●產(chǎn)品特色
1.簡易的TFT觸屏操作，10分鐘內(nèi)輕易上手
2.電介質(zhì)、壓電片及石英晶體測試解決方案
3.30 ms超高速測試速度
4.等效Rdc可高度精準(zhǔn)四線式測試，量測到0.01mΩ
5.0.05%基本**度
6.可內(nèi)建0-100mA
+/- 40V，外加可至60A DC Bias
7.可將測試波形儲存成CSV格式，放大、縮小及MARKER功能
8.20Hz~120MHz，七種機(jī)型，可隨時(shí)升級
，*高升級到120MHz
9.直覺的用戶操作接口，USB、LAN、GPIB及HANDLER
10.可使用鼠標(biāo)及鍵盤操控，也可外接打印機(jī)及使用USB接口儲存數(shù)據(jù)
11.具等效電路仿真功能，內(nèi)建同頻率LCR Meter一臺
準(zhǔn)確快速的進(jìn)行元件測試,±0.05%基本**度。
精準(zhǔn)和多功能性使WK6500系列成為各種不同類型的工作和應(yīng)用程式的理想選擇。使用者包括被動(dòng)元件設(shè)計(jì)師，電介體、絕緣體的設(shè)計(jì)測試人員，及生產(chǎn)線的測試人員。
工程師需要在高頻率的狀況下以極高的精度來定義元件的特性，WK6500B系列精密阻抗分析儀成為您準(zhǔn)確易用的理想測試工具。
●測試參數(shù)
電容(C),電感(L),電阻(R),電導(dǎo)(G),電納(B),電抗(X),損耗因數(shù)(D),品質(zhì)因數(shù)(Q),阻抗(Z),導(dǎo)納(Y),相位角(θ)、介電常數(shù)（ε′ ??相對介電常數(shù)實(shí)部、ε′′r相對介電常數(shù)虛部、Dε相對介電損耗）、磁導(dǎo)率（μ ′ ??相對磁導(dǎo)率實(shí)部、μ′′r相對磁導(dǎo)率虛部、Dμ相對磁導(dǎo)率損耗）
●高精度量測
電容C,電感L及阻抗Z基本**度為±0.05%。損耗因數(shù)D**度為±0.0005及品質(zhì)因數(shù)Q**度為±0.05%。
●元件圖形掃描
WK6500B系列精密阻抗分析儀不僅提供高頻率，高精度的量測。該設(shè)備還是一個(gè)包含豐富特性的元件分析儀。
曲線掃描可依據(jù)頻率、電壓值和直流偏流源同時(shí)在清晰度高的大型彩色屏幕上顯示任意兩種參數(shù)的曲線。顯示格式包括串聯(lián)或并聯(lián)等效電路。
單測某一頻率時(shí)可以從曲線掃描轉(zhuǎn)換成標(biāo)準(zhǔn)LCR表讀值模式。
●可變的輸出和偏壓源
交流輸出可選高達(dá)1V或20mA，實(shí)現(xiàn)在真實(shí)操作環(huán)境中來評估元件。可變偏壓直流源可提供達(dá)100mA的電流.
●外部控制
在品管或制作檔譜的過程中可通過GPIB介面來控制儀器和收取讀值.
網(wǎng)端介面也具有同樣的控制儀器和傳輸資料的功能 – 使儀器能適應(yīng)許多不同的測試環(huán)境.
●多選擇的介面
VGA介面可連接到PC顯示器或投影機(jī),這種功能為生產(chǎn)環(huán)境或教學(xué)培訓(xùn)都提供無法衡量的價(jià)值.本機(jī)還可通過外接鍵盤和滑鼠來操控,任何PS2或USB鍵盤和滑鼠都能簡單的接插到系統(tǒng)中,提供控制和操作儀器的另一種可行方式.
●資料儲存和提取
所有的測試結(jié)果及設(shè)制都可以通過網(wǎng)路介面或USB閃盤來儲存.
●分類處理介面
Bin Handler為可選設(shè)制,通過25相D型接頭提供獨(dú)立(24V)和非獨(dú)立(5V)的信號.
●印表機(jī)輸出
測試結(jié)果可通過幾種不同的途經(jīng)列印出,其中包括直接列印至HP-PCL匹配的圖形印表機(jī), EPSON相匹配的文字印表機(jī)或直接通過儀器的網(wǎng)口經(jīng)局域網(wǎng)列印.
●待測元件連接
可通過面板的BNC接頭來實(shí)現(xiàn)倆端,三端或四埠的連接以及可能的接地狀況.備有許多的可選附件以供不同的測試需要.
●充電電容保護(hù)
高精密的測試儀器可能在使用過程中被已充電的電容裝置所損壞,造成昂貴的維修及不必要的停產(chǎn). 6500系列有內(nèi)置的保護(hù)來避免這種情況發(fā)生.
●綜合,**的高頻測試
“綜合,**的高頻測試”使該系列產(chǎn)品是高要求測試的優(yōu)良選擇.
測試夾具選擇
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1J1020
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1J1022
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1J1011
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介電常數(shù)測試治具
（40MHz）
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液體介電常數(shù)測試治具
（30MHz）
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二線制DIP測試治具
（120MHz）
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1J1012
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1J1024
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1J1011W
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二線制SMD測試治具（彈片型）
（120MHz）
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二線制SMD測試治具（探針型）
（120MHz）
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四線制DIP 測試治具
(120MHz)
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1J1014
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1J1015
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1J10154
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四線制SMD測試治具
（120MHz）
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二線制DIP高電流測試治具
（125A）
（3MHz）
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四線制DIP高電流測試治具
（125A）
（3MHz）
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1J1016
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1J10164
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1J1023
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二線制SMD高電流測試治具
（125A）
（3MHz）
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四線制DIP高電流測試治具
（125A）
（3MHz）
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四線制轉(zhuǎn)二線制高頻轉(zhuǎn)接頭
（120MHz）
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1J1025
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1J1032
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1J10324
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探針式測量治具
（120MHz）
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二線制SMD底部電極測試夾具
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四線制SMD底部電極測試夾具
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1J1026
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1J1027
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1J1028
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二線制DIP高電流測試治具
（20A）
（120MHz）
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二線制DIP高電流測試治具
（40A）
（120MHz）
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二線制DIP高電流測試治具
（80A）
（120MHz）
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1J10264
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1J10284
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1J1036
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四線制DIP高電流測試治具
（20A）
（120MHz）
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四線制DIP高電流測試治具
（60A）
（120MHz）
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二線制DIP高電流測試治具
（250A）
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1J10362
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1J1100
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1J1031
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四線制DIP高電流測試治具
（250A）
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電容充放電保護(hù)單元
（3MHz）
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高頻80A SMD 二線式底部接觸式轉(zhuǎn)接座
（120MHz）
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1J1037
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1J1001
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1J1002
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偏置電流夾具適配器
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四轉(zhuǎn)一測試夾具
（120MHz）
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四轉(zhuǎn)二測試夾具
（120MHz）
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1EV1006
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1EV1505
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1EV1905A
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四線式DIP測試治具
(1MHz)
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四線式測試夾具
(3MHz)
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兩線式探針型高頻測試線
(50MHz)
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1EV1905X
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1EVA40100
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1EVA40120
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兩線式探針型高頻測試線SMD
(50MHz)
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精密型測試夾具
(3MHz)
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SMD鑷子式高精密測試夾具
(3MHz)
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1EVA40125
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1EVA40150
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1EVA40180
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SMD鑷子式高精密測試夾具
(120MHz)
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鑷子式高精密測試夾具
（尖型）
(3MHz)
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鑷子式高精密測試夾具
（大型）
(3MHz)
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