跌落試驗(yàn)機(jī)可靠性跌落試驗(yàn)
測(cè)試環(huán)境：室溫（20-25℃）

l 測(cè)試目的：暴露因高低溫沖擊引誘的樣品缺陷

l 參考標(biāo)準(zhǔn)：GB/T2423.8-1995

ll 測(cè)試檢查項(xiàng)目：

1）電性能參數(shù)測(cè)試：對(duì)各參數(shù)進(jìn)行測(cè)試。

2）功能測(cè)試：撥打電話，顯示、**、振動(dòng)、按鍵、收話器、受話器、回音、指示燈、拍照、充電、藍(lán)牙、MicRo SD 卡以及其它未描述到的功能。

3）結(jié)構(gòu)測(cè)試：殼體配合、結(jié)構(gòu)件配合、天線、Lens、顯示屏、裝飾件以及其它未描述到的結(jié)構(gòu)。

4）外觀測(cè)試：噴涂、印刷、電鍍等，以及未描述到的外觀。

5）內(nèi)存時(shí)鐘：樣機(jī)中存中存入5 個(gè)電話和5 條短信息，設(shè)置手機(jī)時(shí)鐘為當(dāng)前日期時(shí)間。

l 測(cè)試方法：

1）樣機(jī)中存中存入5 個(gè)電話和5 條短信息，設(shè)置手機(jī)時(shí)鐘為當(dāng)前日期時(shí)間。

2）將樣機(jī)設(shè)置為開機(jī)插卡狀態(tài)，對(duì)手機(jī)進(jìn)行6 個(gè)面四個(gè)角1.2m 的自由跌落實(shí)驗(yàn)，每個(gè)面的跌落次

數(shù)為2 次，每個(gè)面跌落面都要對(duì)手機(jī)的外觀、結(jié)構(gòu)、內(nèi)存、時(shí)間和功能進(jìn)行檢查。

3）跌落順序?yàn)椋?/span>

直板及翻蓋手機(jī)：左側(cè)面、背面、右側(cè)面、底面、頂面、正面、左上角、右上角、左下角、左下角。

滑蓋手機(jī)：底面、頂面、背面、正面、左側(cè)面、右側(cè)面、左上角、右上角、左下角、左下角。

  4）跌落過程中，對(duì)于翻蓋手機(jī)，應(yīng)將一半樣品打開到使用位置，一半樣品閉合為初始狀態(tài)；對(duì)于滑蓋手機(jī)應(yīng)將一半樣品合上滑蓋，一半樣品將滑蓋打開到上限位置
5若樣品數(shù)量為奇數(shù)，則多的一臺(tái)打開翻蓋或滑開滑蓋。

 6）測(cè)試條件：跌落高度1.2m，20mm 厚的大理石地板。（對(duì)于PDA 手機(jī)，根據(jù)所屬公司質(zhì)量部門的建議可調(diào)整為跌落高度為1.0m）

l 測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：手機(jī)外觀、結(jié)構(gòu)、功能及內(nèi)存時(shí)間無異常。

1）參數(shù)測(cè)試：與綜測(cè)儀連接進(jìn)行參數(shù)測(cè)試，電性能符合測(cè)試要求。

2）功能檢查：能正常撥打電話、顯示、振動(dòng)、LED、揚(yáng)聲器、受話器、回聲、按鍵、拍照、充電功能正常以及其它未描述到的功能均無異常。

3）結(jié)構(gòu)檢查：裝飾件、logo 及cover 等無脫落，殼體卡鉤無脫出、斷裂；LCD 無破裂；天線無脫出、脫落；轉(zhuǎn)軸無松動(dòng)、錯(cuò)位、脫出或斷裂；滑蓋無松動(dòng)、脫出、斷裂、晃動(dòng)無異響，Lens 無破裂、脫落以及其它與測(cè)試前狀態(tài)不一致的現(xiàn)象。

4）外觀檢查：殼體表面無明顯掉漆，無裂紋、破損、沖擊痕以及其它與測(cè)試前狀態(tài)不一致的現(xiàn)象。

5）樣品內(nèi)存：時(shí)鐘無異常（內(nèi)存無丟失、時(shí)鐘無混亂、復(fù)位、超前、滯后等）

6）備注：電池/電池蓋脫落、關(guān)機(jī)及掉卡等、如重啟無異常，不記錄為有問題。