四探針方塊電阻測試儀原理采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時顯示液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度、電導(dǎo)率，

四探針方塊電阻測試儀原理配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測試項目要求選購.

雙電測數(shù)字式四探針測試儀是運用直線或方形四探針雙位測量。該儀器設(shè)計符合單晶硅物理測試方法國家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。利用電流探針、電壓探針的變換，進行兩次電測量，

對數(shù)據(jù)進行雙電測分析，自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機械游移等因素對測量結(jié)果的影響，它與單電測直線或方形四探針相比，大大提高**度，特別是適用于斜置式四探針對于微區(qū)的測試。

四探針方塊電阻測試儀原理

1.方塊電阻范圍：10¹～2×10¹⁰Ω/□

2.電阻率范圍：10²～2×10¹¹Ω-cm

3.測試電流范圍：1mA ---1pA  

4.電流精度：±0.1%讀數(shù)

5.電阻精度：10⁸Ω以下≤5%  ；10⁸Ω以上≤20%

6.測試方式: 雙電測量

7.工作電源: 輸入: AC 220V±10% ,50Hz  功 耗：<30W

8.整機不確定性誤差: ≤4%（標(biāo)準(zhǔn)樣片結(jié)果）

9.選購功能: 選購1.pc軟件； 2.方形探頭； 3.直線形探頭； 4.測試平臺

10.測試探頭：  探針間距選購：1mm；2mm；3mm三種規(guī)格; 探針材質(zhì)選購：碳化鎢針;白鋼針；鍍金磷銅半球形針

四探針方塊電阻測試儀原理配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示，無需人工計算，并帶有溫度補償功能，電阻率單位自動選擇，儀器自動測量并根據(jù)測試結(jié)果自動轉(zhuǎn)換量程，無需人工多次和重復(fù)設(shè)置.廣泛用于：外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻  半導(dǎo)體材料/晶圓、太陽能電池、電子元器件，導(dǎo)電薄膜（ITO導(dǎo)電膜玻璃等），金屬膜，導(dǎo)電漆膜，蒸發(fā)鋁膜，PCB銅箔膜。

四探針方塊電阻測試儀原理