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全部產(chǎn)品分類
企業(yè)信息
9
  • 入駐時間: 2013-07-04
  • 聯(lián)系人:熊頂芳
  • 電話:0574-27868496
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  • Email:18157427371@163.com
產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:超高阻雙電四探針測量儀

  • 產(chǎn)品型號:FT-371
  • 產(chǎn)品廠商:ROOKO
  • 產(chǎn)品價格:0
  • 折扣價格:0
  • 產(chǎn)品文檔:
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簡單介紹:
超高阻雙電四探針測量儀可以測試到1010Ω方阻值,超高阻雙電四探針測量儀參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn).恒流輸出, 四探針雙位測量.超高阻雙電四探針測量儀有中或英文語言版本.超高阻雙電四探針測量儀,覆蓋膜;導(dǎo)電高分子膜,高、低溫電熱膜;隔熱、導(dǎo)電窗膜 導(dǎo)電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標(biāo)簽、合金類箔膜;熔煉、燒結(jié)、濺射、涂覆、涂布層,電阻式。
詳情介紹:


超高阻雙電四探針測量儀

應(yīng)用說明Widely used

覆蓋膜;導(dǎo)電高分子膜,高、低溫電熱膜;隔熱、導(dǎo)電窗膜 導(dǎo)電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標(biāo)簽、合金類箔膜;熔煉、燒結(jié)、濺射、涂覆、涂布層,電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料,其他半導(dǎo)體材料、薄膜材料方阻測試

硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻  半導(dǎo)體材料/晶圓、太陽能電池、電子元器件,導(dǎo)電薄膜(ITO導(dǎo)電膜玻璃等),金屬膜,導(dǎo)電漆膜,蒸發(fā)鋁膜,PCB銅箔膜,EMI涂層等物質(zhì)的薄層電阻與電阻率  導(dǎo)電性油漆,導(dǎo)電性糊狀物,導(dǎo)電性塑料,導(dǎo)電性橡膠



超高阻雙電四探針測量儀



功能概述Overview

1. 可以測試到1010Ω方阻值.

2. 液晶顯示,高精度AD芯片控制.

3. 恒流輸出, 四探針雙位測量.

4. 參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn).

5. 中或英文語言版本.

超高阻雙電四探針測量儀

參數(shù)資料 Parameters

超高阻雙電四探針測量儀

規(guī)格型號model

FT-371A

FT-371B

FT-371C

1.方塊電阻范圍sheet resistance

10-41×107Ω/□

10-41×109Ω/□

10-41×1010Ω/□

2.電阻率范圍resistivity

10-52×108Ω-cm

10-52×1010Ω-cm

10-52×1011Ω-cm

3.測試電流范圍test current

10mA ---200pA

10mA ---20pA

10mA ---2pA

4.電流精度current accuracy

±2%

±2%

±5%

5.電阻精度resistance accuracy

≤10%

≤10%

≤15%

6.顯示讀數(shù)display

液晶顯示:電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率

LCD: Resistance. resistivity. sheet resistance. temperature. unit conversion.temperature coefficient. current. voltage. probe shape. probe spacing. thickness. conductivity

7.測試方式test mode

組合雙電測試方法combined double electric test method

8.工作電源working power

輸入: AC 220V±10%.50Hz功 耗:<30W

9.誤差errors

Machine uncertain≤15%

10.選購功能choose to buy

選購1.pc軟件; 選購2.方形探頭; 選購3.直線形探頭; 選購4.測試平臺1.pc software; 2. square probe; 3. linear probe; 4. test platform

11.測試探頭test probe

探針間距選購: 2mm3mm兩種規(guī)格; 探針材質(zhì)選購:碳化鎢針、鍍金磷銅半球形針Optional probe spacing: 1mm;2mm3mm in three sizes.Select probe material: tungsten carbide needle. white steel needle. gilded copper hemispherical needles.

超高阻雙電四探針測量儀


工作原理和計算公式

1.雙電測四探針法測試薄層樣品方阻計算和測試原理如下

直線四探針測試布局如圖8,相鄰針距分別為S1、S2、S3,根據(jù)物理基礎(chǔ)和電學(xué)原理:

當(dāng)電流通過1、4探針,2、3探針測試電壓時計算如下:

超高阻雙電四探針測量儀


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