WayneKerrElectronics磁導(dǎo)率測(cè)試應(yīng)用方案
1.磁材料樣品制作
對(duì)磁性材料進(jìn)行磁導(dǎo)率測(cè)試通常不會(huì)對(duì)成型不規(guī)則產(chǎn)品進(jìn)行測(cè)試，因?yàn)閷?dǎo)致其磁導(dǎo)率測(cè)試結(jié)果的不確定因素過(guò)多(如GAP深度、固定方式等)，所以都會(huì)將磁性材料塑形為標(biāo)準(zhǔn)的磁環(huán)，以利于進(jìn)行測(cè)試計(jì)算。
2.測(cè)試相對(duì)磁導(dǎo)率方法
相對(duì)磁導(dǎo)率的測(cè)試，可以通過(guò)先測(cè)試空氣線圈的電感和通過(guò)磁環(huán)的繞線交流電阻(不放入磁環(huán))，然后將磁環(huán)放在同一個(gè)繞線線圈中再次測(cè)試電感和通過(guò)磁環(huán)的繞線交流電阻來(lái)實(shí)現(xiàn)，可以得出一個(gè)測(cè)試需要通過(guò)兩次獨(dú)立的測(cè)試來(lái)完成。通過(guò)上述的方法，用戶可以先量測(cè)一個(gè)頻率范圍的不帶磁芯的空氣線圈的由感和交流電陽(yáng)，并獎(jiǎng)其存儲(chǔ)在一個(gè)檔中。這些
測(cè)試結(jié)果將在后續(xù)的測(cè)試帶有磁芯的線圈中來(lái)時(shí)用，直至用戶更換了不同的空氣線圈，具體的計(jì)算公式可以參考附錄的計(jì)算公式。
3.磁導(dǎo)率測(cè)試夾具
測(cè)試頻密范圍:20Hz~120MHz -基本測(cè)試精度:0.05%
無(wú)需在磁環(huán)上纏繞漆包線或絲包線
測(cè)試尺寸涵蓋業(yè)內(nèi)*大標(biāo)準(zhǔn)
25(外徑)*15(內(nèi)徑)*10(高度)
取樣放樣方便快捷
被測(cè)物尺寸規(guī)格范圍
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項(xiàng)目
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尺寸范圍
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外徑
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5.0mm~30.0mm
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內(nèi)徑
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4.1mm~29.8mm
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厚度
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0.01mm~15.0mm
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4.1J1030夾具使用，配合1J1011使用
1、1J1030放置在1J1011上，裝載樣品 2、整套測(cè)試系統(tǒng)
5.1J1030配件一覽表
部件名稱
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編號(hào)
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名稱
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1
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絕緣測(cè)試底座
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2
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測(cè)試腔體
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3
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中心電極頂針
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4
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測(cè)試產(chǎn)品托盤(pán)
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5
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上蓋
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6.WK6500B相對(duì)磁導(dǎo)率測(cè)試軟件
WayneKerr6500B精密阻抗分析儀，軟件選配有材料測(cè)試軟件(訂購(gòu)代碼/K)，這個(gè)軟件只能安裝在精密阻抗分析儀上，不能安裝在6500P的高頻LCR表上。通過(guò)這個(gè)軟件可以更容易的計(jì)算出相對(duì)磁導(dǎo)率的相關(guān)參數(shù)，軟件接口如下:
磁導(dǎo)率測(cè)試參數(shù)：
u*r 相對(duì)磁導(dǎo)率復(fù)數(shù)值
u'r 相對(duì)磁導(dǎo)率實(shí)部
u'r 相對(duì)磁導(dǎo)率虛部
tan□損耗因數(shù)
D 損耗因數(shù)
軟件設(shè)置
NumberofturnsN’:繞在磁環(huán)上的圓數(shù)，在配合1030使用時(shí)設(shè)置成1
Average magnetic pathlength'磁環(huán)的平均磁路徑長(zhǎng)度
Cross-sectional area oftoroidA:磁環(huán)的截面積
Measure Lw/Rw referencedate:建立空氣線圈參考檔
7.測(cè)試接口
儀表模式 分析模式
測(cè)試夾具選擇
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1J1020
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1J1022
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1J1011
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介電常數(shù)測(cè)試治具
（40MHz）
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液體介電常數(shù)測(cè)試治具
（30MHz）
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二線制DIP測(cè)試治具
（120MHz）
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1J1012
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1J1024
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1J1011W
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二線制SMD測(cè)試治具（彈片型）
（120MHz）
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二線制SMD測(cè)試治具（探針型）
（120MHz）
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四線制DIP 測(cè)試治具
(120MHz)
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1J1014
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1J1015
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1J10154
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四線制SMD測(cè)試治具
（120MHz）
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二線制DIP高電流測(cè)試治具
（125A）
（3MHz）
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四線制DIP高電流測(cè)試治具
（125A）
（3MHz）
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1J1016
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1J10164
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1J1023
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二線制SMD高電流測(cè)試治具
（125A）
（3MHz）
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四線制DIP高電流測(cè)試治具
（125A）
（3MHz）
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四線制轉(zhuǎn)二線制高頻轉(zhuǎn)接頭
（120MHz）
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1J1025
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1J1032
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1J10324
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探針式測(cè)量治具
（120MHz）
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二線制SMD底部電極測(cè)試夾具
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四線制SMD底部電極測(cè)試夾具
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1J1026
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1J1027
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1J1028
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二線制DIP高電流測(cè)試治具
（20A）
（120MHz）
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二線制DIP高電流測(cè)試治具
（40A）
（120MHz）
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二線制DIP高電流測(cè)試治具
（80A）
（120MHz）
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1J10264
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1J10284
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1J1036
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四線制DIP高電流測(cè)試治具
（20A）
（120MHz）
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四線制DIP高電流測(cè)試治具
（60A）
（120MHz）
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二線制DIP高電流測(cè)試治具
（250A）
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1J10362
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1J1100
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1J1031
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四線制DIP高電流測(cè)試治具
（250A）
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電容充放電保護(hù)單元
（3MHz）
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高頻80A SMD 二線式底部接觸式轉(zhuǎn)接座
（120MHz）
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1J1037
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1J1001
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1J1002
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偏置電流夾具適配器
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四轉(zhuǎn)一測(cè)試夾具
（120MHz）
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四轉(zhuǎn)二測(cè)試夾具
（120MHz）
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1EV1006
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1EV1505
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1EV1905A
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四線式DIP測(cè)試治具
(1MHz)
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四線式測(cè)試夾具
(3MHz)
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兩線式探針型高頻測(cè)試線
(50MHz)
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1EV1905X
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1EVA40100
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1EVA40120
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兩線式探針型高頻測(cè)試線SMD
(50MHz)
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精密型測(cè)試夾具
(3MHz)
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SMD鑷子式高精密測(cè)試夾具
(3MHz)
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1EVA40125
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1EVA40150
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1EVA40180
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SMD鑷子式高精密測(cè)試夾具
(120MHz)
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鑷子式高精密測(cè)試夾具
（尖型）
(3MHz)
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鑷子式高精密測(cè)試夾具
（大型）
(3MHz)
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