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蘇州裕登電子科技有限公司
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阻抗分析儀 | LCR測(cè)試儀 | 磁性材料測(cè)試儀 | 測(cè)試治具及附件

產(chǎn)品圖片	產(chǎn)品名稱/型號(hào)	產(chǎn)品簡(jiǎn)單介紹
	穩(wěn)科WK4100系列LCR測(cè)試200kHz	4120頻率范圍20Hz~200kHz 雙頻測(cè)試,四項(xiàng)參數(shù)顯示 0.1% 基本**度,266PCS/分產(chǎn)量~540PCS/分測(cè)試參數(shù):Z, Rac, C, D, L, Q, B, G, X, Y, Rdc
	穩(wěn)科WK4100系列LCR測(cè)試100kHz	4110頻率范圍20Hz~100kHz 雙頻測(cè)試,四項(xiàng)參數(shù)顯示 0.1% 基本**度,266PCS/分產(chǎn)量~540PCS/分測(cè)試參數(shù):Z, Rac, C, D, L, Q, B, G, X, Y, Rdc
	穩(wěn)科65120P系列高頻LCR測(cè)試儀120MHz	1J65120P 頻率范圍 20Hz ~ 120MHz 0.05%基本**度，頻率分辨率≤1mHz 內(nèi)置交流信號(hào)：10mV ~ 1Vrms，200μA~20mArms 電容(C), 電感(L), 電阻(R), 電導(dǎo)(G), 電納(B), 電抗(X), 損耗因數(shù)(D), 品質(zhì)因數(shù)(Q), 阻抗(Z), 導(dǎo)納(Y), 相位角(θ)、介電常數(shù)（ε′ ??相對(duì)介電常數(shù)實(shí)部、ε′′r相對(duì)介電常數(shù)虛部、
	穩(wěn)科6550P系列高頻LCR測(cè)試儀50MHz	1J6550P 頻率范圍 20Hz ~ 50MHz 0.05%基本**度，頻率分辨率≤1mHz 內(nèi)置交流信號(hào)：10mV ~ 1Vrms，200μA~20mArms 電容(C), 電感(L), 電阻(R), 電導(dǎo)(G), 電納(B), 電抗(X), 損耗因數(shù)(D), 品質(zhì)因數(shù)(Q), 阻抗(Z), 導(dǎo)納(Y), 相位角(θ)、介電常數(shù)（ε′ ??相對(duì)介電常數(shù)實(shí)部、ε′′r相對(duì)介電常數(shù)虛部、
	穩(wěn)科6530P系列高頻LCR測(cè)試儀30MHz	1J6530P 頻率范圍 20Hz ~ 30MHz 0.05%基本**度，頻率分辨率≤1mHz 內(nèi)置交流信號(hào)：10mV ~ 1Vrms，200μA~20mArms 電容(C), 電感(L), 電阻(R), 電導(dǎo)(G), 電納(B), 電抗(X), 損耗因數(shù)(D), 品質(zhì)因數(shù)(Q), 阻抗(Z), 導(dǎo)納(Y), 相位角(θ)、介電常數(shù)（ε′ ??相對(duì)介電常數(shù)實(shí)部、ε′′r相對(duì)介電常數(shù)虛部、
	穩(wěn)科6520P系列高頻LCR測(cè)試儀20MHz	1J6520P 頻率范圍 20Hz ~ 20MHz 0.05%基本**度，頻率分辨率≤1mHz 內(nèi)置交流信號(hào)：10mV ~ 1Vrms，200μA~20mArms 電容(C), 電感(L), 電阻(R), 電導(dǎo)(G), 電納(B), 電抗(X), 損耗因數(shù)(D), 品質(zhì)因數(shù)(Q), 阻抗(Z), 導(dǎo)納(Y), 相位角(θ)、介電常數(shù)（ε′ ??相對(duì)介電常數(shù)實(shí)部、ε′′r相對(duì)介電常數(shù)虛部、
	穩(wěn)科6515P系列高頻LCR測(cè)試儀15MHz	1J6515P 頻率范圍 20Hz ~ 15MHz 0.05%基本**度，頻率分辨率≤1mHz 內(nèi)置交流信號(hào)：10mV ~ 1Vrms，200μA~20mArms 電容(C), 電感(L), 電阻(R), 電導(dǎo)(G), 電納(B), 電抗(X), 損耗因數(shù)(D), 品質(zhì)因數(shù)(Q), 阻抗(Z), 導(dǎo)納(Y), 相位角(θ)、介電常數(shù)（ε′ ??相對(duì)介電常數(shù)實(shí)部、ε′′r相對(duì)介電常數(shù)虛部、
	穩(wěn)科6510P系列高頻LCR測(cè)試儀10MHz	1J6510P 頻率范圍 20Hz ~ 10MHz 0.05%基本**度，頻率分辨率≤1mHz 內(nèi)置交流信號(hào)：10mV ~ 1Vrms，200μA~20mArms 電容(C), 電感(L), 電阻(R), 電導(dǎo)(G), 電納(B), 電抗(X), 損耗因數(shù)(D), 品質(zhì)因數(shù)(Q), 阻抗(Z), 導(dǎo)納(Y), 相位角(θ)、介電常數(shù)（ε′ ??相對(duì)介電常數(shù)實(shí)部、ε′′r相對(duì)介電常數(shù)虛部、
	穩(wěn)科6505P系列高頻LCR測(cè)試儀5MHz	1J6505P 頻率范圍 20Hz ~ 5MHz 0.05%基本**度，頻率分辨率≤1mHz 內(nèi)置交流信號(hào)：10mV ~ 1Vrms，200μA~20mArms 電容(C), 電感(L), 電阻(R), 電導(dǎo)(G), 電納(B), 電抗(X), 損耗因數(shù)(D), 品質(zhì)因數(shù)(Q), 阻抗(Z), 導(dǎo)納(Y), 相位角(θ)、介電常數(shù)（ε′ ??相對(duì)介電常數(shù)實(shí)部、ε′′r相對(duì)介電常數(shù)虛部、Dε相對(duì)介電損耗）、磁導(dǎo)率（μ ′ ??相對(duì)磁導(dǎo)率實(shí)部、μ′′r 相對(duì)磁導(dǎo)率虛部、Dμ相對(duì)磁導(dǎo)率損耗）
	穩(wěn)科WK5400系列定制頻率LCR表10MHz	5400P6H 10MHz 擁有5ms極快的量測(cè)速度基本精度0.02%,測(cè)試頻率點(diǎn)可訂制
	穩(wěn)科WK5400系列定制頻率LCR表3MHz	5400P6M 3MHz 擁有5ms極快的量測(cè)速度基本精度0.02%,測(cè)試頻率點(diǎn)可訂制
	穩(wěn)科WK5400系列定制頻率LCR表1MHz	5400P6L 1MHz 擁有5ms極快的量測(cè)速度基本精度0.02%,測(cè)試頻率點(diǎn)可訂制
	穩(wěn)科WK5400系列定制頻率LCR表10MHz	5400P3H 10MHz 擁有5ms極快的量測(cè)速度基本精度0.02%,測(cè)試頻率點(diǎn)可訂制
	穩(wěn)科WK5400系列定制頻率LCR表3MHz	5400P3M 3MHz 擁有5ms極快的量測(cè)速度基本精度0.02%,測(cè)試頻率點(diǎn)可訂制
	穩(wěn)科WK5400系列定制頻率LCR表1MHz	5400P3L 1MHz 擁有5ms極快的量測(cè)速度基本精度0.02%,測(cè)試頻率點(diǎn)可訂制
	AT817D數(shù)字100KHz電橋LCR	AT817D采用高能處理器，使用高亮彩色VFD屏幕的智能LCR測(cè)試儀器。精簡(jiǎn)了AT817的部分功能，內(nèi)建50Hz~100kHz 10點(diǎn)測(cè)試頻率，并且提供0.1V、0.3V和1V測(cè)試電平，相對(duì)于AT817更為優(yōu)惠的價(jià)格，使其能完全滿足多數(shù)生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)
	AT811數(shù)字電橋LCR	AT811 精簡(jiǎn)了全功能型AT810的電路，大規(guī)模的貼片技術(shù)的運(yùn)用，使用安柏科技經(jīng)典的微型機(jī)箱。內(nèi)建100Hz、120Hz、1kHz和10kHz測(cè)試頻率，并且提供0.3V，1V測(cè)試電平，使其能完全滿足一般生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)的使用。
	AT810A數(shù)字20KHz電橋LCR	AT810A 采用高性能處理器，使用真彩色LCD屏幕的智能LCR測(cè)試儀器。依賴于安柏精湛的技術(shù)，使其性能無(wú)可挑剔。內(nèi)建10Hz~20kHz 任意測(cè)試頻率設(shè)置，分辨率0.001Hz，并且提供任意電平設(shè)置，分辨率0.01V，使其能完全滿足多數(shù)生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)的使用。
	AT810D數(shù)字10KHz電橋LCR	AT810D采用高能處理器，使用高亮彩色VFD屏幕的智能LCR測(cè)試儀器。大規(guī)模的貼片技術(shù)的運(yùn)用，使得AT810D僅需微型機(jī)箱即可容納。依賴于安柏儀器精湛的技術(shù)，使其性能亦無(wú)可挑剔。內(nèi)建100Hz、120Hz、1kHz和10kHz測(cè)試頻率，并且提供0.3V和1V測(cè)試電平，使其能完全滿足一般生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)的使用。
	AT810數(shù)字20KHz電橋LCR	AT810 采用高能處理器，使用高亮彩色VFD屏幕的智能LCR測(cè)試儀器。大規(guī)模的貼片技術(shù)的運(yùn)用，使得AT810僅需微型機(jī)箱即可容納。依賴于安柏科技精湛的技術(shù)，使其性能亦無(wú)可挑剔。內(nèi)建100Hz、120Hz、1kHz和10kHz測(cè)試頻率，并且提供0.1V、0.3V和1V測(cè)試電平，使其能完全滿足一般生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)的使用。
	AT3818精密300KHz數(shù)字電橋LCR	AT3818 采用10Hz～300kHz連續(xù)頻點(diǎn)，分辨率為0.001Hz。測(cè)試信號(hào)電平0.01Vrms～2.00Vrms，100.0uA- 20.00mA，純直流信號(hào)源的DCR測(cè)量以及內(nèi)部直流偏壓±2.5V，同時(shí)可選外部偏置 AT3818可同時(shí)對(duì)元件的4參數(shù)進(jìn)行測(cè)試，每種參數(shù)都可任意配置，實(shí)現(xiàn)主副四參數(shù)全6位顯示，可掃描10種頻率或電平列表，還可對(duì)3組用戶頻率進(jìn)行校正，提高準(zhǔn)確度。
	AT3817A精密100KHz數(shù)字電橋LCR	AT3817A 采用10Hz～100kHz連續(xù)頻點(diǎn)，分辨率為0.001Hz。測(cè)試信號(hào)電平0.01Vrms～2.00Vrms，100.0μA- 20.00mA，純直流信號(hào)源的DCR測(cè)量以及內(nèi)部直流偏壓±2.5V，同時(shí)可選外部偏置 AT3817A可同時(shí)對(duì)元件的4參數(shù)進(jìn)行測(cè)試，每種參數(shù)都可任意配置，實(shí)現(xiàn)主副四參數(shù)全6位顯示，可掃描10種頻率或電平列表，還可對(duì)3組用戶頻率進(jìn)行校正，提高準(zhǔn)確度。
	AT3816A精密200KHz數(shù)字電橋LCR	AT3816A 測(cè)試頻率采用10Hz～200kHz連續(xù)頻點(diǎn)，分辨率為0.01Hz。測(cè)試信號(hào)電平0.01Vrms～2.00Vrms（10mV步進(jìn)），##采用純直流信號(hào)DCR測(cè)量，內(nèi)部直流偏壓(DC BIAS, ±2.5V)
	AT3810A精密20KHz測(cè)試儀LCR	AT3810A采用真彩TFT-LCD顯示，全中文操作界面(可配置成英文界面)。采用大字體顯示，讀數(shù)更加直觀,用于實(shí)驗(yàn)室質(zhì)量控制，進(jìn)料檢驗(yàn)以及元器件分選，ATAT3810A為10Hz～20kHz連續(xù)頻點(diǎn)，分辨率為0.001Hz。測(cè)試信號(hào)電平0.01Vrms～2.00Vrms（10mV步進(jìn)），相對(duì)于AT28系列增加了DCR測(cè)量以及內(nèi)部直流偏壓(DC BIAS, ±2.5V)
	AT2818精密300KHz數(shù)字電橋LCR	AT2818 采用了真彩 TFT-LCD，全中文操作界面(可配置成英文界面)，使用安柏儀器實(shí)時(shí)操作系統(tǒng) ATOSv4，菜單軟鍵操作，全數(shù)字鍵盤(pán)，使儀器操作簡(jiǎn)單但處理功能強(qiáng)大。 AT2818可同時(shí)對(duì)元件的4參數(shù)進(jìn)行測(cè)試，每種參數(shù)都可任意配置，全新改進(jìn)后的儀器，實(shí)現(xiàn)主副四參數(shù)全6位顯示，可掃描10種頻率或電平列表，還可對(duì)3組用戶頻率進(jìn)行校正，提高準(zhǔn)確度。
	AT2817A精密100KHz數(shù)字電橋LCR	AT2817A采用了ARM處理器，真彩 TFT-LCD，全中文操作界面(可配置成英文界面)，使儀器操作簡(jiǎn)單但處理能力強(qiáng)大。 AT2817A可同時(shí)對(duì)元件的4參數(shù)進(jìn)行測(cè)試，每種參數(shù)都可任意配置，全新改進(jìn)后的儀器，實(shí)現(xiàn)主副四參數(shù)全6位顯示，可掃描10種頻率或電平列表，還可對(duì)3組用戶頻率進(jìn)行校正，提高準(zhǔn)確度。儀器具有50Hz～100kHz，連續(xù)測(cè)試頻率（分辨率0.001Hz)，0.01V至2.00V的任意測(cè)試電平，可設(shè)置256次平均。
	AT2817精密100KHz數(shù)字電橋LCR	AT2817 采用高性能處理器，使用真彩色LCD屏幕的智能LCR測(cè)試儀器。依賴于安柏精湛的技術(shù)，使其性能無(wú)可挑剔。內(nèi)建50Hz~100kHz 16點(diǎn)測(cè)試頻率，并且提供0.1V,0.3V和1.0V的測(cè)試電平，使其能完全滿足多數(shù)生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)的使用。使用安柏實(shí)時(shí)儀器操作系統(tǒng)，全中文菜單界面，使AT2817具有傻瓜式操作界面。
	AT2816B精密200KHz數(shù)字電橋LCR	AT2816B采用了ARM處理器，真彩 TFT-LCD，全中文操作界面(可配置成英文界面)，使儀器操作簡(jiǎn)單但處理能力強(qiáng)大。 AT2816B可同時(shí)對(duì)元件的4參數(shù)進(jìn)行測(cè)試，每種參數(shù)都可任意配置，全新改進(jìn)后的儀器，實(shí)現(xiàn)主副四參數(shù)全6位顯示，可掃描10種頻率或電平列表，還可對(duì)3組用戶頻率進(jìn)行校正，提高準(zhǔn)確度。儀器具有50Hz～200kHz測(cè)試頻率，選取其中33個(gè)重要頻點(diǎn)，0.01V至2.00V的任意測(cè)試電平，可設(shè)置256次平均。
	AT2816A精密200KHz數(shù)字電橋	AT2816A采用了ARM處理器，真彩 TFT-LCD，全中文操作界面(可配置成英文界面)，使儀器操作簡(jiǎn)單但處理能力強(qiáng)大。 AT2816A可同時(shí)對(duì)元件的4參數(shù)進(jìn)行測(cè)試，每種參數(shù)都可任意配置，全新改進(jìn)后的儀器，實(shí)現(xiàn)主副四參數(shù)全6位顯示，可掃描10種頻率或電平列表，還可對(duì)3組用戶頻率進(jìn)行校正，提高準(zhǔn)確度。
	AT2811數(shù)字電橋	AT2811是通用LCR數(shù)字電橋，是經(jīng)濟(jì)型微型臺(tái)式儀器。測(cè)試頻率： 100Hz，120Hz，1kHz和10kHz，0.1V、0.3V 和 1V 電平可選，30Ω、100Ω源內(nèi)阻可選。儀器可自動(dòng)測(cè)量電感量 L、電容量 C、電阻值 R、復(fù)阻抗 Z、品質(zhì)因數(shù) Q、損耗角正切值 D。 AT2811具有很高的性價(jià)比，傻瓜式的操作界面，可輕松滿足各元件廠家、學(xué)校等進(jìn)行常規(guī)測(cè)量，同時(shí)也可以滿足產(chǎn)線批量生產(chǎn)的要求。儀器內(nèi)置分選功能，具有五檔分選顯示及分選訊響設(shè)置。
	AT610D電容測(cè)試儀	AT610D 采用高能處理器，使用高亮彩色VFD屏幕的智能電容測(cè)試儀。內(nèi)建100Hz、120Hz、1kHz和10kHz測(cè)試頻率，并且提供0.1V、0.3V和1V測(cè)試電平，使其能完全滿足一般生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)的使用。
	磁導(dǎo)率測(cè)試方案	測(cè)試頻率范圍：20Hz—120MHz 基本測(cè)試精度：0.05% 無(wú)需在磁環(huán)上纏繞漆包線或絲包線