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產(chǎn)品資料

Nanonics AFM系列電鏡之-Academia

Nanonics AFM系列電鏡之-Academia
  • 如果您對該產(chǎn)品感興趣的話,可以
  • 產(chǎn)品名稱:Nanonics AFM系列電鏡之-Academia
  • 產(chǎn)品型號:Academia
  • 產(chǎn)品展商:Nanonics
  • 產(chǎn)品文檔:無相關(guān)文檔
簡單介紹
NANONICS IMAGING LTD. (以色列NANONICS有限公司)是業(yè)界將近場光學(xué)顯微鏡(NSOM)技術(shù)和原子力顯微鏡(AFM)相技術(shù)相結(jié)合的領(lǐng)頭羊。Nanonics AFM系列電鏡之-Academia是該公司產(chǎn)品之一。
產(chǎn)品描述

Nanonics AFM系列電鏡之-Academia 技術(shù)參數(shù)

1、掃描范圍: XY方向70um、Z方向5um,另外有10um掃描器選配

2、掃描步進:70um掃描器<1nm,10um掃描器<0.1nm

3、*大樣品尺寸:15mm×15mm

4、反饋機制:光束偏轉(zhuǎn)

5、操作模式:接觸式,非接觸式,敲擊式

6、探針類型:可使用Nanonics**的玻璃探針、電學(xué)熱學(xué)探針、Nanopen 等;同時也可使用通用的AFM探針



使用范圍:

1、力-距離測量

2、液體樣品成像

3、電學(xué)測量

4、微區(qū)熱分析測量

5、熱阻測量

6、與微拉曼光譜聯(lián)用

7、納米化學(xué)遷移及操控(Nano FountainPen)

8、深溝或邊墻材料成像(Deep Trench and Sidewall Imaging)

 


主要特點

1、是一款性價比很高的原子力顯微鏡,使用的靈活性很大

2、可使用Nanonics**的多種玻璃探針,也可以使用常規(guī)硅原子力探針

3、獨特的掃描器及探針設(shè)計確保原子力顯微鏡掃描與光學(xué)顯微鏡實時兼容

4、可升級與Renishaw激光微拉曼光譜聯(lián)用

5、可升級近場光學(xué)顯微鏡(NSOM)功能

6、使用Labview軟件包,留出一定的空間給用戶編寫特殊要求的軟件模塊


儀器介紹  

NANONICS IMAGING LTD. (以色列NANONICS有限公司)是業(yè)界將近場光學(xué)顯微鏡(NSOM)技術(shù)和原子力顯微鏡(AFM)相技術(shù)相結(jié)合的領(lǐng)頭羊。公司成立于1997年,NANONICS是業(yè)界成立*久并且對此類系列產(chǎn)品經(jīng)驗*豐富的公司之一,其產(chǎn)品榮獲過許多國際大獎。在強大的NSOM/AFM的整合操作系統(tǒng)的推動下,今天NANONICS繼續(xù)以強大的優(yōu)勢和**的系統(tǒng)領(lǐng)導(dǎo)著市場。NANONICS憑借著實力和品質(zhì),其產(chǎn)品涉足的領(lǐng)域從科研到工業(yè),從生物學(xué)到半導(dǎo)體,從化學(xué)制品到無線電通訊,應(yīng)用范圍極其廣泛。 

低溫NSOM/AFM擁有先進的系統(tǒng)設(shè)備、環(huán)境友好的樣品反應(yīng)室、化學(xué)藥品和氣體自動傳送系統(tǒng);還有nano-印刷術(shù)系統(tǒng),給消費者提供一個**的系統(tǒng)配置選擇。加上有AFM/NSOM/SEM的整合與AFM/NSOM/micro-Raman的整合系統(tǒng)這樣強大的成象結(jié)合,可以讓用戶擁有**的實驗平臺來完成所有的材料表征應(yīng)用。探針包括NSOM探針,micro-pipettes是檢測熱、電性能的,同時探針還可以提供氣體和液體加樣,這是Nanonics系列產(chǎn)品獨有的功能,可以為提供用戶在很小的范圍內(nèi)做原位反應(yīng)等。NAONICS系統(tǒng)兼容可所有供應(yīng)商提供的SPM探針。 

Renishaw PLC Ltd是*主要的Raman微型光譜成像系統(tǒng)的供應(yīng)商,**次與Nanonics Imaging Ltd一起合作制造了Raman化學(xué)成像的掃描探針顯微鏡(SPM)。此發(fā)明獲得2003年光子學(xué)循環(huán)的**獎,AFM和Raman的結(jié)合物既能運行AFM掃描也能做Raman掃描。目前沒有一個系統(tǒng)能比得上Nanonics和Renishaw結(jié)合物的強大功能?,F(xiàn)在,我們又將瑞典Smiths有限公司的在線紅外測試儀和掃描電鏡SEM與其結(jié)合在一起,使其擁有更強大的材料表征功能,同時客戶可以得到更高性價比的儀器。

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