日立分析儀器CMI243螺栓緊固件測厚儀 測量技術(shù):一般的測試方法,例如一般測厚儀制造商所采用的普通磁感應(yīng)和渦流方式,由于探頭的"升離效應(yīng)"導(dǎo)致的底材效應(yīng),和由于測試件形狀和結(jié)構(gòu)導(dǎo)致的干擾,都無法達到對金屬性鍍層厚度的準確測量。而牛津儀器將*新的基于相位電渦流技術(shù)應(yīng)用到CMI243鍍層測厚儀,使其達到了±3%以內(nèi)(對比標準片)的準確度和0.3%以內(nèi)的準確度。牛津儀器對電渦流技術(shù)的獨特應(yīng)用,將底材效應(yīng)*小化,使得測量準確且不受零件的幾何形狀影響。另外,鍍層測厚儀一般不需要在鐵質(zhì)底材上進行校準。