溫度循環(huán)濕冷凍濕熱測試箱
技術(shù)規(guī)格
★ 執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):IEC 61215-2005、IEC 61646-2008、IEC 61730:2-2004、UL 1703-2004
□ 主要技術(shù)指標(biāo):
溫度范圍:-40℃~+100℃
濕度范圍:30~98%R.H.(低濕另議)
溫度波動度:≤0.5℃
溫度均勻度:±2.0℃ (空載時)
濕度偏差:±5%R.H.
□ 試驗(yàn)箱構(gòu)成
內(nèi)室、外殼材質(zhì):SUS304#不銹鋼
原裝進(jìn)口全封閉制冷壓縮機(jī)組
原裝進(jìn)口可編程溫濕度控制儀
觀察窗采用多層防霧鋼化玻璃,含照明系統(tǒng)
玻璃纖維保溫材料
□ 全系統(tǒng)管路均通過通氮加壓24H檢漏測試
□ **保護(hù):保護(hù)開關(guān)、工作室超溫報警保護(hù)、
壓縮機(jī)超載、欠壓、過熱保護(hù)、風(fēng)機(jī)過電流保護(hù)...
n 熱循環(huán)試驗(yàn):
-40℃~85℃循環(huán)試驗(yàn),要求組件表面不允許結(jié)冰,需制冷除濕。
附件:200次的熱循環(huán)需直流穩(wěn)壓穩(wěn)流電源(含溫度控制)、數(shù)據(jù)采集器
n 濕-熱試驗(yàn):
85℃、85%RH條件下1000小時。
n 濕-凍試驗(yàn):
① IEC 61215-2005(晶體硅組件):-40℃~85℃循環(huán)試驗(yàn),要求35℃~85℃時濕度控制在85±5%RH,要求組件表面結(jié)冰,需安裝特殊加濕裝置,升降溫時加濕。
② IEC 61646-2008(薄膜組件):-40℃~85℃循環(huán)試驗(yàn),溫度85℃時濕度控
制在85±5%RH,升降溫時無濕度控制要求。