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NanoCalc 薄膜反射測量系統(tǒng)
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NanoCalc 薄膜反射測量系統(tǒng)
產(chǎn)品資料
NanoCalc 薄膜反射測量系統(tǒng)
如果您對該產(chǎn)品感興趣的話,可以
產(chǎn)品名稱:
NanoCalc 薄膜反射測量系統(tǒng)
產(chǎn)品型號:
NC-VIS
產(chǎn)品展商:
其它品牌
產(chǎn)品文檔:
無相關(guān)文檔
簡單介紹
NanoCalc 薄膜反射測量系統(tǒng),NanoCalc薄膜反射測量系統(tǒng)可以用來進行10nm~250μm的膜厚分析測量,對單層膜的分辨率為0.1nm。根據(jù)測量軟件的不同,可以分析單層或多層膜厚。 NanoCalc薄膜反射材料系統(tǒng)適合于在線膜厚和去除率測量,包括氧化層、中氮化硅薄膜、感光膠片及其它類型的薄膜。NanoCalc也可測量在鋼、鋁、銅、陶瓷、塑料等物質(zhì)上的抗反射涂層、抗磨涂層等。
產(chǎn)品描述
NanoCalc
薄膜反射測量系統(tǒng)
薄膜的光學(xué)特性主要有反射和干涉
.NanoCalc
薄膜反射測量系統(tǒng)可以用來進行
10nm~250µm
的膜厚分析測量,對單層膜的分辨率為
0.1nm
。根據(jù)測量軟件的不同,可以分析單層或多層膜厚。
產(chǎn)品特點
可分析單層或多層薄膜
分辨率達
0.1nm
適合于在線監(jiān)測
操作理論
*常用的兩種測量薄膜的特性的方法為光學(xué)反射和投射測量、橢圓光度法測量。NanoCalc利用反射原理進行膜厚測量。
查找n和k值
可以進行多達三層的薄膜測量,薄膜和基體測量可以是金屬、電介質(zhì)、無定形材料或硅晶等。NanoCalc軟件包含了大多數(shù)材料的n和k值數(shù)據(jù)庫,用戶也可以自己添加和編輯。
應(yīng)用
NanoCalc
薄膜反射材料系統(tǒng)適合于在線膜厚和去除率測量,包括氧化層、中氮化硅薄膜、感光膠片及其它類型的薄膜。
NanoCalc也可測量在鋼、鋁、銅、陶瓷、塑料等物質(zhì)上的抗反射涂層、抗磨涂層等
。
NanoCalc
系統(tǒng)
NC-UV-VIS-NIR
重量:
250-1100 nm
厚度:
10 nm-70 m
光源:
氘鹵燈
NC-UV-VIS
重量:
250-850 nm
厚度:
10 nm-20 m
光源:
氘鹵燈
NC-VIS-NIR
重量:
400-1100 nm
厚度:
20nm-100µm (
可選
1µm-250µm)
光源:
鹵燈
NC-VIS
重量:
400-850 nm
厚度:
50 nm-20μm
光源:
鹵燈
NC-NIR
重量:
650-1100 nm
厚度:
70 nm-70μm
光源:
鹵燈
NC-NIR-HR
重量:
650-1100nm
厚度:
70 nm-70μm
光源:
鹵燈
NC-512-NIR
重量:
900-1700 nm
厚度:
50 nm-200μm
光源:
高亮度鹵燈
NanoCalc
規(guī)格
入射角:
90°
層數(shù)
:
3
層以下
需要進行參考值測量
:
是
透明材料:
是
傳輸模式
:
是
粗糙材料
:
是
測量速度:
100ms - 1s
在線監(jiān)測
:
可以
公差(高度):
參考值測量或準直
(74-UV)
公差(角度):
參考值測量
微黑子選項:
配顯微鏡
顯示選項:
配顯微鏡
定位選項:
6"
和
12" XYZ
定位臺
真空
:
可以
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