用途XPN-300E偏光顯微鏡熔點(diǎn)儀、偏光溫控儀是地質(zhì)、礦產(chǎn)、冶金等部門和相關(guān)高等院校*常用的專業(yè)實(shí)驗(yàn)儀器。偏光顯微鏡可供廣大用戶作單偏光觀察，正交偏光觀察，錐光觀察以及顯微攝影，觀察物體在加熱狀態(tài)下的形變、色變及物體的三態(tài)轉(zhuǎn)化。偏光顯微鏡配置有石膏λ、云母λ/4試片、石英楔子和移動尺等附件還可用于化工化纖、半導(dǎo)體工業(yè)以及藥品檢驗(yàn)等領(lǐng)域。偏光熔點(diǎn)測定儀采用微電腦檢測，有自動P、I、D調(diào)節(jié)，及模糊手動調(diào)節(jié)功能，偏光熔點(diǎn)測定儀通過LED顯示溫度值及設(shè)定溫度值。系統(tǒng)簡介 偏光顯微鏡熔點(diǎn)儀系統(tǒng)是將精密的光學(xué)顯微鏡技術(shù)、先進(jìn)的光電轉(zhuǎn)換技術(shù)、**的計(jì)算機(jī)圖像處理技術(shù)**地結(jié)合在一起而開發(fā)研制成功的一項(xiàng)高科技產(chǎn)品。可以顯示屏上很方便地觀察實(shí)時(shí)動態(tài)圖像，并能將所需要的圖片進(jìn)行編輯、保存和打印。 放大倍數(shù)：40X 100X 400X 600X系統(tǒng)放大倍數(shù)：40X-2600X聚光鏡數(shù)值孔徑：NA1.2/0.22 搖出式消色差聚光鏡，中心可調(diào)起偏鏡：振動方向360°可調(diào)，帶鎖緊裝置，可移動光路檢偏鏡：可移出光路，旋轉(zhuǎn)范圍90°，內(nèi)置勃氏鏡，中心可調(diào)補(bǔ)償器：λ片（Ф18mm，**紅，光程差551nm）λ/4片（Ф18mm, 光程差147.3nm）石英楔子（12x28mm，Ⅰ-Ⅳ級）調(diào)焦系統(tǒng)：帶限位和調(diào)節(jié)松緊裝置的同軸粗微動，微動格值 0.002mm電光源：6V/20W 鹵素?zé)簦炼瓤烧{(diào)）防霉：特有的防霉系統(tǒng) 偏光熔點(diǎn)測定儀 1.偏光熔點(diǎn)測定儀在 20X 物鏡下工作溫度可達(dá)到*高300 ℃ 、溫度運(yùn)行程序全自動控制；溫度程序段由用戶自行設(shè)定，30段溫度編程，循環(huán)操作，能準(zhǔn)確反映設(shè)定溫度、爐芯溫度、樣品的實(shí)際溫度。每段設(shè)定起始溫度，及在該段內(nèi)可維持時(shí)間，升溫速率可調(diào)、精度±0.3 ℃、記憶點(diǎn)讀數(shù)。2.顯微加熱平臺可以隨載物臺移動、工作區(qū)加熱面積大、透光區(qū)域可調(diào)、工作區(qū)溫度梯度低于± 0.1起始溫度室溫工作區(qū)加熱使用面積至少1X1cm工作區(qū)溫度梯度不超過 ± 0.1oC透光區(qū)域 2mm以上，可調(diào)顯示溫度與實(shí)際溫度誤差不超過 ± 0.2熱臺可以隨載物臺移動熔點(diǎn)測定 溫度超過100度時(shí)，25X的物鏡工作距離太近，容易損壞鏡頭，請選用長工作距離的 20X、40X 物鏡 系統(tǒng)組成 電腦型高精度偏光顯微鏡（XPN-300E）： 1、顯微鏡 2、熔點(diǎn)儀 3、攝像器(CCD) 4、A/D(圖像采集) 5、計(jì)算機(jī) 數(shù)碼相機(jī)型高精度偏光顯微鏡（XPN-300Z）：1、顯微鏡 2、熔點(diǎn)儀 3、數(shù)碼相機(jī)


1.目鏡：