無損檢測(cè)之常規(guī)涂層測(cè)厚儀的原理
發(fā)布時(shí)間：2013-11-19
無損檢查原理的傳統(tǒng)涂層測(cè)厚儀對(duì)材料表面保護(hù)和裝飾涂層的形成,如涂料、涂料、涂料、粘層、化學(xué)膜等,相關(guān)國(guó)家和國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)稱為包層(涂料)。
涂層厚度量測(cè)已成為加工工業(yè)、表面工程的一個(gè)重要組成部分,是至關(guān)重要的質(zhì)量檢查手段,產(chǎn)品達(dá)到上等標(biāo)準(zhǔn)。使產(chǎn)品國(guó)際化,我國(guó)出口商品和外國(guó)項(xiàng)目,有一個(gè)明確的要求涂膜厚度。
涂層厚度量測(cè)方案主要包括:楔形掏槽法、光斷面法、電解方案,厚度差量測(cè)法和稱重法、x射線熒光、β反向散射方案,電容法,磁法和渦流量測(cè)方案等。這些方案前五名的是損傷檢查、量測(cè)手段繁瑣,速度慢,更適合抽樣檢驗(yàn)。X射線和β射線法是無損量測(cè)沒有接觸,但復(fù)雜的,昂貴的,小的量測(cè)范圍。由于放射性源,用戶必須遵守輻射防護(hù)規(guī)定。X射線法可以量測(cè)極薄的涂層,雙電鍍、合金電鍍。β射線法適用于涂膜和襯底原子序數(shù)大于3的量測(cè)。的絕緣電容方案只在薄薄的導(dǎo)電涂層厚度時(shí)使用。
隨著科技的日益進(jìn)步,特別是在引入計(jì)算機(jī)技術(shù)在近年來,隨著磁法和電渦流測(cè)厚儀的方案對(duì)小、智能化、多功能、高精密,一步一實(shí)用的方向。量測(cè)分辨率已達(dá)0.1微米,精度可以達(dá)到1%有明顯改善。它的適用范圍廣,范圍廣泛,操作簡(jiǎn)單,價(jià)格低廉,是應(yīng)用*廣泛的工業(yè)和科學(xué)研究厚度儀器。
非破壞性方案既不破壞包層或破壞基材、快速檢查,可以使大量的測(cè)試工作在經(jīng)濟(jì)上。