TT220涂層測(cè)厚儀的校準(zhǔn)方法
發(fā)布時(shí)間：2013-11-20
讓TT220涂層測(cè)厚量測(cè)精度,量測(cè)在地方校準(zhǔn)TT220涂層測(cè)厚。
一、校準(zhǔn)指標(biāo)TT220塊(包括箔和襯底)
已知厚度的鋁箔層厚度的樣品是已知的或可作為校準(zhǔn)指標(biāo)。以下簡(jiǎn)稱指標(biāo)。
⒈ 校準(zhǔn)箔
對(duì)于TT220涂層測(cè)厚“襯托”指的是箔或非金屬或墊片?！耙r托”校準(zhǔn)表面上。
2。覆蓋指標(biāo)塊
利用已知的、統(tǒng)一的、與基體牢固結(jié)合封面作為指標(biāo)。針對(duì)儀表、涂料應(yīng)磁。
**,矩陣的TT220涂層測(cè)厚
⒈ 對(duì)于TT220涂層測(cè)厚指標(biāo)基體金屬的磁性和表面粗糙度,測(cè)試應(yīng)該保持與基質(zhì)金屬磁和表面粗糙度是相似的。為了證實(shí)的適用性指標(biāo)片,可用指標(biāo)塊襯底和測(cè)試下比較量測(cè)讀數(shù)在襯底。
2。如果在試樣厚度的賤金屬不超過臨界厚度參數(shù)中指定的表,校準(zhǔn)可以采用以下兩種方法:
1)在矩陣與被測(cè)試件相同的金屬芯片上的校準(zhǔn)指標(biāo);
2)有足夠的厚度、電或磁特性類似于金屬墊片指標(biāo)或標(biāo)本,但它必須在賤金屬和襯金屬?zèng)]有間隙。在雙方有包層標(biāo)本,不能使用襯法。
3。如果曲率的涂料在測(cè)試達(dá)到了校準(zhǔn)不能在飛機(jī)上,有覆蓋層的曲率的指標(biāo)片或曲率的基質(zhì)金屬在校準(zhǔn)襯托,應(yīng)采用與曲率的標(biāo)本。
三、校準(zhǔn)方法
TT220涂層測(cè)厚,有兩種校準(zhǔn)方法,量測(cè)的零校準(zhǔn);兩個(gè)點(diǎn)校準(zhǔn);還有一個(gè)基本校準(zhǔn)的量測(cè)頭。
⒈ TT220涂層測(cè)厚的零點(diǎn)校準(zhǔn)
a .量測(cè)在襯底,儀表顯示< *。*畝m >。
b .單擊“/ C”鍵,屏幕是< 0.00μm >零校準(zhǔn)完成。
c .**校準(zhǔn)零,請(qǐng)重復(fù)上述a和b獲得矩陣量測(cè)值小于1μm,它有利于提高量測(cè)精度。完成后的零點(diǎn)校準(zhǔn)可以量測(cè)。這兩個(gè)點(diǎn)校準(zhǔn)TT220涂層測(cè)厚