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產(chǎn)品資料

電子高溫高濕試驗箱,電子元器件高溫高濕測試箱廠家

電子高溫高濕試驗箱,電子元器件高溫高濕測試箱廠家
  • 如果您對該產(chǎn)品感興趣的話,可以
  • 產(chǎn)品名稱:電子高溫高濕試驗箱,電子元器件高溫高濕測試箱廠家
  • 產(chǎn)品型號:KW-TH-150Z
  • 產(chǎn)品展商:科文
  • 產(chǎn)品文檔:無相關文檔
簡單介紹
電子高溫高濕試驗箱,電子元器件高溫高濕測試箱廠家東莞市科文試驗設備有限公司專業(yè)生產(chǎn)銷售的高溫高濕試驗箱性能溫度,性價比高,功能**,KW-TH系列高溫高濕試驗箱可測試的功能包括:高溫、低溫、高低溫循環(huán)、高低溫恒溫、濕熱,濕熱交變、濕熱循環(huán)、濕熱恒定、高溫高濕、高溫低濕、低溫高濕等溫濕度功能。
產(chǎn)品描述
 電子高溫高濕試驗箱,電子元器件高溫高濕測試箱廠家東莞市科文試驗設備有限公司專業(yè)生產(chǎn)銷售的高溫高濕試驗箱性能溫度,性價比高,功能**,KW-TH系列高溫高濕試驗箱可測試的功能包括:高溫、低溫、高低溫循環(huán)、高低溫恒溫、濕熱,濕熱交變、濕熱循環(huán)、濕熱恒定、高溫高濕、高溫低濕、低溫高濕等溫濕度功能。

科文牌電子高溫高濕試驗箱,電子元器件高溫高濕測試箱用于測試電子、電器、電機、電腦、電源、電線、電纜、電路板、線路板、電容器、電阻、電感、半導體、LED、LCD、PCB、FPC、IC、光伏組件、太陽能組件、光電、光纖、通訊設備、數(shù)碼產(chǎn)品、玩具、運動器材、印刷、照明、塑膠、塑料、橡膠、膠粘、粘合劑、化工、涂料、建材、五金、陶瓷、**、航空、航天、汽車、船舶等行業(yè)的產(chǎn)品材料及零部件在高溫、低溫、濕度、高低溫循環(huán)、高低溫恒定、濕熱交變、濕熱恒定、高溫高濕、高溫低濕、低溫高濕等溫濕度環(huán)境下使用時的適應能力。


電子高溫高濕試驗箱濕度控制能力范圍表:


高溫高濕試驗箱選型表:


科文高溫高濕試驗箱控制系統(tǒng)優(yōu)勢及操作運行畫面:
科文高溫高濕試驗箱采用由科文公司自主研發(fā)的
KW-890可程式微電腦溫濕度控制器:7英寸中英文彩觸摸屏式人機界面(畫面對談式)電腦控制USB曲線記錄,數(shù)據(jù)儲存裝置.

優(yōu)勢一:大屏幕逼真彩色畫面TFT LCD(LED 背光) 7英寸TFT真彩VGA(800x480)

優(yōu)勢二:人機對話式觸摸屏輸入系統(tǒng),操作簡單易學,功能強大,并可于LCD畫面上了解程序設定之曲線及監(jiān)測過程;

優(yōu)勢三:PV曲線/組曲線實時表示溫、濕度PV,SV曲線,表示歷史儲存的曲線,表示組曲線及進行狀態(tài);  

優(yōu)勢四:可設定程序120組,1200段,循環(huán)次數(shù)可達999次,每段時間*大設定99小時59分;  

優(yōu)勢五:提供USB通訊接口可備份/歷史曲線/歷史數(shù)據(jù),使用便捷;還可選配RS485接口,RS232通信接口,可通過PC隨意控制和監(jiān)視。   

優(yōu)勢六:具有程序修正、**、預約、啟動、停電、記憶、按鍵鎖定等功能;

優(yōu)勢七:畫面保護器功能,程式運行時可以設定操作條件,一個段次的運行時間(530小時59分),每段可以設定待機開關,定值*大999999小時;  

優(yōu)勢八:具有多種報警功能,故障發(fā)生同時,可通過熒幕故障顯示,消除故障; 

優(yōu)勢九:把記錄錯誤履歷,提供使用者查閱,全部畫面提供英語、中國語;  

優(yōu)勢十:BMP文件表示通過USB下載歷史曲線為BMP圖片格式文件。

科文KW-890溫濕度控制器運行畫面:



電子高溫高濕試驗箱采用原裝進口制冷機組:


符合標準:

國際電工委員會標準,IEC68-2-03_試驗方法Ca_穩(wěn)態(tài)濕熱    
國際電工委員會標準,IEC68-2-01_試驗方法A_冷    
國際電工委員會標準,IEC68-2-02_試驗方法B_干熱    
中國國家標準,GB/T 2423.1-2001 低溫    
中國國家標準,GB/T 2423.2-2001 高溫    
中國國家標準,GB/T 2423.3-1993 恒定濕熱試驗方法    
中國國家標準,GB2423.34-86 溫濕度組合循環(huán)試驗    
中國國家標準,GB/T2423.4-93方法    
中國國家**環(huán)境試驗設備方法,GJB150.9-8 濕熱試驗

美國**標準,MIL-STD-810F-507.4 濕度    
美國**標準,MIL-STD-810F-501.4 高溫    
美國**標準,MIL-STD-810F-502.4 低溫    
美國**標準,MIL-STD883C方法1004.2溫濕度組合循環(huán)試驗    
美國**標準,MIL-STD810D方法502.2    
美國**標準,MIL-STD810方法507.2程序3        
美國半導體行業(yè)標準,JESD22-A101-B-2004 恒定溫濕度試驗    
美國半導體行業(yè)標準,JESD22-A103-C-2004 高溫儲存試驗    
美國半導體行業(yè)標準,JESD22-A119-2004 低溫儲存試驗    

日本工業(yè)標準,JIS C60068-2-3-1987 試驗Ca:濕熱、穩(wěn)態(tài)    
日本工業(yè)標準,JIS C60068-2-2-1995 試驗B:干熱    
日本工業(yè)標準,JIS C60068-2-1-1995 試驗A:低溫


 電子高溫高濕試驗箱,電子元器件高溫高濕測試箱廠家專業(yè)為電子行業(yè)研發(fā)設計各類可靠測試設備包括,高溫高濕試驗箱、恒溫恒濕試驗箱、高低溫試驗箱、紫外線老化試驗箱、冷熱沖擊試驗箱、快速溫變試驗箱、高溫老化試驗箱、淋雨試驗箱、沙塵試驗箱、氙燈耐候試驗箱、步入式恒溫恒濕試驗室、步入式高低溫試驗室、拉力試驗機、跌落試驗機、振動試驗機等試驗設備。


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