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第6年
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-
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產(chǎn)品詳情
簡(jiǎn)單介紹：
德國(guó)EPK涂層測(cè)厚儀MiniTest1100 測(cè)厚儀 在選擇*適用的探頭時(shí)需要考慮覆層厚度，基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。 德國(guó)EPK涂層測(cè)厚儀MiniTest1100 測(cè)厚儀
詳情介紹：
德國(guó)EPK涂層測(cè)厚儀MiniTest1100
德國(guó)EPK涂層測(cè)厚儀MiniTest1100 測(cè)厚儀
MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機(jī)，各自具有不同的數(shù)據(jù)處理功能；
所有型號(hào)均可配所有探頭；
可通過(guò)RS232接口連接MiniPrint打印機(jī)和計(jì)算機(jī)；
可使用一片或二片標(biāo)準(zhǔn)箔校準(zhǔn)。
德國(guó)EPK涂層測(cè)厚儀MiniTest1100 測(cè)厚儀
德國(guó)EPK涂層測(cè)厚儀MiniTest1100 測(cè)厚儀
| 型號(hào) |
1100
|
2100
|
3100
|
4100
|
| MINITEST 存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)量 | ||||
| 應(yīng)用行數(shù)(根據(jù)不同探頭或測(cè)試條件而記憶的校準(zhǔn)基礎(chǔ)數(shù)據(jù)數(shù)) |
1
|
1
|
10
|
99
|
| 每個(gè)應(yīng)用行下的組(BATCH)數(shù)(對(duì)組內(nèi)數(shù)據(jù)自動(dòng)統(tǒng)計(jì)，可設(shè)寬容度極限值) |
-
|
1
|
10
|
99
|
| 可用各自的日期和時(shí)間標(biāo)識(shí)特性的組數(shù) |
-
|
1
|
500
|
500
|
| 數(shù)據(jù)總量 |
1
|
10000
|
10000
|
10000
|
| MINITEST統(tǒng)計(jì)計(jì)算功能 | ||||
| 讀數(shù)的六種統(tǒng)計(jì)值x,s,n,max,min,kvar |
-
|
√
|
√
|
√
|
| 讀數(shù)的八種統(tǒng)計(jì)值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk |
-
|
-
|
√
|
√
|
| 組統(tǒng)計(jì)值六種x,s,n,max,min,kvar |
-
|
-
|
√
|
√
|
| 組統(tǒng)計(jì)值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk |
-
|
-
|
√
|
√
|
| 存儲(chǔ)顯示每一個(gè)應(yīng)用行下的所有組內(nèi)數(shù)據(jù) |
-
|
-
|
-
|
√
|
| 分組打印以上顯示和存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)和統(tǒng)計(jì)值 |
-
|
-
|
√
|
√
|
| 顯示并打印測(cè)量值、打印的日期和時(shí)間 |
-
|
√
|
√
|
√
|
| 其他功能 | ||||
| 透過(guò)涂層進(jìn)行校準(zhǔn)(CTC) |
-
|
√
|
√
|
√
|
| 在粗糙表面上作平均零校準(zhǔn) |
√
|
√
|
√
|
√
|
| 利用計(jì)算機(jī)進(jìn)行基礎(chǔ)校準(zhǔn) |
√
|
√
|
√
|
√
|
| 補(bǔ)償一個(gè)常數(shù)(Offset) |
-
|
-
|
√
|
√
|
| 外設(shè)的讀值傳輸存儲(chǔ)功能 |
-
|
√
|
√
|
√
|
| 保護(hù)并鎖定校準(zhǔn)設(shè)置 |
√
|
√
|
√
|
√
|
| 更換電池是存儲(chǔ)數(shù)值 |
√
|
√
|
√
|
√
|
| 設(shè)置極限值 |
-
|
-
|
√
|
√
|
| 公英制轉(zhuǎn)換 |
√
|
√
|
√
|
√
|
| 連續(xù)測(cè)量模式快速測(cè)量，通過(guò)模擬柱識(shí)別*大*小值 |
-
|
-
|
√
|
√
|
| 連續(xù)測(cè)量模式中測(cè)量穩(wěn)定后顯示讀數(shù) |
-
|
-
|
√
|
√
|
| 浮點(diǎn)和定點(diǎn)方式數(shù)據(jù)傳送 |
√
|
√
|
√
|
√
|
| 組內(nèi)單值延遲顯示 |
-
|
√
|
√
|
√
|
| 連續(xù)測(cè)量模式中顯示*小值 |
√
|
√
|
√
|
√
|
德國(guó)EPK涂層測(cè)厚儀MiniTest1100 測(cè)厚儀
可選探頭參數(shù)(探頭圖示)
所有探頭都可配合任一主機(jī)使用。在選擇*適用的探頭時(shí)需要考慮覆層厚度，基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
F型探頭：測(cè)量鋼鐵基體上的非磁性覆層
N型探頭：測(cè)量有色金屬基體上的絕緣覆層
FN兩用探頭：同時(shí)具備F型和N性探頭的功能
|
探頭
|
量程
|
低端
分辨率 |
誤差
|
*小曲率
半徑(凸/凹) |
*小測(cè)量
區(qū)域直徑 |
*小基
體厚度 |
探頭尺寸
|
|
|
磁
感 應(yīng) 法 |
F05
|
0-500μm
|
0.1μm
|
±(1%±0.7μm)
|
1/5mm
|
3mm
|
0.2mm
|
φ15x62mm
|
|
F1.6
|
0-1600μm
|
0.1μm
|
±(1%±1μm)
|
1.5/10mm
|
5mm
|
0.5mm
|
φ15x62mm
|
|
|
F1.6/90
|
0-1600μm
|
0.1μm
|
±(1%±1μm)
|
平面/6mm
|
5mm
|
0.5mm
|
φ8x170mm
|
|
|
F3
|
0-3000μm
|
0.2μm
|
±(1%±1μm)
|
1.5/10mm
|
5mm
|
0.5mm
|
φ15x62mm
|
|
|
F10
|
0-10mm
|
5μm
|
±(1%±10μm)
|
5/16mm
|
20mm
|
1mm
|
φ25x46mm
|
|
|
F20
|
0-20mm
|
10μm
|
±(1%±10μm)
|
10/30mm
|
40mm
|
2mm
|
φ40x66mm
|
|
|
F50
|
0-50mm
|
10μm
|
±(3%±50μm)
|
50/200mm
|
300mm
|
2mm
|
φ45x70mm
|
|
|
兩
用 |
FN1.6
|
0-1600μm
|
0.1μm
|
±(1%±1μm)
|
1.5/10mm
|
5mm
|
F0.5mm
N50μm |
φ15x62mm
|
|
FN1.6P
|
0-1600μm
|
0.1μm
|
±(1%±1μm)
|
平面
|
30mm
|
F0.5mm
N50μm |
φ21x89mm
|
|
|
FN2
|
0-2000μm
|
0.2μm
|
±(1%±1μm)
|
1.5/10mm
|
5mm
|
F0.5mm
N50μm |
φ15x62mm
|
|
|
電
渦 流 法 |
N02
|
0-200μm
|
0.1μm
|
±(1%±0.5μm)
|
1/10mm
|
2mm
|
50μm
|
φ16x70mm
|
|
N.08Cr
|
0-80μm
|
0.1μm
|
±(1%±1μm)
|
2.5mm
|
2mm
|
100μm
|
φ15x62mm
|
|
|
N1.6
|
0-1600μm
|
0.1μm
|
±(1%±1μm)
|
1.5/10mm
|
2mm
|
50μm
|
φ15x62mm
|
|
|
N1.6/90
|
0-1600μm
|
0.1μm
|
±(1%±1μm)
|
平面/10mm
|
5mm
|
50μm
|
φ13x170mm
|
|
|
N10
|
0-10mm
|
10μm
|
±(1%±25μm)
|
25/100mm
|
50mm
|
50μm
|
φ60x50mm
|
|
|
N20
|
0-20mm
|
10μm
|
±(1%±50μm)
|
25/100mm
|
70mm
|
50μm
|
φ65x75mm
|
|
|
N100
|
0-100mm
|
100μm
|
±(1%±0.3mm)
|
100mm/平面
|
200mm
|
50μm
|
φ126x155mm
|
|
|
CN02
|
10-200μm
|
0.2μm
|
±(1%±1μm)
|
平面
|
7mm
|
無(wú)限制
|
φ17x80mm
|
|
| 注： |
F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭，用于管內(nèi)測(cè)量。 N.08Cr適合銅上鉻，F(xiàn)N2也適合銅上鉻。 CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層。 |
德國(guó)EPK涂層測(cè)厚儀MiniTest1100 測(cè)厚儀
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