北京時代TT230整體涂層測厚儀介紹： 北京時代涂層測厚儀TT230是一種超小型的測量儀。時代TT230涂層測厚儀能快速、無損傷、精頦地進行非磁性金屬基體上非導電覆層厚度的測量。TT230覆層測厚儀可廣泛用于制造業(yè)、金屬加工業(yè)、商檢等檢測領(lǐng)域。TT230氧化膜測厚儀體積小，測頭與儀器一體化，特別適用于工程現(xiàn)場測量。 北京時代TT230整體涂層測厚儀 的主要功能 可進行零點校準及二點校準。 可對測頭進行基本校準。 設(shè)有五個統(tǒng)計量：平均值（MEAN）、大值（MAX）、小值（MIN）、測試次數(shù)（NO），標準偏差（S.DEV）。存貯和統(tǒng)計計算15個測量值。 具有兩種測量方式：連續(xù)測量方式（CONTINUE）和單次測量方式（SINGLE）。 自動關(guān)機功能。 刪除功能：對測量中出現(xiàn)的單次可疑數(shù)據(jù)進行刪除，也可刪除存貯區(qū)內(nèi)的所有數(shù)據(jù)，以便進行新的測量。 操作過程有蜂鳴聲提示。 有欠壓指示功能。 有錯誤提示功能。 北京時代TT230整體涂層測厚儀技術(shù)指標： 測量原理：渦流法 測量范圍：1～1250μm 測量精度：±（3%H+1.5）μm（零點校準） ±[(1～3)%H+1.5] μm（二點校準） 北京時代TT230整體涂層測厚儀標配： 主機，標準片，基體，充電器
滬公網(wǎng)安備 31011702004270號
