四川成都供應日本SSD衰減測定器H0110

SSD H-0110帶電電荷衰減度測試器產(chǎn)品說明：

1：本裝置是依據(jù)編織物及針織品之帶電性測試方法JIS L1094-1980的半衰期測定器。

2： 就試料的帶電方法而言,由于采用電暈(corona)放電產(chǎn)生之空氣離子的照射,依選擇電暈(corona)放電的極性及印加電壓,測試可帶任一正、負電,電壓值也可改變。 

3： 帶電方法並非靠摩擦,因此不需損壞試料,可正確且測定帶電記錄。

4：電暈(corona)放電方式比起摩擦帶電方式、電壓直接印加方式,再現(xiàn)性良好,因此可與其他試料比較。 

5：如有薄膜(film)、板子、絲線、地毯、玻璃等薄狀試料的話,可全部測定。