85072A 圓柱體諧振腔體特性

• 測量薄膜、裸基底和低耗損薄膜的復雜介電常數(shù)和損耗正切值
• 符合 IPC TM-650 2.5.5.13 測試方法標準
• 與安捷倫諧振腔體軟件連用
• **設計穩(wěn)定易用

85072A 圓柱體諧振腔體電氣特性

• 密封空圓柱體的 TEO11 諧振模式：頻率 = 10.03 ± 0.03 GHz
• 密封空圓柱體的 TEO11 諧振模式：Q 因數(shù) = ≥ 20,000（在 -50dB 時輸入耦合）

85072A 圓柱體諧振腔體典型不確定性

• TE011 模式：介電常數(shù)的真實部分： ±1%
• TE011 模式：損耗正切值： ±0.0001
• 可用的高階 TE0np 模式：介電常數(shù)的實部： ±1 – 2% ?
• 可用的高階 TE0np 模式：損耗正切值： ±0.0005

85072A 圓柱體諧振腔體采樣要求
 

• 非磁性（µr* = 1-j0）、均質(zhì)和非各向異性，具有均勻厚度和平坦平行邊
• 厚度0.1mm 至 5mm，典型值 1mm
• *小長度或直徑為 56 mm，典型值 >60 mm
• 1mm 厚度采樣的建議值為：介電常數(shù)的實部 <100，損耗正切值 <0.01

Agilent 85072A 10 GHz 分裂圓柱體諧振腔體按照 IPC TM-650 2.5.5.13 測試方法，測量薄膜、裸基底和低損耗薄膜材料的介電常數(shù)和損耗正切值。穩(wěn)定、易用的設計，精密的柱狀特性使它能夠保證高 Q 因數(shù)和高損耗正切分辨率。85072A 與 Agilent 85071E-300 材料測量軟件兼容，您可以單獨購買，也可作為完整解決方案的一部分來購買。
 

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