• 半自動 LED wafer/chip 點測設(shè)備
• 漏電流測試模組
• 電源量測單元
• 光學(xué)測試模組
• ESD 測試模組 (選配)

Chroma 58173 是一組全新獨特的量測 LED 全光 通量之自動化測試系統(tǒng)。在LED的裸晶與晶粒測 試生產(chǎn)線中，常見使用部份光通量來取代全光通 量之量測方式 (見圖1)。然而，傳統(tǒng)的方式存在 一些缺點，例如：準確度較低、訊噪比較低、測 試時間較長等，以致于導(dǎo)入LED 的裸晶與晶粒生 產(chǎn)線時會發(fā)生問題。

致茂研發(fā)出一種全新、高速且高**度之 LED 全光通量之量測方式(見圖2)。 這種**的量測 方式不僅比傳統(tǒng)方式收集更多的 LED 部分光通 量，也明顯的改善提升了量測**度。

在光學(xué)量測方面，主波長、峰波長、色溫等均可 透過致茂獨特的光學(xué)設(shè)計與元件取得**且穩(wěn)定 快速之數(shù)據(jù)；在機構(gòu)方面，58173 搭載一個6吋 的晶片載盤與校正基座，提供使用者一個完整 的校正與測試平臺；在電性測試方面，58173 則 具備完整之電源量測單元，無論順向電壓、漏電 流、逆向崩潰電壓等 LED 電性特性，均可于一 次滿足使用者的測試需求。