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噪聲分析儀紡織檢測(cè)儀器 Toc分析儀 PT-303紅外測(cè)溫儀轉(zhuǎn)矩測(cè)試儀繼電保護(hù)試驗(yàn)儀定氮儀

成都藤田光學(xué)儀器有限公司
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產(chǎn)品圖片	產(chǎn)品名稱(chēng)/型號(hào)	產(chǎn)品簡(jiǎn)單介紹
	日本otsuka大塚電子多樣品nano粒子徑測(cè)量系統(tǒng) nanoSAQLA AS50	產(chǎn)品信息特點(diǎn)nanoSAQLA的特點(diǎn)1個(gè)單元可輕松連續(xù)測(cè)量5個(gè)樣品實(shí)現(xiàn)了在沒(méi)有自動(dòng)進(jìn)樣器的情況下難以實(shí)現(xiàn)的多個(gè)樣品的連續(xù)測(cè)量，也可以通過(guò)改變每個(gè)樣品的條件進(jìn)行測(cè)量。
	日本otsuka大塚電子ZETA電位·粒徑·分子量測(cè)系統(tǒng) ELSZ-2000ZS	產(chǎn)品信息特點(diǎn) 使用了*新型高感度APD，感度提升及縮短測(cè)量時(shí)間通過(guò)測(cè)量自動(dòng)溫度梯度空間，可分析出変性相轉(zhuǎn)移溫度可測(cè)量0～90℃大范圍內(nèi)的溫度追加了大范圍的分子量測(cè)量
	日本otsuka大塚電子ZETA電位·粒徑測(cè)試系統(tǒng)	本產(chǎn)品為粒徑及zeta電位測(cè)量專(zhuān)用裝置。ELSZneoSE選擇了ELSZneo的新功能。根據(jù)用途，可以根據(jù)需要定制任意數(shù)量的必要功能。
	日本otsuka大塚電子液晶層間隙量測(cè)設(shè)備	產(chǎn)品信息特點(diǎn) 采用了偏光光學(xué)系和多通道分光檢出器有可對(duì)應(yīng)各種尺寸的裝置，從1mm大小的光學(xué)素子到第10代的大型基板 **對(duì)策和粒子對(duì)策，可對(duì)應(yīng)液晶line內(nèi)的檢查設(shè)備測(cè)量項(xiàng)目
	日本otsuka大塚電子彩色濾光片、彩色光刻膠測(cè)量裝置 LCF系列	產(chǎn)品信息特點(diǎn) 以透過(guò)光譜測(cè)量、色測(cè)量為代表，通過(guò)濃度測(cè)量、膜厚測(cè)量、反射光譜測(cè)量等，可對(duì)應(yīng)彩色濾光片制造工程中的所有檢查的裝置可用于彩色濾光片的光學(xué)特性或玻璃基板...
	日本otsuka大塚電子分光干涉式晶圓膜厚儀SF-3	即時(shí)檢測(cè) WAFER基板于研磨制程中的膜厚玻璃基板于減薄制程中的厚度變化 (強(qiáng)酸環(huán)境中) 產(chǎn)品特色非接觸式、非破壞性光學(xué)式膜厚檢測(cè) 采用分光干涉法實(shí)現(xiàn)高度檢測(cè)再現(xiàn)性可進(jìn)行高速
	日本otsuka大塚電子多通道光譜儀 MCPD-9800 / 6800	產(chǎn)品信息特長(zhǎng) 應(yīng)用廣泛的測(cè)量?jī)x。以高機(jī)型MCPD-9800為首，一共有3種對(duì)應(yīng)12波長(zhǎng)領(lǐng)域的測(cè)量?jī)x。我們可以根據(jù)客戶(hù)的需求和用途提出適合的方案。不同評(píng)價(jià)方法對(duì)應(yīng)不同設(shè)備
	日本otsuka大塚電子顯微分光膜厚儀OPTM	非接觸 · 非破壞 · 顯微、對(duì)焦、測(cè)量1秒完成 ● OPTM系列顯微分光膜厚儀是一款可替代橢偏儀，測(cè)試膜厚、折射率n、消光系數(shù)k、反射率的新型高精度、高性?xún)r(jià)比的分光膜厚儀。適用于各種可透光膜層的測(cè)試，并有**可針對(duì)透明基板去除背面反射，從而達(dá)到“真實(shí)反射率、膜厚”測(cè)試的目的。此外，軟件操作簡(jiǎn)單、使用方便且簡(jiǎn)化了復(fù)雜的建模流程
	日本otsuka大塚電子ZETA電位粒徑分子量測(cè)試系統(tǒng) ELSZneo	【ELSZneo使光散射的物性評(píng)價(jià)邁向新舞臺(tái)】ELSZneo是ELSZ series的***機(jī)型，除了在稀薄溶液~濃厚溶液中進(jìn)行zeta電位（Zeta Potential，ζ-電位）和粒徑測(cè)定之外，還能進(jìn)行分子量測(cè)定的裝置。作為新的功能，為了提高粒度分布的分離能力，采用了多角度測(cè)定。另外，也可實(shí)現(xiàn)測(cè)量粒子濃度測(cè)定、微流變學(xué)測(cè)定、凝膠的網(wǎng)狀結(jié)構(gòu)分析。全新的zeta電位平板固體樣品池，通過(guò)新開(kāi)發(fā)的對(duì)應(yīng)高鹽濃度的涂層，可以在生理鹽水等高鹽濃度環(huán)境下進(jìn)行測(cè)量。3μL就能測(cè)定粒徑的超微量樣品池也位列其中，從而擴(kuò)大了生命科學(xué)領(lǐng)域的可能性。在0~90℃的寬溫度范圍內(nèi)，可以進(jìn)行自動(dòng)溫度梯度測(cè)量的變性相變溫度分析。
	日本otsuka大塚電子多樣品納米粒子徑測(cè)試系統(tǒng) nanoSAQLA	nanoSAQLA是一臺(tái)通過(guò)動(dòng)態(tài)光散亂法（DLS法）測(cè)量粒徑（粒徑0.6nm~10um）的裝置。支持從稀薄到濃厚系廣泛濃度范圍內(nèi)的多檢體測(cè)定的新光學(xué)系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)了實(shí)驗(yàn)室必需的輕量、小型化、標(biāo)準(zhǔn)1分鐘的高速測(cè)定。另外，這是一款非浸泡型、不受接觸器影響、無(wú)需自動(dòng)取樣器、標(biāo)準(zhǔn)配備“5檢體連續(xù)測(cè)量”的新產(chǎn)品
	日本otsuka大塚電子光波動(dòng)場(chǎng)三次元顯微鏡 MINUK	MINUK可評(píng)價(jià)nｍ級(jí)的透明的異物?缺陷，一次拍照即可瞬時(shí)獲得深度方向的信息，可非破壞?非接觸?非侵入的進(jìn)行測(cè)量。且無(wú)需對(duì)焦，可在任意的面進(jìn)行高速掃描,輕松決定測(cè)量位置。
	日本otsuka大塚電子Smart膜厚儀	可攜帶至現(xiàn)場(chǎng)的手持式可測(cè)量0.1μm單位具有形狀的樣品也可非破壞的測(cè)量不論基材材質(zhì)、可測(cè)量其鍍膜

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