw.
11、爐膛材料：采用復(fù)合陶瓷纖維材料，具有真空成型，高溫不掉粉的特征。
12.選購：電腦和打印機(jī)
高溫電阻率測試儀
用于：企業(yè)、高等院校、科研部門對導(dǎo)電陶瓷、硅、鍺單晶（棒料、晶片）電阻率、測定硅外延層、擴(kuò)散層和離子注入層的方塊電阻以及測量導(dǎo)電玻璃（ITO）和其它導(dǎo)電薄膜等新材料方塊電阻、電阻率和電導(dǎo)率數(shù)據(jù).
雙電測四探針儀是運(yùn)用直線四探針雙位測量。設(shè)計參照單晶硅物理測試方法并參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。
采用四探針雙電組合測量方法測試方阻和電阻率系統(tǒng)與高溫箱結(jié)合配置高溫四探針測試探針治具與PC軟件對數(shù)據(jù)的處理和測量控制，解決半導(dǎo)體材料的電導(dǎo)率對溫度變化測量要求，軟件實(shí)時繪制出溫度與電阻，電阻率，電導(dǎo)率數(shù)據(jù)的變化曲線圖譜，及過程數(shù)據(jù)值的報表分析.
高溫電阻率測試儀
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