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重慶內藤機械設備有限公司
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光譜儀器 | 分析儀器

產品圖片	產品名稱/型號	產品簡單介紹
	功能齊全重慶內藤銷售 ELSZ-2000ZS 顆粒分子量測定系統(tǒng) OTSUKA大塚電子 ELSZ-2000ZS	對應于粒徑測量范圍（0.6 nm至10μm）和濃度范圍（0.00001％至40％）。*小容量為13 功能齊全重慶內藤銷售 ELSZ-2000ZS 顆粒分子量測定系統(tǒng) OTSUKA大塚電子 0μL的一次性電池可以進行測量，從而可以測量電滲流和高度準確的ζ電位測量。功能齊全重慶內藤銷售 ELSZ-2000ZS 顆粒分子量測定系統(tǒng) OTSUKA大塚電子
	功能齊全重慶內藤銷售 SF-3 光譜干涉式晶圓測厚儀 OTSUKA大塚電子 SF-3	配備原裝分析引擎功能齊全重慶內藤銷售 SF-3 光譜干涉式晶圓測厚儀 OTSUKA大塚電子采用獨特的厚度測量*佳分析算法功能齊全重慶內藤銷售 SF-3 光譜干涉式晶圓測厚儀 OTSUKA大塚電子厚度分布可以自動映射
	功能齊全重慶內藤銷售 FE-5000 光譜橢偏儀 OTSUKA大塚電子 FE-5000	除了能夠進行高精度薄膜分析的分光橢圓偏振光譜儀之外，還可以通過安裝測量角度的自功能齊全重慶內藤銷售 FE-5000 光譜橢偏儀 OTSUKA大塚電子動可變機構來支持各種薄膜。除了傳統(tǒng)的旋轉分析儀方法之外，通過提供相位差板的自動功能齊全重慶內藤銷售 FE-5000 光譜橢偏儀 OTSUKA大塚電子回縮機構來提高測量精度。
	功能齊全重慶內藤銷售 FE-300V 薄膜厚度監(jiān)視器 OTSUKA大塚電子 FE-300V	對應于從薄膜到厚膜的寬膜厚度功能齊全重慶內藤銷售 FE-300V 薄膜厚度監(jiān)視器 OTSUKA大塚電子使用反射光譜的厚度分析功能齊全重慶內藤銷售 FE-300V 薄膜厚度監(jiān)視器 OTSUKA大塚電子結構緊湊·成本低，但非接觸式，非破壞性和高度**的測量簡單的條件設置和測量操作！易于測量任何人的膜厚度

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