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電子電工設(shè)備可靠性實驗(一)

內(nèi)容簡介:可靠性試驗是可靠性工程*基本的內(nèi)容和*重要的工作項目。對電子設(shè)備可靠性試驗的技術(shù)基礎(chǔ)、可靠性試驗的特點和分類、電子設(shè)備可靠性試驗的方案設(shè)計以及可靠性試驗數(shù)據(jù)的分析和處理方法作了一些介紹。

1電子設(shè)備的可靠性
1.1 可靠性的基本概念
隨著電子技術(shù)的發(fā)展,對電子設(shè)備也提出了更高的要求。由于設(shè)備技術(shù)性能和結(jié)構(gòu)要求等方面的提高,可靠性問題愈顯突出。如果沒有可靠性保證,高性能指標(biāo)是沒有任何意義的,現(xiàn)代用戶買產(chǎn)品就是買可靠性,對生產(chǎn)廠家來說,可靠性就是信譽(yù),就是市場,就是經(jīng)濟(jì)效益。從整機(jī)來講,可靠性貫穿于設(shè)計、生產(chǎn)、管理中。從部件、元器件的角度來講,電子元器件的可靠性水平?jīng)Q定了整機(jī)的可靠性程度??煽啃詫儆谫|(zhì)量的范疇,是產(chǎn)品質(zhì)量的時間函數(shù)。從基本概念上講,可靠性指標(biāo)與質(zhì)量的性能指標(biāo)所強(qiáng)調(diào)的內(nèi)容是不同的,可靠性的基本概念與時間有關(guān)(如表
1所示),這些基本概念的具體化,就是產(chǎn)品故障或壽命特征的數(shù)學(xué)模型化。只有通過可靠性試驗才能確定產(chǎn)品故障或壽命特征符合哪一種數(shù)學(xué)分布,才可以決定產(chǎn)品的可靠性指標(biāo),進(jìn)而推算產(chǎn)品的可靠程度。在可靠性工程中,*常見的壽命分布函數(shù)有指數(shù)分布、威布爾分布、對數(shù)正態(tài)分布和正態(tài)分布。

1.2 電子設(shè)備的可靠性指標(biāo)
大量統(tǒng)計資料證明:電子設(shè)備的失效分布一般服從指數(shù)分布。從電子設(shè)備及許多電子元器件的失效機(jī)理來看,隨著時間的足夠長,失效率趨近于一個穩(wěn)定值,其基本特征可以用指數(shù)函數(shù)的曲線相比擬,即服從指數(shù)分布,因此電子設(shè)備的可靠性指標(biāo)有:
可靠度R(t)

由上可看出在指數(shù)分布時產(chǎn)品的可靠性指標(biāo)表示式比較簡單,并且失效率λ是一個常數(shù)。在進(jìn)行電子設(shè)備可靠性分析時,只要得到λ的數(shù)值,其它指標(biāo)就可以直接算出來。
 

 

 

 

電子電工設(shè)備可靠性實驗(一)

電子電工設(shè)備可靠性實驗(一)