原裝日本NoiseKen ESS-6008 8KV 靜電放電發(fā)生器 含原裝靜電槍
ESS-6008半導(dǎo)體器件靜電放電模擬試驗器,靜電是沿著物體移動而產(chǎn)生,而物體包含正、負(fù)電的電配置,當(dāng)其配置失序,而傾向為一個極性時,靜電即產(chǎn)生,這個現(xiàn)象就稱為”帶電”,“帶電”主要是因為接觸,磨擦及剝落而產(chǎn)生;同時,靜電還有另一種現(xiàn)象稱為”感應(yīng)帶電”。此外,盡管有些時候,當(dāng)脫下毛線衣及在干燥狀態(tài)下接觸車輛門把時???能會有火花產(chǎn)生而也稱為靜電,正確地說,它應(yīng)該稱為”靜電放電(ESD)”。
ESS-6008半導(dǎo)體器件靜電放電模擬試驗器國內(nèi)又叫做日本NOISEKEN ESS-6002/ESS-6008 LED靜電分析儀，即可以測試人體和機(jī)械兩種模式的靜電測試儀。而在當(dāng)下LED行業(yè)發(fā)展迅猛，很多企業(yè)又將之稱做LED靜電分析儀。日本NOISEKEN的ESS-6002/ESS-6008半導(dǎo)體器件靜電放電模擬發(fā)生器已經(jīng)生產(chǎn)10多年，*高機(jī)械模式可以達(dá)到8KV,并已經(jīng)得到各行業(yè)的廣泛認(rèn)可。相比國內(nèi)的一些剛生產(chǎn)一年左右的產(chǎn)品來說，穩(wěn)定性、精密性、認(rèn)可度優(yōu)勢已十分明顯。作為專業(yè)從事EMC設(shè)備研發(fā)與生產(chǎn)，和相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的制定者，NOISEKEN的ESS-6002/ESS-6008以它的**功能被廣泛認(rèn)可。
在我們?nèi)粘Ｉ钪?僅僅只是穿鞋及走在地毯上,很容易就可產(chǎn)生30kV靜電?！癗oiseKen”ESD模擬試驗器(ESS-S3011/ESS-B3011/ESS-L1611)可再現(xiàn)及模擬來自帶電人體的ESD,用意是要測試電子設(shè)備在ESD影響下是否能正確地操作或發(fā)生故障?而且,模擬試驗器符合由IEC國際電工委員會標(biāo)準(zhǔn)化的IEC61000-4-2標(biāo)準(zhǔn)。而用于測試電子組件如半導(dǎo)體的ESD模擬試驗器,有ESS-6008(請參考目錄上之合格標(biāo)準(zhǔn))。發(fā)生故障的過程是,當(dāng)ESD發(fā)生到一電子設(shè)備時,表面電流在體表流動,而電位上升,結(jié)果,GND的電位變動,而接著產(chǎn)生電/磁雜訊,噪聲流到內(nèi)部與電路耦合,因此,造成故障(請參下圖)。 由于這個現(xiàn)象可輕易地頻繁產(chǎn)生,因此,對電子設(shè)備進(jìn)行測試乃是必須的。
特 點
考查實際上給電子設(shè)備安裝半導(dǎo)體元件時，半導(dǎo)體元件所受到的抗靜電破壞能力的靜電試驗器。
半導(dǎo)體元件因受靜電可能發(fā)生內(nèi)部配線，絕緣膜的熔斷，破壞等而導(dǎo)致產(chǎn)品特性裂化，誤動作的現(xiàn)象。
對于此靜電破壞試驗，只需利用1 臺弊司小型ESS-600X 更換探頭就可簡單實行人體帶電型，機(jī)器帶電型的試驗。還有，可用選件中的精密型支架可對超細(xì)密間距元件做半自動的試驗。
*適合用于進(jìn)行LED,LCD, 光元件等電子部品的靜電破壞耐性試驗。
精密型支架
· 可做*高輸出電壓±8KV 試驗（ESS-6008）
· 可做出留有余量的試驗
· 可對各種間距的受測元件進(jìn)行靜電施加試驗
· 可搭配精密測臺，以半自動（Y 軸）的腳位移動而正確的對待
· 測物施加靜電
· 可做*低試驗電壓±10V 的試驗（ESS-6002）
· 對于低電壓驅(qū)動元件的評價可從10V 開始以1V 的步長予施加
· 可對應(yīng)規(guī)格
對應(yīng)標(biāo)準(zhǔn)
人體模型試驗 (HBM)
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機(jī)械模型試驗 (MM)
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AEC-Q100-002-Rev.D Jul.2003
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AEC-Q100-003-REV-E Jul.2003
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ESDA ANSI/EOS/ESD-STM5.1-2001
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ESDA ANSI/ESD STM5.2-1999
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IEC 61340-3-1Ed.1.0 2002
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IEC 61340-3-2 Ed.1.0-2002
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IEC 60749-26 Ed.1.0 2003
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IEC 60749-27 Ed.1.0 2003
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JEDEC JESD22-A114E Jan 2007
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JEDEC JESD22-A115A Oct.1997
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JEITA EIAJ ED-4701/300 Aug.2001 Test Method304
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JEITA EIAJ ED-4701/300 Aug.2001
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MIL-STD-883G Method 3015.7 Mar.1989
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規(guī)格
半導(dǎo)體器件靜電放電模擬試驗器 (ESS-6002/ESS-6008)
項目
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功能/性能
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ESS-6002
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ESS-6008
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輸出電壓
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10～2000V±10％（ESS-6002） 1V步進(jìn)
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100～8000V±10％（ESS-6008） 10V步進(jìn)
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輸出極性
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正或負(fù)
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重復(fù)周期
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0.3～99s±10％
到10s為止0.1s步進(jìn) 10s以后1s步進(jìn)
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放電次數(shù)
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1～99次/連續(xù)
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Automatic output voltage ramping
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Available
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尺寸
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（W）340×(H)×199×（D）300mm（不含突起部分）
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尺寸
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約6kg
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簡易型探針臺 <18-00075A>
項目
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功能/性能
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尺寸/重量（探針臺主機(jī)）
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(W)200×(H)330×(D)290mm/約1.5kg
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尺寸/重量（簡易放電板）
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(W)100×(H)27×(D)180mm（不含突起部）/約200g
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鉗口尺寸
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110mm
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其他
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POM造V型部件1個 標(biāo)準(zhǔn)附件
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半自動精密型探針臺 <18-00076A>
由于半自動精密型探針臺的*小分辨率為0.01mm，所以可以簡單地對毫米間距和英寸間距等極小間距的半導(dǎo)體進(jìn)行試驗
項目
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功能/性能
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尺寸/重量
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(W)250×(H)400×(D)300mm/約7kg
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可對應(yīng)IC
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*大尺寸：40mm角 *小導(dǎo)線間距：0.4mm
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X軸
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手動 移動量：20mm ×燕尾槽、進(jìn)給螺桿
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Y軸
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電動（*大速度：13mm/s）移動量：40mm（Y分辨率：0.01mm）*步進(jìn)馬達(dá)&滾珠螺桿
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θ軸
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手動 移動量：360°
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Z axis
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手動 移動量：20mm *內(nèi)置彈簧下壓式
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回原點
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手動
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