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[儀器資料]X射線熒光光譜儀知識(shí)
[儀器資料]X射線熒光光譜儀知識(shí)：X射線熒光光譜儀分為波長(zhǎng)色散、能量色散、非色散X熒光、全反射X熒光四類。

 
波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀
     波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀采用晶體或人工擬晶體根據(jù)Bragg定律將不同能量的譜線分開，然后進(jìn)行測(cè)量。波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀一般采用X射線管作激發(fā)源，可分為順序式(或稱單道式或掃描式)、同時(shí)式(或稱多道式)譜儀、和順序式與同時(shí)式相結(jié)合的譜儀三種類型。順序式通過掃描方法逐個(gè)測(cè)量元素，因此測(cè)量速度通常比同時(shí)式慢，適用于科研及多用途的工作。同時(shí)式則適用于相對(duì)固定組成，對(duì)測(cè)量速度要求高和批量試樣分析,順序式與同時(shí)式相結(jié)合的譜儀結(jié)合了兩者的優(yōu)點(diǎn)。
 
　　
能量色散X射線熒光光譜儀
 
　　能量色散X射線熒光光譜儀采用脈沖高度分析器將不同能量的脈沖分開并測(cè)量。能量色散X射線熒光光譜儀可分為具有高分辨率的光譜儀，分辨率較低的便攜式光譜儀，和介于兩者之間的臺(tái)式光譜儀。高分辨率光譜儀通常采用液氮冷卻的半導(dǎo)體探測(cè)器，如Si(Li)和高純鍺探測(cè)器等。低分辨便攜式光譜儀常常采用正比計(jì)數(shù)器或閃爍計(jì)數(shù)器為探測(cè)器，它們不需要液氮冷卻。近年來，采用電致冷的半導(dǎo)體探測(cè)器，高分辨率譜儀已不用液氮冷卻。同步輻射光激發(fā)X射線熒光光譜儀??質(zhì)子激發(fā)X射線熒光光譜儀、放射性同位素激發(fā)X射線熒光光譜儀、全反射X射線熒光光譜儀、微區(qū)X射線熒光光譜儀等較多采用的是能量色散方式。
 
　　
非色散X射線熒光光譜儀
 
　　非色散X射線熒光光譜儀不是采用將不同能量的譜線分辨開來，而是通過選擇激發(fā)、選擇濾波和選擇探測(cè)等方法使測(cè)量分析線而排除其他能量譜線的干擾，因此一般只適用于測(cè)量一些簡(jiǎn)單和組成基本固定的樣品。
 
　　
全反射X射線熒光光譜儀
 
　　如果n1>n2，則介質(zhì)1相對(duì)于介質(zhì)2為光密介質(zhì)，介質(zhì)2相對(duì)于介質(zhì)1為光疏介質(zhì)。對(duì)于X射線，一般固體與空氣相比都是光疏介質(zhì)。所以，如果介質(zhì)1是空氣，那么α1>α2（圖2.20右圖），即折射線會(huì)偏向界面。如果α1足夠小，并使α2=0，此時(shí)的掠射角α1稱為臨界角α臨界。當(dāng)α1<α臨界時(shí)，界面就象鏡子一樣將入射線全部反射回介質(zhì)1中，這就是全反射現(xiàn)象。
 
　　
X射線熒光光譜儀有如下特點(diǎn)：
 
　　分析的元素范圍廣，理論上，從4Be到92U均可測(cè)定；
 
　　熒光X射線譜線簡(jiǎn)單，相互干擾少，樣品不必分離，分析方法比較簡(jiǎn)便；
 
　　分析濃度范圍較寬,從常量到微量都可分析。重元素的檢測(cè)限可達(dá)ppm量級(jí)，輕元素稍差；
 
　　分析樣品不被破壞，分析快速，準(zhǔn)確，便于自動(dòng)化。