測試目的：驗(yàn)證樣機(jī)冷熱沖擊下的材料性能，結(jié)構(gòu)配合、裝配、制成工藝等可靠性

    測試標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 242423.22-2002; IEC 60068-2-14:1984
 電子產(chǎn)品通過冷熱沖擊試驗(yàn)箱測試的項(xiàng)目：

     1）功能測試：撥打電話、顯示、**、振動、按鍵、收話器、受話器、回音、指示燈、拍照、充電、藍(lán)牙、MINI SD 卡以及其它未描述到的功能。

2）結(jié)構(gòu)測試：殼體配合、結(jié)構(gòu)件配合、天線、Lens、顯示屏、裝飾件以及其它未描述到的結(jié)構(gòu)。

3）外觀測試：噴涂、印刷、電鍍等，以及未描述到的外觀。

4）內(nèi)存時鐘：內(nèi)存中存入5 個電話和5 條短信息，設(shè)置手機(jī)時鐘為當(dāng)前日期時間。

   測試方法：

1）樣機(jī)中預(yù)存入5 個電話和5 條短信息，并將手機(jī)時鐘設(shè)置為當(dāng)前日期時間。

2）手機(jī)中裝入充滿電的電池，不插測試卡，設(shè)置為關(guān)機(jī)狀態(tài)放進(jìn)高低溫沖擊箱內(nèi)。

   3）樣機(jī)置于70℃高溫箱內(nèi)持續(xù)60 分鐘后，在15 鈔內(nèi)迅速移入-40℃低溫沖擊箱并持續(xù)60 分鐘后，再在15 秒內(nèi)迅速回到高溫箱。此為一個循環(huán)（一個循環(huán)用時2 個小時），共循環(huán)24 次。（測試曲線如圖）

   4）實(shí)驗(yàn)結(jié)束后將樣機(jī)從溫度沖擊箱中取出，在室溫（20-25℃）恢復(fù)2 小時后進(jìn)行外觀結(jié)構(gòu)、功能及內(nèi)存檢查。

5）對于翻蓋手機(jī)，應(yīng)將一半樣品打開到使用位置；對于滑蓋手機(jī)，應(yīng)一半樣品滑開到上限位置。