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產(chǎn)品資料

CSI原子力顯微鏡

CSI原子力顯微鏡
  • 如果您對(duì)該產(chǎn)品感興趣的話,可以
  • 產(chǎn)品名稱:CSI原子力顯微鏡
  • 產(chǎn)品型號(hào):Nano-Observer
  • 產(chǎn)品展商:CSI
  • 產(chǎn)品文檔:無(wú)相關(guān)文檔
簡(jiǎn)單介紹
法國(guó)CSI原子力顯微鏡——*具性價(jià)比的解決方案。法國(guó)CSI原子力顯微鏡廣泛應(yīng)用于納米科學(xué)領(lǐng)域、材料、表面科學(xué)、聚合物、薄膜、半導(dǎo)體、生物材料、光電、導(dǎo)電表面表征…
產(chǎn)品描述

法國(guó)CSI原子力顯微鏡


CSI原子力顯微鏡的詳細(xì)介紹



多種工作模式

接觸模式

輕敲模式

CAFM(導(dǎo)電AFM

PFM(壓電力)

MFM/EFM(磁力/靜電力)

FMM(力調(diào)制)

HD-KFM(開(kāi)爾文力)

ResiScope(擴(kuò)散電阻)

STM

 

*佳的電特性測(cè)量模塊

HD-KFM :

市場(chǎng)上*高的分辨率和靈敏度

更好的算法,更好的鎖相靈敏度

易用使用,自動(dòng)調(diào)用智能算法

ResiScope :

10個(gè)數(shù)量級(jí)測(cè)量范圍——100Ω~1TΩ之間(競(jìng)爭(zhēng)者*多只覆蓋了7個(gè)數(shù)量級(jí))

較低的電流流經(jīng)探針/樣品(不會(huì)局部氧化,不會(huì)因?yàn)楦唠娏鲹p害探針/樣品)

同時(shí)兼容AC模式成像和EFM/MFM 模式或者HD-KFM 模式,不用做任何變動(dòng)而丟失樣品的位置!

 Soft-ResiScope :

仍然有10個(gè)數(shù)量級(jí)的測(cè)量范圍,更適合軟性樣品成像和電阻/電流測(cè)量。

 

適用于多種環(huán)境的測(cè)量

溫度控制:

*高可達(dá)200°

對(duì)于壓電器件可以進(jìn)行更穩(wěn)定的加熱分離(不漂移)

與大氣控制、液體模式和所有電測(cè)量模式(KFM,CAFM, ResiScope…) 相兼容

大氣控制(氣體和濕度):

濕度控制不會(huì)損害光電探測(cè)器和激光器

光電探測(cè)器和激光器可以正常調(diào)節(jié)對(duì)齊

容易和快速設(shè)置

與所有電測(cè)量模式(KFM,CAFM, ResiScope…) 相兼容

液體測(cè)量:

壓電保護(hù)

激光容易對(duì)準(zhǔn)(可以利用頂部CCD在空氣中對(duì)準(zhǔn)激光)

非常穩(wěn)定的輕敲模式的使用

 

高品質(zhì)的測(cè)量

平移式壓電掃描器:

三軸獨(dú)立

低噪音,具有原子級(jí)分辨率

*大100μm掃描,Z方向9μm

 智能化AFM

低噪聲低功耗相干激光器

低噪音控制器(低電壓驅(qū)動(dòng)壓電掃描器)

24DAC控制

大范圍掃描,高分辨率,且無(wú)需更換掃描器。

 

易于使用

自動(dòng)調(diào)諧集成鎖相

自動(dòng)設(shè)置的電子系統(tǒng)

頂部和側(cè)面CCD視圖

直觀的軟件和預(yù)先配置的AFM模式

 

主要的參數(shù)指標(biāo)

1、XY掃描分辨率: 0.06nm

2、Z掃描分辨率: 0.006nm

3、掃描范圍:XY向100um,Z向9um

4、超低噪音高壓:典型值:<0.01 mV RMS

5、數(shù)據(jù)采樣點(diǎn):高達(dá)4096

6、DAC輸出:6個(gè)D/A轉(zhuǎn)換器-24位

7、ADC輸入:8個(gè)A/D轉(zhuǎn)換器-16位

8、集成鎖相:高達(dá)6MHz

9、控制器電源:AC 100~240 V,47~63 Hz

10、計(jì)算機(jī)接口:USB2.0/3.0

11、運(yùn)行環(huán)境:運(yùn)行于Windows XP/7/8/10操作系統(tǒng)

 

CSI原子力顯微鏡應(yīng)用領(lǐng)域

金屬,納米材料,高分子聚合物,薄膜&涂層,DNA,蛋白質(zhì),半導(dǎo)體,光電材料,

太陽(yáng)能電池,蓄電池,電化學(xué)領(lǐng)域,磁性材料,壓電領(lǐng)域,分子電子或組織,導(dǎo)電材料表面表征


CSI原子力顯微鏡應(yīng)用實(shí)例



C36分子    掃描范圍250nm                       DNA    掃描范圍1μm



高分子聚合物 (PDES)    掃描范圍12μm




石墨烯   掃描范圍10μm




磁性三角形結(jié)構(gòu)   掃描范圍4.5μm


人造旋轉(zhuǎn)冰   掃描范圍6.5μm





PFM模式        PZT樣品   掃描范圍10μm



ResiScope模式       半導(dǎo)體摻雜劑表征    掃描范圍4μm



HD-KFM模式       鋁硅銅表面電位信號(hào)   掃描范圍30μm




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