- 如果您對該產(chǎn)品感興趣的話，可以
- 產(chǎn)品名稱：Felles 光學薄膜測厚儀
- 產(chǎn)品型號：FR-EDU
- 產(chǎn)品展商：Felles
- 產(chǎn)品文檔：無相關(guān)文檔
簡單介紹
Felles 光學薄膜測厚儀是一款低價臺式光學薄膜厚度測量儀,可測量薄膜厚度,薄膜的吸收率/透過率，薄膜反射率，熒光等，F(xiàn)elles 光學薄膜測厚儀也可測量膜層的厚度,光學常量（折射率n和k)。
產(chǎn)品描述
Felles 光學薄膜測厚儀是一款低價臺式光學薄膜厚度測量儀,可測量薄膜厚度,薄膜的吸收率/透過率，薄膜反射率，熒光等，F(xiàn)elles 光學薄膜測厚儀也可測量膜層的厚度,光學常量（折射率n和k)。
Felles 光學薄膜測厚儀特點
基于白光反射光譜技術(shù)，膜層的表面和底面反射的光VIS/NIR光譜，
是干涉型號被嵌入的光譜儀收集分析，結(jié)合多次反射原理，給出膜層的厚度和光學常數(shù)（n，k).
到貨即可使用，僅僅需要用戶準備一臺計算機提供USB接口即可，操作非常方便。
Web: www.felles.cn （激光光學精密儀器官網(wǎng)）
www.felles.cc （綜合性**測試儀器官網(wǎng)）
www.f-lab.cn （綜合性實驗室儀器官網(wǎng)）
Felles 光學薄膜測厚儀標準參數(shù)
可測膜厚： 100nm-30微米；
波長范圍: 300-1000nm
探測器：650像素Si CCD陣列，12bit A/D
精度：1%
斑點大小：0.5mm
光源：鎢燈-汞燈（360-2000nm)
所測樣品大?。?0-150mm,
計算機要求：Windows XP, vista, Win7均可，USB接口；
尺寸：320x360x180mm
重量：9.2kg
Felles 光學薄膜測厚儀應(yīng)用
用于薄膜吸收率,透過率和熒光測量，
用于化學和生物薄膜測量，傳感測量
用于光電子薄膜結(jié)構(gòu)測量
用于半導(dǎo)體制造
用于聚合物薄膜測量
在線薄膜測量
光學薄膜厚度測量儀用于光學鍍膜測量
- 溫馨提示：為規(guī)避購買風險，建議您在購買前務(wù)必確認供應(yīng)商資質(zhì)與產(chǎn)品質(zhì)量。
- 免責申明：以上內(nèi)容為注冊會員自行發(fā)布，若信息的真實性、合法性存在爭議，平臺將會監(jiān)督協(xié)助處理，歡迎舉報